[发明专利]磁盘驱动器中用于探测伺服数据的缺陷的方法和装置无效
申请号: | 200810082807.9 | 申请日: | 2008-02-28 |
公开(公告)号: | CN101276595A | 公开(公告)日: | 2008-10-01 |
发明(设计)人: | 朝仓诚 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝 |
主分类号: | G11B5/596 | 分类号: | G11B5/596;G11B5/84 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 | 代理人: | 杨晓光;于静 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 磁盘驱动器 用于 探测 伺服 数据 缺陷 方法 装置 | ||
技术领域
本发明的一个实施例涉及到一种磁盘驱动器,它使用一种记录有伺服数据的磁盘介质。更具体地说,所述实施例涉及到一种磁盘驱动器,它具有探测磁盘介质上所记录的伺服数据中的缺陷的功能。
背景技术
近年来,在磁盘驱动器(有代表性的例子是硬盘驱动器)领域中,一种伺服写入方法(也称作伺服形成方法)吸引了人们的注意。在这种方法中,首先在压模的一面上形成用来控制磁头定位的伺服数据,然后,将之马上转录到磁盘介质上。所述伺服写入方法为,例如,磁转录方法或者是在被构图介质上形成伺服数据的方法。
所述伺服写入方法(或者说伺服形成方法)比起使用专用器件(称作伺服磁道写入器)的普通方法在许多方面是有利的。更具体地说,所述伺服写入方法可以非常有效地写入或形成伺服数据。然而,所述伺服写入方法有一些问题。由于进入磁盘驱动器中的杂质的缘故,使用例如磁转录的所述伺服写入方法有可能将部分伺服数据从主盘上错误地转录到磁盘介质上。在具有离散磁道结构的磁盘介质(被构图介质)上形成伺服数据的方法也会产生类似的问题。
伺服数据包含地址码和伺服图形。地址码表示磁盘介质上磁道(柱面)的地址。伺服脉冲图形用来探测每个磁道中的位置。如果伺服数据被错误地转录到磁盘介质上,那么,一些伺服脉冲图形就不能被形成在磁盘介质上。换言之,一些伺服脉冲图形就变得有缺陷。这是一个严重问题。
如果错误地转录的伺服数据部分在伺服数据的报头区中,那么会产生同步采集误差(synchronous acquisition error)并且不能探测到伺服地质标记(servo address mark,SAM)。于是就会读出错误的伺服地址。注意,伺服地址标记由信号图形构成,该信号图形指定伺服地址数据的开始部分。如果错误地转录的伺服数据部分在伺服数据的地址区中,那么,不可避免地不能探测到SAM,或者不可避免地读出错误的伺服地址。如果错误地转录的伺服数据部分在伺服数据的伺服脉冲区中,那么就不能精确地探测偏离磁道量。
常规的磁盘驱动器具有在准备再现磁头所读出的任何伺服信号时探测伺服误差的功能。然而,这种功能不能用来探测伺服数据的错误转录所导致的伺服脉冲图形中的缺陷。从伺服脉冲图形的任何有缺陷部分所产生的伺服信号被认为是具有正常的值,尽管它实际上具有错误的值。于是,进行正常的伺服操作,不可避免地使错误的值传播到磁盘介质的正常扇区中。伺服信号的错误的值会在磁盘介质的许多扇区上产生磁头定位误差。
已经提出了一种检查磁盘介质上错误的伺服数据转录的方法(参见例如日本专利申请2003-141837)。在所提出的方法中,就介质的整个圆周而言,转录了图形的磁盘介质所固有的中等涨落(moderate fluctuation)可以与灰尘所导致的局部缺陷区别出来。于是可以判断任何缺陷是否源自灰尘。更具体地说,根据移动平均(moving average)的脱离率(detachmentrate),即,伺服数据的报头区(即,同步脉冲区)的幅值与15个伺服扇区的移动平均的幅值之比(其中,这15个扇区中,一些扇区在所述报头区的前面,而另一些扇区则在所述报头区的后面),来判断是否发生了错误的伺服数据转录。
上述段落中所描述的方法是一种用于伺服写入步骤或者伺服形成步骤的技术。它不能用来检查已经装入磁盘驱动器中的磁盘介质上所记录的伺服脉冲图形中可能存在的缺陷。
发明内容
本发明的一个目标是,提供一种磁盘驱动器,它具有可靠地探测磁盘介质上所记录的伺服脉冲图形中的缺陷的功能。
根据本发明的一个方面的磁盘驱动器包括:具有多个扇区的磁盘介质,在每个扇区中记录着含有伺服脉冲图形的伺服数据;磁头,从所述磁盘介质上读取包含所述伺服脉冲图形的数据;获取值的单元,用来从所述磁头所读取的伺服脉冲图形中获取每个扇区的伺服脉冲值;可靠性计算单元,该单元使用从伺服脉冲图形所获得的伺服脉冲值之和与通过对探测时所获得的或者为前一个样本所获得的所述和进行低通滤波操作而得到的值之比,来计算每个扇区的可靠性值;以及判定单元,它基于所述可靠性计算单元所计算出的所述可靠性值来判断所述扇区是否是含有有缺陷伺服脉冲图形的有缺陷扇区。
本发明的其它目标和优势将在下面的描述中得到阐明,这些目标和优势部分地能从描述中看到,或者可以通过对本发明的实践而得知。本发明的目标和优势可以通过在下文中所具体指出的手段和组合来实现和获得。
附图说明
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