[发明专利]改善低电压输出的比较器电路架构有效
申请号: | 200810087333.7 | 申请日: | 2008-03-21 |
公开(公告)号: | CN101540598A | 公开(公告)日: | 2009-09-23 |
发明(设计)人: | 叶茂祥 | 申请(专利权)人: | 盛群半导体股份有限公司 |
主分类号: | H03K5/24 | 分类号: | H03K5/24 |
代理公司: | 隆天国际知识产权代理有限公司 | 代理人: | 陈 晨 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 改善 电压 输出 比较 电路 架构 | ||
1.一种改善低电压输出的比较器电路架构,包括偏压电路、差动对级电路与输出级电路,其特征在于:该差动对级电路分别与具有最低可工作电压的该偏压电路、输出级电路连接,并且该偏压电路最低可工作电压大于该输出级电路电压;在比较器输入差动对级电路与输出级电路之间,增设两个连接至电源电压的电容;
其中该输出级电路包含P型金属氧化物半导体场效应晶体管及N型金属氧化物半导体场效应晶体管,且输出级电路电压是N型金属氧化物半导体场效应晶体管的导通电压。
2.一种改善低电压输出的比较器电路架构,包括偏压电路、差动对级电路与输出级电路,其特征在于:该差动对级电路分别与具有最低可工作电压的该偏压电路、输出级电路连接,并且该偏压电路最低可工作电压大于该输出级电路电压;在比较器输入差动对级电路与输出级电路之间,增设两个连接至接地的电容;
其中该输出级电路包含P型金属氧化物半导体场效应晶体管及N型金属氧化物半导体场效应晶体管,且输出级电路电压是N型金属氧化物半导体场效应晶体管的导通电压。
3.一种比较器电路的操作方法,用于权利要求1或2所述的改善低电压输出的比较器电路架构,其输出状态包括不可预知信号状态、指定电压及正常工作状态,电源电压由零电位爬升或由高电位下降,该操作方法包括以下步骤:
步骤a,开始;
步骤b,判断电源电压是否大于输出级电路电压,若判断结果为是,执行步骤d;若判断结果为否,执行步骤c;其中该输出级电路包含P型金属氧化物半导体场效应晶体管及N型金属氧化物半导体场效应晶体管,且输出级电路电压是N型金属氧化物半导体场效应晶体管的导通电压;
步骤c,比较器输出不可预知信号状态;
步骤d,判断电源电压是否大于偏压电路最低工作电压,若判断结果为是,执行步骤f;若判断结果为否,执行步骤e;
步骤e,比较器输出维持于指定电压;
步骤f,比较器输出为正常工作状态;以及
步骤g,结束。
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