[发明专利]光拾取装置无效

专利信息
申请号: 200810082268.9 申请日: 2008-02-29
公开(公告)号: CN101256789A 公开(公告)日: 2008-09-03
发明(设计)人: 堀田彻;川崎良一;菅健司;新藤博之 申请(专利权)人: 三洋电机株式会社;三洋光学设计株式会社
主分类号: G11B7/135 分类号: G11B7/135;G02B1/11
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 张斯盾
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 拾取 装置
【权利要求书】:

1.一种光拾取装置,其特征在于,具有物镜和调整膜,

所述物镜将从激光二极管放射的具有高斯分布特性的激光集光到光盘的信号记录层;

所述调整膜为了对透过上述物镜的上述激光的透过率进行调整,而形成在上述激光入射的上述物镜的入射面的表面,

上述调整膜以随着上述物镜的数值孔径的减小,上述透过率降低的方式,形成在上述入射面的表面。

2.一种光拾取装置,其特征在于,具有物镜和调整膜,

所述物镜入射有从激光二极管放射的激光,具有被设定成第一数值孔径的入射面,将上述激光集光到光盘的信号记录层;

所述调整膜为了对透过上述物镜的上述激光的透过率进行调整,而形成在上述入射面的表面,

上述调整膜以下述方式形成在上述入射面的表面,所述方式为:

在上述第一数值孔径和比上述第一数值孔径小的第二数值孔径之间透过的上述激光的透过率为第一透过率,

在比上述第二数值孔径小的第三数值孔径和比上述第三数值孔径小的第四数值孔径之间透过的上述激光的透过率为比上述第一透过率低的第二透过率,

在上述第二数值孔径和上述第三数值孔径之间透过的上述激光的透过率为随着数值孔径从上述第二数值孔径向上述第三数值孔径减小而降低的第三透过率。

3.如权利要求2所述的光拾取装置,其特征在于,

上述第一透过率以及上述第二透过率为一定。

4.如权利要求3所述的光拾取装置,其特征在于,

上述第二透过率是相对于上述物镜的光轴附近透过的上述激光的强度的通过上述物镜的周边部的上述激光的强度不会小于等于规定值的值。

5.如权利要求2所述的光拾取装置,其特征在于,

上述第三透过率直线状变化。

6.如权利要求2所述的光拾取装置,其特征在于,

上述第四数值孔径为零。

7.如权利要求2所述的光拾取装置,其特征在于,

上述调整膜为单层。

8.如权利要求7所述的光拾取装置,其特征在于,

上述调整膜是对上述激光的相对于上述入射面的反射率进行调整的防反射膜。

9.如权利要求8所述的光拾取装置,其特征在于,

上述防反射膜是以氟化镁为原料的膜。

10.如权利要求7所述的光拾取装置,其特征在于,

上述调整膜在使上述激光的透过率为上述第一、第二、第三透过率的上述入射面的各自的位置,膜厚不同。

11.如权利要求2所述的光拾取装置,其特征在于,

上述调整膜由多层构成。

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