[发明专利]实时时钟校准系统及其方法有效
申请号: | 200810084325.7 | 申请日: | 2008-03-18 |
公开(公告)号: | CN101452307A | 公开(公告)日: | 2009-06-10 |
发明(设计)人: | 杨宗宪;柯智伟 | 申请(专利权)人: | 联发科技股份有限公司 |
主分类号: | G06F1/14 | 分类号: | G06F1/14 |
代理公司: | 北京万慧达知识产权代理有限公司 | 代理人: | 葛 强;张一军 |
地址: | 中国台湾新竹科*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 实时 时钟 校准 系统 及其 方法 | ||
技术领域
本发明是关于校准实时时钟(Real Time Clock,以下简称为RTC),尤其是关于一种利用平均校准方法来校准RTC的方法。
背景技术
实时时钟(Real Time Clock,以下简称为RTC)是很多电子装置的必要元件,它是利用晶体来执行定时的功能。晶体在预设的频率振荡,并在完成预设振荡数目后以一秒来更新计数器。振荡的频率随温度改变而不同,而当环境条件改变时,晶体的精确度也会受到影响。此外,晶体的质量也会影响精确度,即,某些状况下,晶体的振荡将较预期值稍快或稍慢,因此完成预设振荡数目的时间将无法精确地等于一秒,从而导致时钟定时不够精确。上述情况中即需要执行校准操作以校正定时误差。
若累积误差相对较大,校准点将出现显著突升,这种情况会给使用者造成困扰。
发明内容
本发明克服了现有技术定时不够精确的不足,提供了一种校准实时时钟(Real Time Clock,以下简称为RTC)的系统及其方法,以达到比现有技术出色的精确度。
为解决上述的技术问题,依据本发明技术方案的一实施例提供一种RTC校准系统。系统包含有:定时计数器(timer counter);时钟发生器;校准参数刷新单元(calibration parameter refresh unit);以及时钟校准单元。时钟校准单元耦合于定时计数器、时钟发生器与校准参数刷新单元之间。校准参数刷新单元在达到第一校准周期(calibration period)的最后一秒前,以第一校准参数作为输出校准参数,而在达到第一校准周期的最后一秒时,以第二校准参数作为输出校准参数,以替代第一校准参数。时钟校准单元依据时钟发生器所产生的多个时钟周期(clock cycle)及校准参数刷新单元所提供的输出校准参数,使定时计数器进行递增(increment)。
本发明还提供另一种RTC校准系统的实施例。RTC校准系统包含有:定时计数器;时钟发生器;以及时钟校准单元。时钟校准单元耦合于时钟发生器与定时计数器之间,用于接收包含平均校准值、余数(remainder)校准值及校准周期的校准参数;计数时钟发生器所产生的多个时钟周期;在校准周期期间依据平均校准值和余数校准值来校准计数得到的时钟周期的数目;以及当达到时钟周期的预设数目时使得定时计数器递增一秒(incremented by one second)。
本发明也揭露一种RTC校准方法的实施例。此方法包含有:在达到第一校准周期的最后一秒前,提供第一校准参数作为输出校准参数;当达到第一校准周期最后一秒时,提供第二校准参数作为输出校准参数,以替代第一校准参数;以及依据时钟发生器所产生的多个时钟周期及所提供的输出校准参数,使定时计数器进行递增。实用中定时计数器约为递增一秒。
本发明还揭露另一种RTC校准方法的实施例。此方法包含有:接收包含平均校准值、余数校准值及校准周期的校准参数;计数时钟发生器所产生的多个时钟周期;在校准周期期间依据平均校准值和余数校准值来校准计数所得到的时钟周期;以及当达到时钟周期的预设数目时使得定时计数器递增一秒。
本发明的RTC校准系统及方法与现有技术相比,其有益效果表现于:利用平均校准效应在一定时间期间内做持续校准,避免了校准点的显著跳变,提高了时钟定时的精确度,从而可达到更好的校准效果。
附图说明
图1显示对应于晶体振荡的时钟周期。
图2是依据本发明实施例的实时时钟校准系统的示意图。
图3是图2中所示的校准参数刷新单元实施例的示意图。
图4显示本发明的实时时钟校准方法的实施例的步骤流程图。
具体实施方式
本发明旨在利用一种平均校准效应,而不是执行类似于现有技术的突发(burst)式校准。通过在一定时间期间内做持续校正,而不是集中在一个阶段执行全部校准,从而可获得更出色的校准效果。
阅读了下文对附图所示的优选实施例的详细描述之后,本发明的上述及其它目的对所属领域的技术人员而言将显而易见。
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