[发明专利]光电转换装置的制造方法有效

专利信息
申请号: 200810080869.6 申请日: 2008-02-22
公开(公告)号: CN101252102A 公开(公告)日: 2008-08-27
发明(设计)人: 泽山忠志;小岛毅 申请(专利权)人: 佳能株式会社
主分类号: H01L21/822 分类号: H01L21/822;H01L21/768;H01L27/14;H01L27/146
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 康建忠
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 光电 转换 装置 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种光电转换装置的制造方法,该光电转换装置具有光电转换元件、用于从所述光电转换元件读出信号的晶体管和设置在半导体基板上的多层互连结构,该方法包括以下步骤:

在所述光电转换元件和所述晶体管上形成第一层间绝缘膜;

在所述第一层间绝缘膜的与所述晶体管的电极对应的区域中形成孔;

在所述孔中埋入导电物质;

在所述第一层间绝缘膜和所述导电物质的全部表面上形成氢供给膜,该氢供给膜的折射率不同于所述第一层间绝缘膜的折射率;

在第一温度下进行热处理以从所述氢供给膜向所述半导体基板供给氢;

通过蚀刻去除所述氢供给膜的与所述光电转换元件对应的区域;

通过使用Cu作为用于形成所述多层互连结构的布线材料来形成所述多层互连结构;

形成其折射率与形成所述多层互连结构的第二层间绝缘膜的折射率不同的、用于抑制作为布线材料的Cu的扩散的扩散抑制膜,以使得该扩散抑制膜覆盖形成所述多层互连结构的布线和所述第二层间绝缘膜的全部表面;

通过蚀刻去除所述扩散抑制膜的与所述光电转换元件对应的区域;以及

形成覆盖所述多层互连结构的保护膜,

其中,按照以上次序进行以上步骤,在不高于所述第一温度的温度下进行形成所述多层互连结构的步骤和形成所述保护膜的步骤,以便不引起布线材料Cu的应力迁移,以及

所述扩散抑制膜还用作抵抗对所述第二层间绝缘膜的蚀刻的蚀刻阻止膜,并且,与所述氢供给膜的蚀刻速度相比,在蚀刻所述第二层间绝缘膜的蚀刻条件下,所述扩散抑制膜具有更高的蚀刻速度。

2.根据权利要求1的制造方法,其中,

形成所述多层互连结构的步骤包含在所述第二层间绝缘膜中形成布线沟的步骤和在所述布线沟中埋入作为布线材料的Cu的步骤。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于佳能株式会社,未经佳能株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200810080869.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top