[发明专利]蚀刻剂和利用其制造包括薄膜晶体管的电子装置的方法有效
申请号: | 200810086825.4 | 申请日: | 2008-03-19 |
公开(公告)号: | CN101307444A | 公开(公告)日: | 2008-11-19 |
发明(设计)人: | 曹奎哲;金广男 | 申请(专利权)人: | 三星SDI株式会社 |
主分类号: | C23F1/14 | 分类号: | C23F1/14;C23C30/00 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人: | 郭鸿禧;谭昌驰 |
地址: | 韩国京畿*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 蚀刻 利用 制造 包括 薄膜晶体管 电子 装置 方法 | ||
1.一种蚀刻剂,用于蚀刻具有铜层和钛层、或铜层和钛合金层多层层叠 结构的多层膜,所述蚀刻剂包括:
氟离子源;
过氧化氢;
硫酸盐;
磷酸盐;
唑类化合物;
溶剂,
其中,氟离子源存在的浓度为0.01wt%至10wt%,过氧化氢存在的浓度 为1wt%至20wt%,硫酸盐存在的浓度为0.1wt%至10wt%,磷酸盐存在的 浓度为0.1wt%至10wt%,唑类化合物存在的浓度为0.01wt%至5wt%,溶剂 以平衡量存在。
2.如权利要求1所述的蚀刻剂,其中,氟离子源从由氟化氢、氟化铵、 氟化氢铵、氟化钾、氟化钠及它们的组合组成的组中选择。
3.如权利要求1所述的蚀刻剂,其中,硫酸盐是从由A2SO4、AHSO4、 BSO4及它们的组合组成的组中选择的化合物,A从由碱金属、铵离子及它们 的组合组成的组中选择,B为碱土金属。
4.如权利要求1所述的蚀刻剂,其中,磷酸盐是式子为DxHyPO4的化 合物,其中,x和y是0至3的整数,x+y=3,D从由碱金属、碱土金属、铵 离子及它们的组合组成的组中选择。
5.如权利要求1所述的蚀刻剂,其中,唑类化合物从由烷基咪唑、吡唑、 甲苯并三唑、苯并三唑、氨基四唑及它们的组合组成的组中选择,所述烷基 为C1至C7的烷基。
6.如权利要求1所述的蚀刻剂,其中,溶剂为净化水或去离子水。
7.一种包括薄膜晶体管基底的电子装置的制造方法,包括:
通过沉积钛或钛合金以及铜来形成具有铜层和钛层、或铜层和钛合金层 多层层叠的结构的多层膜;
通过光致抗蚀剂法在多层膜上形成选择性掩模;
使包括氟离子源、过氧化氢、硫酸盐、磷酸盐、唑类化合物以及溶剂的 蚀刻剂对经过掩模化的多层膜进行作用,以形成图案,
其中,氟离子源存在的浓度为0.01wt%至10wt%,过氧化氢存在的浓度 为1wt%至20wt%,硫酸盐存在的浓度为0.1wt%至10wt%,磷酸盐存在的 浓度为0.1wt%至10wt%,唑类化合物存在的浓度为0.01wt%至5wt%,溶剂 以平衡量存在。
8.如权利要求7所述的方法,其中,将经图案化的多层膜用于薄膜晶体 管的栅电极。
9.如权利要求7所述的方法,其中,将经图案化的多层膜用于薄膜晶体 管的源电极或漏电极。
10.如权利要求7所述的方法,其中,将包括薄膜晶体管的基底应用于 薄膜晶体管-液晶显示器。
11.如权利要求7所述的方法,其中,将包括薄膜晶体管的基底应用于 有机发光二极管显示器。
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