[发明专利]图像形成装置的转印电压控制方法有效
申请号: | 200810083417.3 | 申请日: | 2008-03-05 |
公开(公告)号: | CN101308353A | 公开(公告)日: | 2008-11-19 |
发明(设计)人: | 庆明浩 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G03G15/16 | 分类号: | G03G15/16;G03G15/00;G03G15/01 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 钱大勇 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 图像 形成 装置 电压 控制 方法 | ||
1.一种图像形成装置的转印电压控制方法,所述方法包括:
提供第一测量电压给第一转印构件和第二转印构件;
通过在第一时段期间提供第二测量电压给所述第一转印构件来测量该 第一转印构件的电阻变化;以及
通过在第二时段期间提供所述第二测量电压给所述第二转印构件来测 量该第二转印构件的电阻变化。
2.如权利要求1所述的方法,其中,以预定的时间间隔来执行对第一 和第二转印构件的电阻变化的测量。
3.如权利要求2所述的方法,其中,所述第二测量电压的绝对值大于 所述第一测量电压的绝对值。
4.如权利要求3所述的方法,其中,所述第二测量电压的绝对值是将 所述第一测量电压的绝对值增加预定电压量的结果。
5.如权利要求4所述的方法,其中,将所述第二测量电压向所述第一 转印构件和第二转印构件都分别提供2到3次,其中该第二测量电压以预定 的电压量有规则地增加。
6.如权利要求5所述的方法,其中,将所述第一和第二转印构件的电 阻变化计算为多个第二测量电压的电阻变化的平均值。
7.如权利要求4所述的方法,其中,将所述用于提供增加了的电压给 所述第一转印构件所需要的第一时段设置为与用于提供增加了的电压给所 述第二转印构件所需要的第二时段不同。
8.如权利要求1所述的方法,其中,所述第一转印构件是转印鼓,而 所述第二转印构件是转印辊。
9.一种图像形成装置的转印电压控制方法,所述方法包括:
提供第一测量电压给转印鼓和转印辊;
通过在第一时段期间提供第二测量电压给所述转印鼓来测量电阻变化;
将提供给所述转印鼓的第二测量电压改变为所述第一测量电压;
通过在第二时段期间提供所述第二测量电压给所述转印辊来测量电阻 变化;以及
释放被提供给所述转印鼓和转印辊的电压。
10.如权利要求9所述的方法,其中,所述第二测量电压的绝对值大于 所述第一测量电压的绝对值。
11.如权利要求10所述的方法,其中,所述第二测量电压的绝对值是 将所述第一测量电压的绝对值增加预定电压量的结果。
12.一种图像形成装置的转印电压控制方法,所述方法包括:
提供第一测量电流给转印鼓和转印辊;
通过在第一时段期间提供第二测量电流给所述转印鼓来测量电阻变化;
将提供给所述转印鼓的所述第二测量电流改变为所述第一测量电流;
通过在第二时段期间提供所述第二测量电流给所述转印辊来测量电阻 变化;以及
释放被提供给所述转印鼓和转印辊的电流。
13.如权利要求12所述的方法,其中,所述第二测量电流大于所述第 一测量电流。
14.如权利要求13所述的方法,其中,所述第二测量电流是将所述第 一测量电流增加预定电流量的结果。
15.一种图像形成装置,包括:
显影单元,显影图像;
转印单元,转印图像,并且具有第一转印构件和第二转印构件;
高压电源,发送转印电压给所述显影单元和转印单元,其中,所述转印 电压是分别精确反映所测量的第一转印构件和第二转印构件的电阻变化的 最佳转印电压,该最佳转印电压为+1000到1400伏;以及
控制单元,用于控制高压电源,以提供第一测量电压给所述第一转印构 件和所述第二转印构件,并且分别测量所述第一转印构件和所述第二转印构 件的电阻变化,
其中,当所述高压电源分别在第一时段期间提供第二测量电压给所述第 一转印构件并在第二时段期间提供该第二测量电压给所述第二转印构件时, 由所述控制单元测量所述第一转印构件和第二转印构件的所述电阻变化。
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