[发明专利]引线端子检测方法和引线端子检测装置无效
申请号: | 200810082546.0 | 申请日: | 2008-02-26 |
公开(公告)号: | CN101256068A | 公开(公告)日: | 2008-09-03 |
发明(设计)人: | 木村笃司 | 申请(专利权)人: | 夏普株式会社 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00;G01B11/24 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 张鑫 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 引线 端子 检测 方法 装置 | ||
1、一种引线端子检查方法,从光传感器对电子装置的引线端子照射照射光,并且在所述光传感器检测出来自引线端子的反射光,从而检查引线端子的形状状态,其特征在于,
将所述光传感器构成为:将照射方向上的具有小于等于引线端子的宽度的光线直径的照射光,照射到引线端子的检测对象前端位置,并检测出来自引线端子的反射光,而且在引线端子的排列方向,使所述光传感器和引线端子的任一方对另一方相对移动,对多个引线端子依次进行照射光的照射和反射光的检测,从而对引线端子计数。
2、如权利要求1中所述的引线端子检查方法,其特征在于,
将所述电子装置固定,并使所述光传感器移动。
3、如权利要求1中所述的引线端子检查方法,其特征在于,
将所述光传感器固定,并使引线端子移动。
4、一种引线端子检查方法,在与电子装置的引线端子排列方向交叉的方向,将光传感器的发光部和所述光传感器的感光部相对地配置,从所述发光部对引线端子照射照射光,在所述感光部检测出照射光,从而检查引线端子的形状状态,其特征在于,
将所述发光部构成为:将照射方向上的具有小于等于引线端子的宽度的光线直径的照射光,照射到引线端子的检测对象前端位置,所述感光部检测出引线端子造成的照射光的遮断,而且在所述排列方向,使所述光传感器和引线端子的任一方对另一方相对移动,对多个引线端子依次进行照射光的照射和照射光的遮断的检测,从而对引线端子计数。
5、如权利要求4中所述的引线端子检查方法,其特征在于,
将所述电子装置固定,并使所述发光部和所述感光部同步移动。
6、如权利要求4中所述的引线端子检查方法,其特征在于,
将所述发光部和所述感光部固定,并使引线端子移动。
7、一种引线端子检查方法,在与电子装置的引线端子排列方向交叉的方向将光传感器的发光部和所述光传感器的感光部相对地配置,从所述发光部对引线端子照射照射光,在所述感光部检测出照射光,从而检查引线端子的形状状态,其特征在于,
配置多列引线端子,将所述光传感器构成为:配置在对所述排列方向照射光斜交的方向,所述发光部将照射方向上的具有小于等于引线端子的宽度的光线直径的照射光,照射到引线端子的检测对象前端位置,所述感光部检测出引线端子造成的照射光的遮断,而且在所述排列方向,使所述光传感器和引线端子的任一方对另一方相对移动,对多个引线端子依次进行照射光的照射和照射光的遮断的检测,从而对引线端子计数。
8、一种引线端子检查装置,从发光部对电子装置的引线端子照射照射光,并且在感光部检测出来自引线端子的反射光,从而检查引线端子的形状状态,其特征在于,
将所述发光部构成为:将照射方向上的具有小于等于引线端子的宽度的光线直径的照射光,照射到引线端子的检测对象前端位置,所述感光部检测出来自引线端子的反射光,而且具备在引线端子的排列方向,使所述发光部和所述感光部移动并对多个引线端子依次进行照射光的照射和反射光的检测的光学移动部、利用反射光的检测对引线端子计数的计数部、以及对该计数部的计数根数和预先设定的规定根数作比较并进行好坏判断的比较判断部。
9、一种引线端子检查装置,从发光部对电子装置的引线端子照射照射光,并且在感光部检测出来自引线端子的反射光,从而检查引线端子的形状状态,其特征在于,
将所述发光部构成为:将照射方向上的具有小于等于引线端子的宽度的光线直径的照射光,照射到引线端子的检测对象前端位置,所述感光部检测出来自引线端子的反射光,而且具备在引线端子的排列方向,使所述电子装置移动并对多个引线端子依次进行照射光的照射和反射光的检测的装置移动部、利用反射光的检测对引线端子计数的计数部、以及对该计数部的计数根数和预先设定的规定根数作比较并进行好坏判断的比较判断部。
10、如权利要求8中所述的引线端子检测装置,其特征在于,
将所述发光部和所述感光部安装在同一组件中。
11、如权利要求9中所述的引线端子检测装置,其特征在于,
将所述发光部和所述感光部安装在同一组件中。
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