[发明专利]校准全息存储系统的方法和存储介质

权利要求书

1.一种校准全息存储系统(1)的方法，该方法具有以下步骤：

通过利用空间光调制器(6)将数据图案印制到物光束(7)上，或者通 过在参考光束(8)的光束路径中定位在全息存储介质(10)上布置的测试数 据页(15)、并利用所述参考光束(8)照亮在所述全息存储介质(10)上布 置的测试数据页(15)，来经由所述全息存储系统(1)传出(22)测试数据 页(15)，其中，所述测试数据页(15)包括用于检测被用于记录的光束(7、 8)和被用于读取的光束(8)之间的波长失配的像素图案；

利用检测器(13)接收通过所述全息存储系统(1)传出的测试数据页(15)；

通过将所述检测器(13)接收的测试数据页(15)与多个通过试验预先 确定的模糊的数据图案进行比较(24)，来确定所述全息存储系统(1)的波 长适配的量，所述多个通过试验预先确定的模糊的数据图案与潜在的波长适 配一起存储在所述全息存储系统(1)的存储器中；以及

基于该比较步骤(24)的结果，通过使所述检测器(13)上的像素图案 的模糊最小化，来校正(25)所述全息存储系统(1)的波长失配。

2.一种全息存储系统(1)，所述全息存储系统(1)包括：

激光二极管(2)，用于发出光束(3)；

空间光调制器(6)，用于将数据图案印制到激光二极管(2)所发出的光 束(3)上；

检测器(13)，用于接收(23)通过所述全息存储系统(1)传出的测试 数据页(15)；

存储器，其包括多个通过试验预先确定的模糊的数据图案以及潜在的波 长适配；以及

校正系统(14)，用于通过执行以下步骤来确定所述全息存储系统(1) 的波长适配的量：

通过利用空间光调制器(6)将数据图案印制到物光束(7)上，或 者通过在参考光束(8)的光束路径中定位在全息存储介质(10)上布置 的测试数据页(15)、并利用所述参考光束(8)照亮在所述全息存储介 质(10)上布置的测试数据页(15)，来经由所述全息存储系统(1)传 出(22)测试数据页(15)，其中，所述测试数据页(15)包括用于检测 被用于记录的光束(7、8)和被用于读取的光束(8)之间的波长失配的 像素图案；

利用检测器(13)接收通过所述全息存储系统(1)传出的测试数据 页(15)；

通过将所述检测器(13)接收的测试数据页(15)与所述多个通过 试验预先确定的模糊的数据图案进行比较(24)，来确定所述全息存储系 统(1)的波长适配的量；

基于该比较步骤(24)的结果，通过使所述检测器(13)上的像素 图案的模糊最小化，来校正(25)所述全息存储系统(1)的波长失配。