[发明专利]信息记录介质、记录装置和方法、再现装置和方法有效
申请号: | 200810081771.2 | 申请日: | 2003-02-27 |
公开(公告)号: | CN101256801A | 公开(公告)日: | 2008-09-03 |
发明(设计)人: | 高桥宜久;伊藤基志;植田宏 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | G11B20/12 | 分类号: | G11B20/12;G11B20/18 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 王忠忠 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 信息 记录 介质 装置 方法 再现 | ||
本申请是申请人松下电器产业株式会社于2003年2月27日提交的发明名称为“信息记录介、记录装置方法、再现装置和方法”的中国专利申请No.03806564.9的分案申请。
技术领域
本发明涉及一种信息记录介质、记录装置、再现装置、记录方法和再现方法,其提供了改进的信息可靠性。更加具体地说,本发明涉及一种信息记录介质、记录装置、再现装置、记录方法和再现方法,其允许更新具有2ECC(纠错码)大小或更大的缺陷列表和删除缺陷记录。
背景技术
近来,大容量可替换信息记录介质和用于驱动这种信息记录介质的盘驱动装置正变得越来越流行。作为大容量可替换信息记录介质,类似例如DVD(数字通用盘)的光盘是已知的。光盘驱动装置用激光照射光盘,因此在光盘上形成非常小的凹坑以便记录信息。光盘驱动装置还用激光照射光盘并将凹坑引起的反射率变化再现为信息。大容量信息记录介质适用于以该方式执行信息记录和再现的盘驱动装置。然而,由于光盘是可替换的,所以在其记录表面上可能存在由灰尘或擦伤引起的缺陷。
为了保证盘驱动装置记录或再现的信息的可靠性,需要执行对光盘上存在的缺陷进行管理的缺陷管理。用于传统的盘驱动装置的缺陷管理在DVD-RAM的物理标准(例如“用于可重写盘(DVD-RAM)的DVD规范,物理规范(2.0版)的部分1”;此后称作“DVD-RAM标准”)中有所描述。DVD-RAM标准的第5章包括盘的布局的说明。
图12表示根据DVD-RAM标准的信息记录介质1200的数据结构。
信息记录介质1200包括用于记录与盘有关的信息的导入区1201、用于记录用户数据的数据区1202、以及表示用户数据的结束位置的导出区1203。
导入区1201包括用于记录缺陷管理信息的DMA1(缺陷管理区)和DMA2,以及用于将来扩展的保留区1204和1205,所述缺陷管理信息用于管理数据区1202上存在的缺陷区。
数据区1202包括用于记录用户数据的用户区1206和备用区1207。当在用户区1206中有缺陷区时,将要记录在缺陷区中的用户数据被记录在备用区1207中,而不是记录在用户区1206的与缺陷区相应的部分上。
类似于导入区1201,导出区1203包括用于记录缺陷管理信息的DMA3和DMA4,以及用于将来扩展的保留区,所述缺陷管理信息用于管理数据区1202中存在的缺陷区。
DMA1至DMA4具有相同的以多路复用方式(multiplex)记录的缺陷管理信息。其原因是DMA1至DMA4中记录的信息不能是缺陷管理的目标。即使DMA1至DMA4中的一些具有缺陷管理区并且记录在信息记录介质上的信息不能被再现,只要DMA1至DMA4中的至少一个不是缺陷的,则记录在那个区域上的缺陷管理信息就能被正常再现。因此,防止了用户数据的丢失,从而提高了可靠性。
DMA1包括DDS(数据定义结构)1210、PDL(主缺陷列表)1211、和SDL(次缺陷列表)1212。
DDS1210包括与定义PDL1211和SDL1212的分区有关的信息。
PDL1211是在运输信息记录介质时,即信息记录介质初始化时在用户区1206和备用区1207中检测到的缺陷区(例如缺陷扇区)的位置信息(列表)。该列表基本上不会发生变化,除非信息记录介质被进行物理格式化。
根据DVD-RAM标准,DDS1210和PDL1211的总共大小适合一个ECC(纠错码)块。SDL1212的大小也适合一个ECC块。ECC块为DVD-RAM中纠错的单位,并且在16个扇区中(每个扇区具有2千个字节)具有32k字节。一个ECC块的这种大小将被称作“1ECC尺寸”。
图13表示SDL1212的详细数据结构。
与PDL1211不同,SDL1212是在记录或再现过程中检测到缺陷区(例如,坏扇区)时发生变化的信息(列表)。当检测到缺陷区域时,在适用于盘驱动装置的时刻在DMA1至DMA4的每一个中写入SDL1212。
SDL1212包括标题1301、第一缺陷记录1302、第二缺陷记录1303、……第N个缺陷记录1304、以及未使用的区域1305。
标题1301包括,例如表示该区域为SDL1212的识别符、缺陷记录的总数(在图13的情况下为N)、以及SDL1212已经被更新的次数。
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