[发明专利]蚀刻剂和利用其制造包括薄膜晶体管的电子装置的方法有效

专利信息
申请号: 200810086825.4 申请日: 2008-03-19
公开(公告)号: CN101307444A 公开(公告)日: 2008-11-19
发明(设计)人: 曹奎哲;金广男 申请(专利权)人: 三星SDI株式会社
主分类号: C23F1/14 分类号: C23F1/14;C23C30/00
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 代理人: 郭鸿禧;谭昌驰
地址: 韩国京畿*** 国省代码: 韩国;KR
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 蚀刻 利用 制造 包括 薄膜晶体管 电子 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种蚀刻剂,用于蚀刻具有铜层和钛层、或铜层和钛合金层多层层叠 结构的多层膜,所述蚀刻剂包括:

氟离子源;

过氧化氢;

硫酸盐;

磷酸盐;

唑类化合物;

溶剂,

其中,氟离子源存在的浓度为0.01wt%至10wt%,过氧化氢存在的浓度 为1wt%至20wt%,硫酸盐存在的浓度为0.1wt%至10wt%,磷酸盐存在的 浓度为0.1wt%至10wt%,唑类化合物存在的浓度为0.01wt%至5wt%,溶剂 以平衡量存在。

2.如权利要求1所述的蚀刻剂,其中,氟离子源从由氟化氢、氟化铵、 氟化氢铵、氟化钾、氟化钠及它们的组合组成的组中选择。

3.如权利要求1所述的蚀刻剂,其中,硫酸盐是从由A2SO4、AHSO4、 BSO4及它们的组合组成的组中选择的化合物,A从由碱金属、铵离子及它们 的组合组成的组中选择,B为碱土金属。

4.如权利要求1所述的蚀刻剂,其中,磷酸盐是式子为DxHyPO4的化 合物,其中,x和y是0至3的整数,x+y=3,D从由碱金属、碱土金属、铵 离子及它们的组合组成的组中选择。

5.如权利要求1所述的蚀刻剂,其中,唑类化合物从由烷基咪唑、吡唑、 甲苯并三唑、苯并三唑、氨基四唑及它们的组合组成的组中选择,所述烷基 为C1至C7的烷基。

6.如权利要求1所述的蚀刻剂,其中,溶剂为净化水或去离子水。

7.一种包括薄膜晶体管基底的电子装置的制造方法,包括:

通过沉积钛或钛合金以及铜来形成具有铜层和钛层、或铜层和钛合金层 多层层叠的结构的多层膜;

通过光致抗蚀剂法在多层膜上形成选择性掩模;

使包括氟离子源、过氧化氢、硫酸盐、磷酸盐、唑类化合物以及溶剂的 蚀刻剂对经过掩模化的多层膜进行作用,以形成图案,

其中,氟离子源存在的浓度为0.01wt%至10wt%,过氧化氢存在的浓度 为1wt%至20wt%,硫酸盐存在的浓度为0.1wt%至10wt%,磷酸盐存在的 浓度为0.1wt%至10wt%,唑类化合物存在的浓度为0.01wt%至5wt%,溶剂 以平衡量存在。

8.如权利要求7所述的方法,其中,将经图案化的多层膜用于薄膜晶体 管的栅电极。

9.如权利要求7所述的方法,其中,将经图案化的多层膜用于薄膜晶体 管的源电极或漏电极。

10.如权利要求7所述的方法,其中,将包括薄膜晶体管的基底应用于 薄膜晶体管-液晶显示器。

11.如权利要求7所述的方法,其中,将包括薄膜晶体管的基底应用于 有机发光二极管显示器。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星SDI株式会社,未经三星SDI株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200810086825.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top