[发明专利]改善功率校正区寻轨稳定度的最佳烧录功率校正方法

说明书

技术领域

本发明是关于改善功率校正区寻轨稳定度的最佳烧录功率校正方法，特别是关于新增空白区域保留步骤、及/或数据写入步骤来改善功率校正区寻轨稳定度的最佳烧录功率校正方法。

背景技术

图1为一般光盘片的数据分布区域，包含中央孔、无法写入区域、功率校正区域(Power Calibration Area，PCA)、PMA、导入区域(Lead-in Area)、程序区域(Program Area)、以及可写入使用者区域(Recordable User Area)。因此，一般在进行最佳烧录功率校正步骤时，都是以功率校正区域PCA作为测试写入区域。至于如何进行最佳烧录功率校正步骤为已知技术，不再重复说明。

图2为传统的最佳烧录功率校正方法在功率校正区域PCA写入测试数据的分布示意图。由该图可以清楚了解，相邻两次的OPC测试写入区域A与OPC测试写入区域B之间并无保留空白区域或已最佳(或较佳)功率的区域。所以，传统的最佳烧录功率校正方法存在以下缺点：

(1)用于功率校正区的写入功率大多不是最佳写入功率，所以其逻辑地址(Logical Address，或称为RF ID)不容易被解码。

(2)部分盘片在写入过后，其实体地址(Physical Address，或称为Wobble ID)不容易被解码。

因为(1)(2)等因素造成光学储存装置于光学储存盘片的功率校正区的寻轨稳定度不佳，需要较多的寻轨时间，甚至寻轨失败。

发明内容

有鉴于上述问题，本发明改善功率校正区寻轨稳定度的最佳烧录功率校正方法是利用空白区域保留步骤、及/或数据写入步骤，有效地增加寻轨稳定度，尤其是功率校正区的寻轨性能。

为达成上述目的，本发明改善功率校正区寻轨稳定度的最佳烧录功率校正方法，该最佳烧录功率校正方法是以一特定区域作为烧录功率校正时的数据写入区域，且该特定区域的长度可提供复数次的最佳烧录功率校正，该最佳烧录功率校正方法包含下列步骤：一最佳烧录功率校正步骤，是在特定区域，以不同写入功率烧录一第一长度的校正数据，并校正出一最佳烧录功率，且该步骤所烧录的数据区段定义为一校正烧录区段；以及一数据写入步骤，是在特定区域的校正烧录区段旁，以一数据写入功率写入具有逻辑地址的第二长度的信息，且该步骤所烧录的数据区段定义为一信息烧录区段，藉以在下一次进行功率校正时，利用该信息烧录区段具有逻辑地址的特性，提升对于特定区域的寻轨稳定度。

由于最佳烧录功率校正步骤的校正烧录区段与上一次最佳烧录功率校正时的信息烧录区段之间保留一段空白区域，藉由该空白区域的实体地址，在下一次进行功率校正时提升对于特定区域的寻轨稳定度。

附图说明

图1为一般光盘片的数据分布区域；

图2为传统的最佳烧录功率校正方法在功率校正区域PCA写入测试数据的分布示意图；

图3A为本发明改善功率校正区寻轨稳定度的最佳烧录功率校正方法的第一实施例，其在功率校正区域PCA写入测试数据与正常写入数据的分布示意图；

图3B为第一实施例的流程图；

图4A为本发明改善功率校正区寻轨稳定度的最佳烧录功率校正方法的第二实施例，其在功率校正区域PCA写入测试数据与保留空白区域的分布示意图；

图4B为第一实施例的流程图；

图5A为本发明改善功率校正区寻轨稳定度的最佳烧录功率校正方法的第三实施例，其在功率校正区域PCA写入测试数据、正常写入数据与保留空白区域的分布示意图；

图5B为第一实施例的流程图。

具体实施方式

以下参考图式详细说明本发明的改善功率校正区寻轨稳定度的最佳烧录功率校正方法。

图3A为本发明改善功率校正区寻轨稳定度的最佳烧录功率校正方法的第一实施例，其在功率校正区域PCA写入测试数据与正常写入数据的分布示意图。图3B为第一实施例的流程图。如图3A所示，校正烧录区段A与信息烧录区段A是第一次烧录功率校正时所烧录的区段、校正烧录区段B与信息烧录区段B是第二次烧录功率校正时所烧录的区段。