[发明专利]格式化/测试通用序列总线装置的方法无效
申请号: | 200810087787.4 | 申请日: | 2008-03-31 |
公开(公告)号: | CN101409111A | 公开(公告)日: | 2009-04-15 |
发明(设计)人: | 周圭璋;马治刚;李威若;沈明祥 | 申请(专利权)人: | 智多星电子科技有限公司 |
主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56 |
代理公司: | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 孙皓晨 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 格式化 测试 通用 序列 总线 装置 方法 | ||
1.一种格式化/测试通用序列总线装置的方法,其特征在于:其是利用一含有计算系统的测试主机实现的,所述的方法是包括:
耦接复数USB装置至所述的测试主机,每一所述的USB装置包括一快闪控制器与至少一个闪存装置,其中每一所述的USB装置包括一扩充的USB连接器插头,耦接一印刷电路版装置或耦接一板上芯片,其具有至少一个闪存装置与快闪控制器,其中所述的扩充USB连接器插头包括:
一扩充接脚基板,具有一扩充长度,其大于或等于标准USB连接器插头的接脚基板的标准长度;
复数插头的标准金属接触接脚,位于所述的接脚基板上,所述的扩充USB连接器插头的标准接脚基板插入标准USB插槽的一凹槽内,标准金属接触接脚与所述的插头标准金属接触接脚实质电性接触;与
复数插头扩充金属接触接脚位于所述的扩充接脚基板上,所述的扩充USB连接器插头的所述的扩充接脚基板插入扩充USB插槽的一凹槽内,使位于所述的扩充接脚基板上的所述的插头扩充金属接触接脚与位于所述的扩充USB插槽上的插槽扩充金属接触接脚实质电性接触;
从每一所述的USB装置读取至少一控制器端点描述符值,核对每一所述的USB装置的所述的控制器端点描述符值是与储存在所述的测试主机的描述符值相配;与
对具有一有效端点描述符值的每一所述的USB装置格式化/测试,通过以管线方式将预定数据写入至闪存装置内,之后从所述的闪存装置内读取所述的预定数据,将受读取的所述的预定数据与存在所述的测试主机的已知良好数据值比较。
2.根据权利要求1所述的格式化/测试通用序列总线装置的方法,其特征在于:还包括安装一USB驱动器至所述的测试主机,指示所述的计算机系统一旦侦测所述的USB装置就阻止标准的USB注册流程。
3.根据权利要求1所述的格式化/测试通用序列总线装置的方法,其特征在于:还包括设置所述的USB装置,使所述的USB装置连接至一面板。
4.根据权利要求3所述的格式化/测试通用序列总线装置的方法,其特征在于:在所述的USB装置连接至所述的面板之前,还包括单一化所述的面板,或在连续格式化/测试所有所述的USB装置后,单一化所述的面板。
5.根据权利要求1所述的格式化/测试通用序列总线装置的方法,其特征在于:从每一所述的USB装置读取所述的控制器端点描述符值的步骤,其括读取至少一组态描述符值、一大量储存类别码值、一供货商辨识值与一产品辨识值。
6.根据权利要求1所述的格式化/测试通用序列总线装置的方法,其特征在于:还包括显示一相对应的有色旗标在所述的测试主机的一监视器上,以核对存在每一所述的USB装置的所述的控制器端点描述符值是与所述的储存的描述符值相配。
7.根据权利要求1所述的格式化/测试通用序列总线装置的方法,其特征在于:在所述的格式化/测试步骤中,其包括扫瞄储存在所述的闪存装置的不良区块数据,以及核对每个闪存装置的储备储存容量是等于一预定大小。
8.根据权利要求1所述的格式化/测试通用序列总线装置的方法,其特征在于:在所述的格式化/测试步骤中,其包括写入至少两不良区域数据副本至所述的闪存装置的预定区块中,其中所述的不良区域数据是辨识在所述的闪存装置上的不良区块。
9.根据权利要求1所述的格式化/测试通用序列总线装置的方法,其特征在于:所述的闪存装置包括复数个非挥发性记忆单元,其为一单一层单元类型或一多层单元类型。
10.根据权利要求1所述的格式化/测试通用序列总线装置的方法,其特征在于:所述的测试/格式化包括写入至少一句柄数据与启动码数据,或写入使用者所提供的数据,或写入还新序号、日期码、产品版本码数值至所述的闪存装置的预定区块中。
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