[发明专利]图像形成装置有效
申请号: | 200810085587.5 | 申请日: | 2008-03-19 |
公开(公告)号: | CN101271304A | 公开(公告)日: | 2008-09-24 |
发明(设计)人: | 藤岛正之;坂田昌一;中植隆久;井上丰常;渡边昭宏;森幸广 | 申请(专利权)人: | 京瓷美达株式会社 |
主分类号: | G03G15/08 | 分类号: | G03G15/08;G03G9/08;G03G15/01 |
代理公司: | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 李雪春;武玉琴 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 图像 形成 装置 | ||
1.一种图像形成装置,其特征在于包括:
感光体,形成潜影;
显影辊,用第一偏压使所述感光体上形成的潜影显影;
磁辊,用具有载体和调色剂的双成分显影剂形成磁刷,用第二偏压在所述显影辊上形成调色剂薄层;以及
偏压施加部,对所述显影辊及所述磁辊施加偏压,其中,
所述第一偏压包含矩形波的第一交流偏压,
所述调色剂的体积平均颗粒直径用Dt表示,所述显影辊表面的固有电阻率用pv表示,所述显影辊表面的算术平均粗糙度用Ra表示,所述第一交流偏压的负荷比用D1表示,在以调色剂从所述显影辊往所述感光体的方向的电压的施加期间为正来求出所述负荷比D1的情况下,满足下面的各关系:
调色剂的个数粒度分布的CV值在25%以下,
4μm≤Dt≤7μm,
105Ω·cm≤pv≤109Ω·cm,
0.4μm≤Ra≤1.5μm,
35%≤D1≤75%。
2.根据权利要求1所述的图像形成装置,其特征在于,
所述第一交流偏压的负荷比D1满足下式关系:45%≤D1≤60%。
3.根据权利要求1所述的图像形成装置,其特征在于,
所述第二偏压包含矩形波的第二交流偏压,
设第二交流偏压的负荷比为D2,在以调色剂从磁辊往所述显影辊的方向的电压的施加期间为正来求出所述负荷比D2的情况下,所述负荷比D1、D2满足下式关系:D1>100-D2。
4.根据权利要求1所述的图像形成装置,其特征在于,
所述偏压施加部包括产生偏压的第一电源及第二电源,
所述第一电源的偏压作为所述第一偏压施加于所述显影辊,
重叠了所述第一电源的偏压和所述第二电源的偏压的偏压,作为所述第二偏压施加于所述磁辊。
5.根据权利要求1所述的图像形成装置,其特征在于,
当用Dc表示所述载体的重量平均颗粒直径时,满足下式关系:
25μm≤Dc≤45μm。
6.根据权利要求1所述的图像形成装置,其特征在于,
所述感光体的圆周速度为180mm/sec以上。
7.一种图像形成装置,其特征在于包括:
感光体,形成潜影;
显影辊,用第一偏压使所述感光体上形成的潜影显影;
磁辊,用具有载体和调色剂的双成分显影剂形成磁刷,用第二偏压在所述显影辊上形成调色剂薄层;以及
偏压施加部,包括产生偏压的第一电源及第二电源,对所述显影辊及所述磁辊施加偏压,其中,
所述第一电源的偏压作为所述第一偏压施加于所述显影辊,
重叠了所述第一电源的偏压和所述第二电源的偏压的偏压,作为所述第二偏压施加于所述磁辊,
所述第一偏压包括矩形波的第一交流偏压,所述第二偏压包括矩形波的第二交流偏压,
所述调色剂的体积平均颗粒直径用Dt表示,所述显影辊表面的固有电阻率用pv表示,所述显影辊表面的算术平均粗糙度用Ra表示,所述第一交流偏压的负荷比用D1表示,所述第二交流偏压的负荷比用D2表示,在以调色剂从所述显影辊往所述感光体的方向的电压的施加期间为正来求出所述负荷比D1,以调色剂从所述磁辊往所述显影辊的方向的电压的施加期间为正来求出所述负荷比D2的情况下,满足下面的各关系:
调色剂的个数粒度分布的CV值在25%以下,
4μm≤Dt≤7μm,
105Ω·cm≤pv≤109Ω·cm,
0.4μm≤Ra≤1.5μm,
35%≤D1≤75%,
D1>100-D2。
8.根据权利要求7所述的图像形成装置,其特征在于,
所述第一交流偏压的负荷比D1满足下式关系:45%≤D1≤60%。
9.根据权利要求7所述的图像形成装置,其特征在于,
当用Dc表示所述载体的重量平均颗粒直径时,满足下式关系:25μm≤Dc≤45μm。
10.根据权利要求7所述的图像形成装置,其特征在于,
所述感光体的圆周速度为180mm/sec以上。
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