[发明专利]一种无线链路环回测试的方法及其装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种移动通信技术中的测试方法和装置，更具体的说，是一种用环回测试方法来测试接收通道功能和性能的方法及其装置。

背景技术

随着无线技术的高速发展，无线通讯产品逐渐成为人们日常工作和生活中必不可少的工具，为了快速推出产品，必须快速测试与调试无线产品。

目前无线产品接收链路有两种方法：一种是BS(Base Station，基站)与终端设备联合测试，通过终端设备来测试产品的性能，如图1所示，终端发射接收信号到待测设备的接收端口，接收信号经过射频接收通道，ADC(模数转换器)，FPGA(现场可编程逻辑芯片)，Baseband(基带)，在基带中统计性能；该装置和方法的缺点是必须等终端设备和基带都完成后才能开始测试，不能定量分析接收链路性能，在并行开发中不能保证开发进度，不能定量的分析链路性能。

另一种方法见图2所示，是信号源发射接收信号到待测设备的接收端口，接收信号经过射频接收通道，ADC，FPGA，Baseband设备，在基带中统计灵敏度。该装置和方法的缺点是必须等基带调试完成后才能测试灵敏度等性能，不能快速定位链路的问题。

因此，现有技术存在缺陷，而有待于改进和发展。

发明内容

本发明的目的在于提供一种无线链路环回测试的方法及其装置，可快速测试无线设备，快速判断射频、中频、ADC等通道性能。

本发明采用以下技术方案：

一种无线链路环回测试的方法，其包括如下步骤：

A、信号源输出的信号输入到待测设备的接收通道，进行下变频处理，通过一模数转换器采样，以及环回处理单元用于抽取、滤波，并将数据环回到发射通道；

B、对从所述环回处理单元环回的数据进行内插、滤波，发送到数模转换器，上变频到射频信号，通过所述发射通道送到矢量信号分析仪进行解调后分析。

所述的方法，其中，所述环回处理单元为现场可编程逻辑芯片。

所述的方法，其中，所述环回处理单元为DSP模块。

所述的方法，其中，所述矢量信号分析仪用于分析被测信号的射频性能，所述射频性能包括链路增益、EVM、平坦度。

所述的方法，其中，所述信号源输入灵敏度信号时，所述矢量信号分析仪用于分析得到待测设备的灵敏度。

所述的方法，其中，所述信号源发射802.16E调制信号时，所述模数转换器对中频信号进行采样，其中中频频率f_IF与采样频率f_S的关系为fIF=(2n+1)4fS,]]>n为计数自然数。

一种无线链路环回测试的装置，其中，包括依次连接的接收通道、模数转换器、环回处理单元、数模转换器、发射通道；所述接收通道用于连接一外部的信号源；所述发射通道连接一外部的矢量信号分析仪；以及一CPU，与所述环回处理单元相连接；所述环回处理单元用于对所述接收通道的射频信号进行抽取、滤波，并将数据环回到发射通道；所述CPU用于对接收通道和发射通道以及模数转换器、数模转换器的配数；所述发射通道发射信号给所述矢量信号分析仪以得到射频通道的性能。

所述的装置，其中，所述模数转换器用于对所述接收通道的射频信号进行下变频处理；所述数模转换器用于对所述环回处理单元输出的环回信号上变频到射频信号。

所述的装置，其中，所述环回处理单元为现场可编程逻辑芯片。

所述的装置，其中，所述环回处理单元为DSP模块。

与现有技术相比，本发明所提供的一种无线链路环回测试的方法及其装置，由于采用从FPGA/DSP模块处环回的方式，用仪器直接测试链路性能，避免了通过复杂的基带处理来实现链路的检测，提高了测试效率，大大缩短了开发周期，降低了系统开发的难度，并提高了系统的可靠性。

附图说明

图1是现有技术直接采用实际的通信系统测试链路性能的结构示意图；

图2是现有技术采用基带处理来计算链路性能的结构示意图；

图3是本发明采用的从FPGA环回来测试链路的示意图。