[发明专利]光电转换装置的制造方法有效
申请号: | 200810080869.6 | 申请日: | 2008-02-22 |
公开(公告)号: | CN101252102A | 公开(公告)日: | 2008-08-27 |
发明(设计)人: | 泽山忠志;小岛毅 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
主分类号: | H01L21/822 | 分类号: | H01L21/822;H01L21/768;H01L27/14;H01L27/146 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 康建忠 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 光电 转换 装置 制造 方法 | ||
1.一种光电转换装置的制造方法,该光电转换装置具有光电转换元件、用于从所述光电转换元件读出信号的晶体管和设置在半导体基板上的多层互连结构,该方法包括以下步骤:
在所述光电转换元件和所述晶体管上形成第一层间绝缘膜;
在所述第一层间绝缘膜的与所述晶体管的电极对应的区域中形成孔;
在所述孔中埋入导电物质;
在所述第一层间绝缘膜和所述导电物质的全部表面上形成氢供给膜,该氢供给膜的折射率不同于所述第一层间绝缘膜的折射率;
在第一温度下进行热处理以从所述氢供给膜向所述半导体基板供给氢;
通过蚀刻去除所述氢供给膜的与所述光电转换元件对应的区域;
通过使用Cu作为用于形成所述多层互连结构的布线材料来形成所述多层互连结构;
形成其折射率与形成所述多层互连结构的第二层间绝缘膜的折射率不同的、用于抑制作为布线材料的Cu的扩散的扩散抑制膜,以使得该扩散抑制膜覆盖形成所述多层互连结构的布线和所述第二层间绝缘膜的全部表面;
通过蚀刻去除所述扩散抑制膜的与所述光电转换元件对应的区域;以及
形成覆盖所述多层互连结构的保护膜,
其中,按照以上次序进行以上步骤,在不高于所述第一温度的温度下进行形成所述多层互连结构的步骤和形成所述保护膜的步骤,以便不引起布线材料Cu的应力迁移,以及
所述扩散抑制膜还用作抵抗对所述第二层间绝缘膜的蚀刻的蚀刻阻止膜,并且,与所述氢供给膜的蚀刻速度相比,在蚀刻所述第二层间绝缘膜的蚀刻条件下,所述扩散抑制膜具有更高的蚀刻速度。
2.根据权利要求1的制造方法,其中,
形成所述多层互连结构的步骤包含在所述第二层间绝缘膜中形成布线沟的步骤和在所述布线沟中埋入作为布线材料的Cu的步骤。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于佳能株式会社,未经佳能株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200810080869.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:导电性组成物膜、电子注入电极及有机电致发光元件
- 下一篇:图像显示方法及装置
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造