[发明专利]光纤式光学外差法倏逝波腔衰荡光谱分析装置无效
申请号: | 200810060206.8 | 申请日: | 2008-03-31 |
公开(公告)号: | CN101281126A | 公开(公告)日: | 2008-10-08 |
发明(设计)人: | 高秀敏;王健 | 申请(专利权)人: | 杭州电子科技大学 |
主分类号: | G01N21/39 | 分类号: | G01N21/39;G01N21/25 |
代理公司: | 杭州求是专利事务所有限公司 | 代理人: | 张法高 |
地址: | 310018浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光纤 光学 外差 法倏逝波腔衰荡 光谱分析 装置 | ||
1、光纤式光学外差法倏逝波腔衰荡光谱分析装置,包括探测部件、光纤、光电探测器、分光镜和激光光源,其特征在于所述的探测部件为对称结构的柱体或半球体,内部形成光反射腔,外表面镀有高反射膜,探测部件光纤耦合准直器与探测部件位置配合;激光光源和分光镜光纤耦合准直器分别设置在分光镜的两侧,激光光源的发射光方向与分光镜的工作面的夹角为45°,分光镜光纤耦合准直器设置在发射光方向上;光电探测器与分光镜光纤耦合准直器设置在分光镜的工作面的同一侧面,并且设置在分光镜的反射光方向上;探测部件光纤耦合准直器与分光镜光纤耦合准直器通过光纤连接。
2、如权利要求1所述的光纤式光学外差法倏逝波腔衰荡光谱分析装置,其特征在于所述的探测部件为截面呈半圆形的柱体,柱体的弧面镀有高反射膜;探测部件光纤耦合准直器设置在半圆形的径向方向上。
3、如权利要求1所述的光纤式光学外差法倏逝波腔衰荡光谱分析装置,其特征在于所述的探测部件为截面呈等腰三角形的柱体,柱体的等腰面镀有高反射膜;探测部件光纤耦合准直器与等腰三角形一边的腰平行设置。
4、如权利要求1所述的光纤式光学外差法倏逝波腔衰荡光谱分析装置,其特征在于所述的半球体的探测部件的弧面镀有高反射膜;探测部件光纤耦合准直器设置在半球体的径向方向上。
5、如权利要求1所述的光纤式光学外差法倏逝波腔衰荡光谱分析装置,其特征在于所述的分光镜为分光棱镜;光纤为单模光纤、多模光纤、光纤束中的一种。
6、如权利要求1所述的光纤式光学外差法倏逝波腔衰荡光谱分析装置,其特征在于所述的分光镜为偏振分光棱镜,偏振分光棱镜与分光镜光纤耦合准直器之间设置有四分之一波片,四分之一波片的光轴方向与偏振分光棱镜的出射光偏振方向的夹角为45°;所述的光纤为保偏光纤。
7、如权利要求1所述的光纤式光学外差法倏逝波腔衰荡光谱分析装置,其特征在于所述的光电探测器为光电二极管、雪崩管、光电倍增管中的一种。
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