[发明专利]一种印制电路板的边界扫描测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及印制电路板的测试技术，具体涉及一种印制电路板的边界扫描 测试方法。

背景技术

随着微电子技术、表面贴装技术和印制电路板制造技术的不断发展，印制 电路板的体积越来越小、密度越来越大，复杂程度越来越高。面对这样的发展 趋势，如果仍采用传统的“针床”夹具的测试方法来测试印制电路板的焊接情 况，不仅实现难度较大，而且测试成本较高。

20世纪80年代，联合测试活动组(JTAG)制订了边界扫描测试(BST) 标准，该BST标准1990年被美国电气电子工程师协会(IEEE)认可，并正式 命名为IEEE1149.1-1990边界扫描测试标准。依据该标准能够快速地测试到高 密度印制电路板上的内部故障，也可测试到印制电路板之间的互连故障等，解 决了表面贴装大规模集成电路(LSIC)和超大规模集成电路(VLSIC)印制电 路板的测试问题。

图1为印制电路板边界扫描测试系统结构示意图，如图1所示，边界扫描 测试一般由边界扫描测试仪、计算机和印制电路板配合实现，进行边界扫描测 试时，计算机中的测试向量生成软件生成测试向量发送至边界扫描测试仪，边 界扫描测试仪再根据测试向量对印制电路板进行测试。

目前，边界扫描测试中使用较多的测试向量格式为：罗列五个JTAG信号 在时钟每一拍的具体电平，采用这种格式的测试向量进行边界扫描测试时，边 界扫描测试仪仅需将测试向量翻译成相应的逻辑电平发送到印制电路板进行测 试即可。虽然，采用罗列五个JTAG信号在时钟每一拍具体电平为测试向量的 边界扫描测试方法有利于边界扫描测试仪的硬件实现，但由于各家边界扫描测 试仪开发商对测试向量格式没有统一的标准，如果边界扫描测试仪和测试向量 生成软件不是同一家公司开发的，则无法兼容，所以，现有印制电路板的边界 扫描测试方法兼容性差、测试范围有限。

发明内容

有鉴于此，本发明的主要目的在于提供一种印制电路板的边界扫描测试方 法，能够提高边界扫描测试的兼容性、扩大测试范围。

为达到上述目的，本发明的技术方案是这样实现的：

一种印制电路板的边界扫描测试方法，该方法包括：

a、计算机生成串行矢量格式SVF测试向量文件并发送至边界扫描测试仪；

b、边界扫描测试仪按运行状态类型将步骤a所述SVF测试向量文件中的 SVF指令逐条转换为十六进制指令；

c、边界扫描测试仪将步骤b所述转换后的十六进制指令发送至印制电路板 进行测试。

所述步骤a之后进一步包含：

b0、边界扫描测试仪判断SVF测试向量文件是否存在语法错误，如果是， 则纠正语法错误，之后返回步骤b0；否则，执行步骤b。

所述SVF测试向量文件的SVF指令中包含头尾设置指令，且步骤b中要 转换扫描指令寄存器SIR指令和/或扫描数据寄存器SDR指令时，所述转换之 前还包括：运行头尾设置指令，将头尾数据直接添加到SIR指令和/或SDR指 令中。

步骤b所述运行状态类型包括：状态转移类、时钟空转类、数据传输类、 测试复位类和频率设置类。

一条SVF指令具有多种运行状态类型，对所述SVF指令进行转换时，将 其按不同的运行状态类型分解为多个单一运行状态类型进行转换。

步骤b所述将SVF指令转换为十六进制指令时，通过不同的指令码区分不 同的运行状态类型。

步骤b所述将SVF指令转换为十六进制指令为：

将所述状态转移类指令转换为包括指令码、状态转移长度和状态转移路径 的十六进制指令；

将所述数据传输类指令转换为包括指令码、数据长度、测试数据输入TDI 值、测试数据输出TDO值、测试数据输出屏蔽MASK值、测试数据输入屏蔽 SMASK值的十六进制指令；

将所述时钟空转类指令转换为包括指令码、时钟空转数的十六进制指令；

将所述测试复位类指令转换为包括指令码、测试复位编码的十六进制指令；

将所述频率设置类指令转换为包括指令码、频率设定值的十六进制指令。

转换数据传输类指令时，所述TDI值、TDO值、MASK值、SMASK值不 为空；

所述TDI值、TDO值、MASK值、SMASK值为空时，查找上一条相同指 令中的对应值进行数据补充。