[发明专利]嵌入式设备并口自动诊断方法及其诊断设备

说明书

【技术领域】

本发明涉及一种嵌入式设备并口自动诊断方法及其诊断设备，属于嵌入式设备测试领域。

【背景技术】

目前嵌入式设备使用的并口测试方法，都是通过人工的方式，使用简单的测试仪器进行测试，无法做到自动进行，需要有人值守，并且各接口针脚测试的覆盖度较低，仅局限于数据的收、发信号测试，提供的测试结果比较简单，对保证嵌入式设备接口的质量起到的作用不明显。

【发明内容】

本发明要解决的技术问题之一是在于提供一种嵌入式设备并口自动诊断方法，实现嵌入式设备的并口测试自动运行，并且保证各接口的每个针脚都能进行测试，极大地提高了并口测试的覆盖度和有效性。

上述的技术方案是这样实现的：一种嵌入式设备并口自动诊断方法，包括如下步骤：

步骤一、并口针脚测试：将并口各针脚相互连接形成四个不同的环路，轮流对各环路的输入针脚发出信号，并在与该输入针脚相对应的针脚接收相应的信号进行判断；

步骤二、显示测试结果：显示各并口的测试结果。

其中，所述并口为标准的25芯并口，步骤一中并口各针脚形成的四个环路分别为：针脚1、针脚2、针脚6及针脚13形成一环路；针脚3、针脚7、针脚12及针脚14形成一环路；针脚4、针脚8、针脚10以及针脚16形成一环路；针脚5、针脚9、针脚11、针脚15以及针脚17形成一环路，并且针脚1、针脚14、针脚16、针脚17分别为输出针脚，其余针脚为输入针脚。

上述步骤一中将并口各针脚相互连接形成四个不同的环路之后再初始化并口为EPP(Enhanced Parallel Ports，增强并行口)模式。

本发明要解决的技术问题之二是在于提供一种用于实现嵌入式设备并口自动诊断方法的并口测试设备。

上述的技术方案是这样实现的：一种用于实现嵌入式设备并口自动诊断方法的并口测试设备，该并口测试设备是一种具有与标准的25芯并口相同针脚的连接件，针脚分布与标准的25芯并口的针脚分布对应，其形状还可与并口形状相似，且该并口测试设备的针脚1、针脚2、针脚6及针脚13连接；针脚3、针脚7、针脚12及针脚14连接；针脚4、针脚8、针脚10以及针脚16连接；针脚5、针脚9、针脚11、针脚15以及针脚17连接。

本发明具有如下有益效果：

1、采取本发明的方法及相应的测试设备即可可以自动进行并口测试，而无须人工对每个并口的针脚进行测试，极大地提高了测试效率；

2、本发明可对嵌入式设备的各种全信号25芯并口进行测试，并且每个并口的针脚都能进行有效的验证，方便实用。

【附图说明】

下面参照附图结合实施例对本实用新型作进一步的说明。

图1是本发明嵌入式设备并口自动诊断方法操作流程示意图。

图2是本发明用于实现嵌入式设备并口自动诊断方法的并口测试设备的针脚连接示意图。

【具体实施方式】

本发明被测嵌入式设备的并口为标准的25芯并口，其中，针脚1为选通端(低电平有效)、针脚2为数据0、针脚3为数据1、针脚4为数据2、针脚5为数据3、针脚6为数据4、针脚7为数据5、针脚8为数据6、针脚9为数据7、针脚10确认(低电平有效)、针脚11为忙、针脚12为缺纸、针脚13为选择、针脚14为自动换行、针脚15为错误、针脚16初始化、针脚17为选择输入、针脚18至针脚25为接地。

请参阅图1所示，其嵌入式设备并口自动诊断方法分为下列几个步骤：

开始测试。

步骤一、并口针脚测试：将并口各针脚相互连接形成四个不同的环路，该四个环路分别为：针脚1、针脚2、针脚6及针脚13形成一环路；针脚3、针脚7、针脚12及针脚14形成一环路；针脚4、针脚8、针脚10以及针脚16形成一环路；针脚5、针脚9、针脚11、针脚15以及针脚17形成一环路，并且针脚1、针脚14、针脚16、针脚17分别为输出针脚，其余针脚为输入针脚。

为了更有效的测试并口各针脚，将并口初始化为EPP模式，EPP协议是一种与标准并行口兼容并且能完成双向数据传输的协议(传统的并口模式为SPP模式，该模式下只能输出数据并不能输入数据，)

然后，根据并口各针脚的连接顺序，轮流对输入针脚(即除针脚1、针脚14、针脚16、针脚17外的其余针脚)发出信号，并在与该输入针脚相对应的针脚接收相应的信号进行判断；核对信号是否正确，若不正确则响铃进行警示并显示出测试错误的并口以及相关的针脚。

步骤二、显示测试结果：当测试结束后，将显示各并口的测试结果，若测试过程中出现问题，则会显示是哪个并口的哪些针脚测试出问题。

再如图2所示，上述嵌入式设备并口自动诊断方法，其中步骤一可采用下述的并口测试设备进行测试，该并口测试设备是一种具有与标准的25芯并口相同针脚的连接件，针脚分布与标准的25芯并口的针脚分布对应，其形状还可与并口形状相似，且该并口测试设备的针脚1、针脚2、针脚6及针脚13连接；针脚3、针脚7、针脚12及针脚14连接；针脚4、针脚8、针脚10以及针脚16连接；针脚5、针脚9、针脚11、针脚15以及针脚17连接。当该并口测试设备与待测的并口以公头/母头的方式对接时(即该并口测试设备与待测的并口之一为公头，之一为母头)，将使待测的并口各针脚相互连接形成上述步骤一中所述的四个不同的环路。