[发明专利]一种利用改变激励模式来实现不同方式电磁检测的方法有效
申请号: | 200810070765.7 | 申请日: | 2008-03-13 |
公开(公告)号: | CN101281168A | 公开(公告)日: | 2008-10-08 |
发明(设计)人: | 林俊明 | 申请(专利权)人: | 林俊明 |
主分类号: | G01N27/82 | 分类号: | G01N27/82 |
代理公司: | 厦门市首创君合专利事务所有限公司 | 代理人: | 李雁翔;连耀忠 |
地址: | 361004福建省厦门市湖滨南路5*** | 国省代码: | 福建;35 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 利用 改变 激励 模式 实现 不同 方式 电磁 检测 方法 | ||
1.一种利用改变激励模式来实现不同方式电磁检测的方法,其特征在于:是将检测线圈的激励绕组和检测绕组分别缠绕在棒式铁磁芯上来作为传感器对被测构件进行检测感应,检测线圈的激励绕组由任意波形发生器所产生的正弦波激励信号、方波激励信号、高占空比的脉冲信号的其中一种信号的单一激励或二种、三种信号的分时激励;
其中,所施加的正弦波激励信号,其最大幅值应使铁磁芯线圈的磁化达到不饱和状态,对应于正弦波激励,检测线圈的检测绕组所拾取的信号经放大、相敏检波、滤波处理、A/D转换后由计算机处理系统的涡流信号处理单元进行分析处理,得出被测构件缺陷的涡流检测分析结果;
所施加的方波激励信号,其幅值使铁磁芯线圈的磁化达到接近饱和状态,对应于方波激励,检测线圈的检测绕组所拾取的信号经放大、滤波处理、A/D转换后由计算机处理系统的漏磁信号处理单元进行分析处理,得出被测构件缺陷的漏磁检测分析结果;
所施加的高占空比的脉冲信号,其幅值使铁磁芯线圈的磁化达到过饱和状态,对应于高占空比的脉冲激励,检测线圈的检测绕组所拾取的信号经放大、滤波处理、A/D转换后由计算机处理系统的磁记忆信号处理单元进行分析处理,得出被测构件缺陷的磁记忆检测分析结果。
2.根据权利要求1所述的一种利用改变激励模式来实现不同方式电磁检测的方法,其特征在于:所述的任意波形发生器所发出的正弦波激励信号和/或方波激励信号和/或高占空比的脉冲信号由计算机处理系统进行控制。
3.根据权利要求1所述的一种利用改变激励模式来实现不同方式电磁检测的方法,其特征在于:所述的缠绕检测线圈的铁磁芯棒采用一根,激励绕组和检测绕组分别缠绕在该铁磁芯棒上。
4.根据权利要求1所述的一种利用改变激励模式来实现不同方式电磁检测的方法,其特征在于:所述的缠绕检测线圈的铁磁芯棒采用二根,二组激励或检测绕组以反接方式分别缠绕在二根平行排列的铁磁芯棒上,检测或激励绕组则跨越缠绕在二根铁磁芯棒上。
5.根据权利要求1所述的一种利用改变激励模式来实现不同方式电磁检测的方法,其特征在于:所述的缠绕检测线圈的铁磁芯棒采用三根,三根铁磁芯棒平行排列,二组激励或检测绕组以反接方式分别缠绕在二根外侧的铁磁芯棒上,检测或激励绕组则缠绕在中间的一根铁磁芯棒上。
6.根据权利要求1或3或4或5所述的一种利用改变激励模式来实现不同方式电磁检测的方法,其特征在于:所述的铁磁芯棒优选的为软铁芯。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于林俊明,未经林俊明许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200810070765.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。