[发明专利]光头及光学信息记录再现装置

说明书

技术领域

本发明是涉及光头及光学信息记录再现装置。

背景技术

作为本技术领域的背景技术，例如存在日本专利特开2006-344344号公报。在该公报中记述了“从具有多个记录层的光盘高精度地取得所希望的信号”。而且，例如还有日本专利特开2006-344380号公报。在该公报中记述了“即使是在使用具有2面信息记录面可进行记录的光存储介质的情况下，也能够检测出偏移量小的跟踪误差信号”。进而，例如在电子信息通信学会信学技报CPM2005-149(2005-10)(第33页，图4、图5)  中记述了“在其它层没有漫射光的区域配置跟踪用光电检测器”的技术。

专利文献1中其结构为，由聚光透镜对光盘反射的光束进行集中，由聚光透镜对透过2枚1/4波长板与偏光光学元件而发散的光进行集中并照射到光电检测器。因此，有检测光学体系变得复杂、尺寸增大的问题。专利文献2中其结构为，在激光光源之后配置有3光点(スポツト)生成用的衍射光栅，由于是对盘照射1个主光点与2个副光点(サブスポツト)，所以存在有在记录时必要的主光束的光利用效率低的问题。

电子信息通信学会信学技报CPM2005-149(2005-10)(第33页，图4、图5)中，由于是在聚焦用光电检测器的周围产生的聚焦用光束的来自另一层的漫射光的外侧，配置跟踪用光电检测器，进而使在全息图(ホログラム)元件的中央部衍射的光到达来自另一层的漫射光的外侧的结构，所以存在有光检测器的尺寸增大的问题。

发明内容

本发明的目的在于提供，在对具有多个信息记录面的信息记录介质进行记录再现的情况下，能够得到稳定的伺服信号的光头及装载有该光头的光学信息记录再现装置。

上述目的能够通过作为其一例的权利要求范围中所记述的结构而达成。

根据本发明，在对具有多个信息记录面的信息记录介质进行记录再现的情况下，能够得到稳定的伺服信号的光头及装载有该光头的光学信息记录再现装置。

附图说明

图1是表示实施例1中BD用光头的概略的上面图，BD光检测器109的受光部112的受光面模式及多光束分割元件104的光栅分割模式的图。

图2是对于实施例1中通过多光束分割元件104而衍射出的多条光束在BD光检测器109的受光部112上形成的光束的说明图。

图3是对于实施例1中受光面上形成的光束的散焦特性的说明图及曲线图。

图4是表示实施例1中，对通过多光束分割元件104的光栅面A1，光栅面E1所衍射的光束，在设定了受光面301的尺寸310的情况下，计算散焦量与受光面301的受光强度的例子的图。

图5是表示实施例1中BD光检测器109的受光部112的受光面模式的图。

图6是表示实施例1中，聚光于信息记录介质的记录层的光束从对焦点状态散焦的情况下，计算照射到光检测器的各受光面的光束的变化的示意图。

图7是对实施例1中检测聚焦误差信号(FES)的第四受光面506进行说明的图和曲线图。

图8是对实施例1中多光束分割元件104进行说明的图。

图9是记述了实施例1中在多光束分割元件104的各光栅面具有表1记述的光栅角度的光栅沟901(点划线所示)的示意图。

图10是表示实施例1中对从目的以外的层的L1层反射、照射到光检测器119的受光部112的无用光的分布进行计算的例子的图。

图11是表示实施例1中对从目的以外的层的L0层反射、照射到光检测器119的受光部112的无用光的分布进行计算的例子的图。

图12是表示实施例2中BD用光头的概略的上面图。

图13是表示实施例2中计算复路系倍率(復路系倍率)与在受光面的光强度平坦的范围309的例子的图及曲线图。

图14是表示实施例2中计算复路系倍率与聚焦误差信号(FES)的检测范围706的关系的例子的图及曲线图。

图15是表示实施例2中计算聚光透镜1202的焦距与复路系倍率，检测透镜系(106、205、1201)的合成焦距的关系的例的图。

图16是表示实施例3中BD光检测器109的受光部112的受光模式的图。

图17是计算实施例3中从目的以外的层的L1层反射而照射到光检测器119的受光部112的无用光的分布的例子的图。

图18是计算实施例3中从目的以外的层的L0层反射而照射到光检测器119的受光部112的无用光的分布的例子的图。

图19是表示实施例4中多光束分割元件1901上形成的光栅模式的图。