[发明专利]红外—紫外多色探测器及其制备方法有效
申请号: | 200810079933.9 | 申请日: | 2008-12-04 |
公开(公告)号: | CN101419996A | 公开(公告)日: | 2009-04-29 |
发明(设计)人: | 尹顺政;李献杰;蔡道民;齐利芳;赵永林 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第十三研究所 |
主分类号: | H01L31/101 | 分类号: | H01L31/101;H01L31/18 |
代理公司: | 石家庄国为知识产权事务所 | 代理人: | 米文智 |
地址: | 050051河*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 红外 紫外 多色 探测器 及其 制备 方法 | ||
1.一种红外-紫外多色探测器,包括有衬底,其特征在于:在衬底上依次生长AlN缓冲层、n型GaN/AlGaN发射层、非掺杂AlGaN势垒层、n型AlGaN窗口接触层、非掺杂AlGaN吸收层、p型AlGaN限制窗口层和p型GaN接触层形成的多色探测器台面;在n型GaN/AlGaN发射层上有n型下接触电极,在n型AlGaN窗口接触层上有n型中间接触电极,在p型GaN接触层上有p型上接触电极。
2.根据权利要求1所述的红外-紫外多色探测器,其特征在于所述衬底为Si、蓝宝石或碳化硅抛光衬底。
3.根据权利要求1或2所述的红外-紫外多色探测器,其特征在于在衬底上依次生长有AlN缓冲层、n型GaN/Alx5GaN发射层、非掺杂Alx4GaN势垒层、n型Alx3GaN窗口接触层、非掺杂Alx2GaN吸收层、p型Alx1GaN限制窗口层和p型GaN接触层;其中x1>x2,x2>x4,x3>x4,x1、x2、x3、x4、x5与性能要求有关。
4.根据权利要求1-3所述的任意一种红外-紫外多色探测器的制备方法,其特征在于该方法采用下述工艺步骤:a、生长材料结构:在衬底上依次生长AlN缓冲层、n型GaN/AlGaN发射层、非掺杂AlGaN势垒层、n型AlGaN窗口接触层、非掺杂AlGaN吸收层、p型AlGaN限制窗口层和p型GaN接触层;
b、在p型GaN接触层上图形光刻,以光刻胶做掩蔽,刻蚀p型GaN接触层、p型AlGaN限制窗口层和非掺杂AlGaN吸收层至n型AlGaN窗口接触层上表面,形成一级凸形台面;
c、在n型AlGaN窗口接触层上图形光刻,用光刻胶做掩蔽,刻蚀n型AlGaN窗口接触层和非掺杂AlGaN势垒层至n型GaN/AlGaN发射层上表面,形成二级凸形台面;
d、在p型GaN接触层上制作p型上接触电极;
e、在n型AlGaN窗口接触层上制作n型中间接触电极,在n型GaN/AlGaN发射层上制作n型下接触电极;
f、进行器件SiO2介质钝化以及开孔互连。
5.根据权利要求4所述的红外-紫外多色探测器的制备方法,其特征在于所述步骤a中,用分子束外延或金属有机物化学气相淀积系统在衬底上生长各层。
6.根据权利要求4所述的红外-紫外多色探测器的制备方法,其特征在于所述步骤b、c中的光刻胶均为AZ1500。
7.根据权利要求4所述的红外-紫外多色探测器的制备方法,其特征在于所述步骤d是在p型GaN接触层上光刻上电极接触图形,光刻胶为AZ1500;用电子束蒸发系统淀积Ni/Au,剥离形成p型上接触电极。
8.根据权利要求7所述的红外-紫外多色探测器的制备方法,其特征在于用电子束蒸发系统淀积Ni/Au:20nm/40nm。
9.根据权利要求4所述的红外-紫外多色探测器的制备方法,其特征在于所述步骤e是在n型AlGaN窗口接触层上光刻中间电极接触图形,在n型GaN/AlGaN发射层上光刻下电极接触图形,光刻胶均为为AZ1500;用电子束蒸发系统淀积Ti/Al,剥离形成n型中间接触电极和n型下接触电极。
10.根据权利要求9所述的红外-紫外多色探测器的制备方法,其特征在于用电子束蒸发系统淀积Ti/Al:40nm/100nm。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的