[发明专利]一种利用人工磁场作传感器扫描定位的无损检测方法有效
申请号: | 200810071677.9 | 申请日: | 2008-08-27 |
公开(公告)号: | CN101398407A | 公开(公告)日: | 2009-04-01 |
发明(设计)人: | 林俊明 | 申请(专利权)人: | 林俊明 |
主分类号: | G01N27/82 | 分类号: | G01N27/82;G01B7/004 |
代理公司: | 厦门市首创君合专利事务所有限公司 | 代理人: | 李雁翔;连耀忠 |
地址: | 361004福建省厦门市湖滨南路5*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 利用 人工 磁场 传感器 扫描 定位 无损 检测 方法 | ||
1.一种利用人工磁场作传感器扫描定位的无损检测方法,其特征在于:包括如下步骤:
a. 在常规传感器内加装一可测试磁场矢量的磁敏元件;
b. 在被测构件的外围施加一设定大小的人工磁场,该人工磁场的大小足以让进入其中的磁敏元件测出磁敏元件自身所在位置的磁场矢量,该磁场矢量包括矢量的大小和方向;
c. 将内置有磁敏元件的传感器贴近被测构件,对被测构件进行常规的无损检测扫描;
d. 在传感器进行常规的无损检测扫描过程中,传感器不断地将拾取的常规的无损检测扫描的信号输送给计算机处理系统,由计算机处理系统处理成对应于扫描过程所拾取信号的变化状态的扫描图像,该扫描图像设定为第一扫描图像;
e. 在传感器进行常规的无损检测扫描过程中,传感器内的磁敏元件不断同步地将所测出的当前位置的磁场矢量传输给计算机处理系统,由计算机处理系统根据其矢量的大小和方向确定出传感器的当前位置,并处理成对应的当前同步定位数据;
f. 计算机处理系统将传感器在扫描过程中所得出的各同步定位数据处理成与传感器常规无损检测的第一扫描图像相同步的第二扫描图像;
g. 计算机处理系统进一步地将相同步的第一扫描图像、第二扫描图像处理在一个显示页面中,以便检测人员根据图像的对应关系,可以从第一扫描图像的某一特征点找到第二扫描图像中所对应的传感器位置,或从第二扫描图像的某一传感器位置找到第一扫描图像中所对应的图像变化特征。
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