[发明专利]用于确定输出到比较器的输入电压值的方法及光驱动电路

说明书

技术领域

本发明关于一个系统及其执行方法，特别是关于一种能够提供精准的信号测量校准的光驱动系统及其执行方法，具体来说是关于一种用于确定输出到比较器的输入电压值的方法及光驱动电路。

背景技术

众所周知，在电路系统中，阻抗效应(Impedance Effect)经常会导致信号测量结果不准确。阻抗效应的起因可能来自各种因素，例如包括对测试工具不当的测量操作、在测试中测试工具与被测物之间异类金属的连接、周边干扰或环境变动等等。对于目前的电路系统来说，具有信号测量的准确校准并能消除阻抗效应的能力已被视为重要的性能指标之一。

图1A揭示了一个现有技术的光驱动电路系统，其包括自动功率控制(Automatic Power Control，APC)电路108、工作信号产生器101、反馈单元105及形成于系统1上的多个测量垫片106、107、109与110。工作信号产生器101包含发光装置(如激光二极管(Laser Diode，LD))与功率检测器，例如光电二极管(Photodiode，PD)，用来监视发光装置所发出的光线的输出功率并基于上述输出功率逐步输出工作电压“V_in”。自动功率控制(APC)电路108还包含比较单元102与数模转换器(Digital to Analog Converter，DAC)103，其中数模转换器103可依据需要设定参考电压“V_ref”，而比较单元102如同比较器(Comparator)具有两个输入1020、1021来接收工作电压“V_in”和参考电压“V_ref”、输出1023依据工作电压“V_in”和参考电压“V_ref”之间的对比结果而输出目标电压“V_target”给激光二极管输出(Laser Diode Output，LDO)，以及节点1022分别连接到用于信号测量的两个测量垫片106和107。由于两个测量垫片106、107连接到比较单元102的节点1022的电路配置，将使测量垫片106、107 与节点1022之间自然产生两个走线阻抗(Trace Resistance)，如电阻“Rin1”与“Rin2”。

反馈单元105从比较单元102接收到目标电压“V_target”，然后基于目标电压“V_target”的电平变化，产生电流控制信号来调整工作信号产生器101的输出工作电压“V_in”的逻辑电平。若工作电压“V_in”达到一个特定条件，例如拥有相同于参考电压“V_ref”的值/电平，则比较单元102的目标电压“V_target”的输出可被反转成第一逻辑电平(例如低逻辑电平)来保持工作信号产生器101(其对于下一个操作周期未改变)的工作电压“V_in”输出的电平；否则，比较单元102的目标电压“V_target”输出将可能位于第二逻辑电平(例如高逻辑电平)，用来在下一个操作周期中，指示/切换反馈单元105逐步更改工作信号产生器101的工作电压“V_in”输出的电平。

在自动功率控制(APC)电路108与工作信号产生器101和反馈单元105电性连接之前，需要作信号测量校准，来减小自动功率控制电路108上可预见的阻抗效应。测试工具104如参数测量单元(Parameter Measuring Unit，PMU)或伏特计会连着多个探针，其中包括两个分别接触测量垫片106与107的探针(未图示)，是用于测出测量垫片107上的电压值来作为信号校准用的。类似的，在探针与各自测量垫片106、107之间出现非理想化的接触，则两个接触阻抗(Contacting Resistance)如电阻“Rin3”和“Rin4”将在探针与各自测量垫片106、107之间自然产生。测试工具104将产生一个高阻抗输入。此外，与测量垫片106相连接的其中一个探针是接地的。不过，在电路系统1中，各测量垫片106、107所占用的使用面积是被限定在大约50μm×50μm，并且探针之间的间距保持在大约40μm。