[发明专利]拖尾校正信号发生电路、方法、程序、拖尾校正电路和成像器件无效
申请号: | 200810084109.2 | 申请日: | 2008-03-20 |
公开(公告)号: | CN101272453A | 公开(公告)日: | 2008-09-24 |
发明(设计)人: | 木下幸裕;高桥和成;原学 | 申请(专利权)人: | 索尼株式会社 |
主分类号: | H04N5/217 | 分类号: | H04N5/217 |
代理公司: | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 董方源 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 校正 信号 发生 电路 方法 程序 成像 器件 | ||
1.一种拖尾校正信号发生电路,包括:
遮光单元波形检测单元,该遮光单元波形检测单元被配置为通过利用图像传感器的水平遮光单元的输出信号来检测所述水平遮光单元中的各行的信号电平;
黑色电平检测单元,该黑色电平检测单元被配置为通过利用所述图像传感器的垂直遮光单元的输出信号来检测黑色电平;以及
减法单元,该减法单元被配置为将由所述黑色电平检测单元检测到的所述黑色电平从由所述遮光单元波形检测单元检测到的所述水平遮光单元中的所述各行的所述信号电平的每一个中减去,以便生成所述各行的拖尾校正信号。
2.如权利要求1所述的拖尾校正信号发生电路,还包括:
去核单元,该去核单元被配置为对由所述减法单元所生成的所述各行的所述拖尾校正信号执行去核处理。
3.如权利要求1所述的拖尾校正信号发生电路,
其中,所述遮光单元波形检测单元包括
平均值计算器,该平均值计算器被配置为以行为单位来计算构成所述水平遮光单元的像素的值的平均值;
数字滤波器,该数字滤波器被配置为将在所述平均值计算器中所计算的所述各行的像素平均值在时间方向上进行平均;
∈滤波器,该∈滤波器在垂直方向上被应用于从所述数字滤波器输出的所述各行的所述像素平均值;以及
中值滤波器,该中值滤波器在所述垂直方向上被应用于从所述∈滤波器输出的所述各行的所述像素平均值,并且
其中,所述水平遮光单元中的所述各行的信号电平是从所述中值滤波器获得的。
4.如权利要求1所述的拖尾校正信号发生电路,
其中,所述遮光单元波形检测单元、所述黑色电平检测单元和所述减法单元通过在所述图像传感器的所述输出信号的最低有效位之下增加预定数目的位来执行处理。
5.如权利要求1所述的拖尾校正信号发生电路,
其中,所述黑色电平检测单元包括
平均值计算器,该平均值计算器被配置为计算构成所述垂直遮光单元的像素的值的平均值;以及
数字滤波器,该数字滤波器被配置为将由所述平均值计算器所计算的像素平均值在时间方向上进行平均,并且
其中,所述黑色电平是从所述数字滤波器获得的。
6.一种拖尾校正信号发生方法,包括以下步骤:
通过利用图像传感器的水平遮光单元的输出信号来检测所述水平遮光单元中的各行的信号电平;
通过利用所述图像传感器的垂直遮光单元的输出信号来检测黑色电平;以及
将在所述黑色电平检测步骤中检测到的所述黑色电平从在所述信号电平检测步骤中检测到的所述水平遮光单元中的所述各行的所述信号电平的每一个中减去,以便生成所述各行的拖尾校正信号。
7.一种允许计算机起以下作用的程序:
遮光单元波形检测装置,用于通过利用图像传感器的水平遮光单元的输出信号来检测所述水平遮光单元的各行的信号电平;
黑色电平检测装置,用于通过利用所述图像传感器的垂直遮光单元的输出信号来检测黑色电平;以及
减法装置,用于将由所述黑色电平检测装置检测到的所述黑色电平从由所述遮光单元波形检测装置检测到的所述水平遮光单元中的所述各行的所述信号电平的每一个中减去,以便生成所述各行的拖尾校正信号。
8.一种拖尾校正电路,包括:
拖尾校正信号发生单元,该拖尾校正信号发生单元被配置为基于图像传感器的输出信号来生成各行的拖尾校正信号;以及
减法器,该减法器被配置为将由所述拖尾校正信号发生单元所生成的相应行的拖尾校正信号从所述图像传感器的每行的输出信号中减去,以便获得经拖尾校正的输出信号,
其中,所述拖尾校正信号发生电路包括
遮光单元波形检测装置,用于通过利用所述图像传感器的水平遮光单元的输出信号来检测所述水平遮光单元中的各行的信号电平;
黑色电平检测装置,用于通过利用所述图像传感器的垂直遮光单元的输出信号来检测黑色电平;以及
减法装置,用于将由所述黑色电平检测装置检测到的所述黑色电平从由所述遮光单元波形检测装置检测到的所述水平遮光单元中的所述各行的所述信号电平的每一个中减去,以便生成所述各行的所述拖尾校正信号。
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