[发明专利]改变化学电阻传感器的灵敏度和/或选择性的方法无效
申请号: | 200810088180.8 | 申请日: | 2008-03-28 |
公开(公告)号: | CN101368924A | 公开(公告)日: | 2009-02-18 |
发明(设计)人: | Y·约瑟夫;T·沃斯迈耶;安田章夫 | 申请(专利权)人: | 索尼德国有限责任公司 |
主分类号: | G01N27/12 | 分类号: | G01N27/12 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 段晓玲;范赤 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 改变 化学 电阻 传感器 灵敏度 选择性 方法 | ||
1.改变化学电阻传感器的灵敏度和/或选择性的方法,所述化学电阻传 感器包括具有被包埋在非导电性基质中的许多导电性或半导电性颗 粒的敏感层,该敏感层包括许多可氧化的化学官能团,所述方法包 括以下步骤:
让所述敏感层进行氧化反应,
其特征在于所述方法应用于多个化学电阻传感器的化学电阻 传感器阵列,各所述传感器具有所述敏感层,其中不同所述传感器 的所述敏感层进行氧化反应到不同程度。
2.根据权利要求1的方法,其特征在于所述氧化反应是受控制的氧化 反应而没有让该传感器未受规定地暴露于空气。
3.根据权利要求1的方法,其特征在于所述氧化反应是通过气相的反 应和/或通过液相的反应。
4.根据权利要求3的方法,其特征在于所述反应包括下列气相反应中 的任何一种或几种:
-让所述敏感层在规定的空气温度下暴露于空气达到规定的一 段时间,
-让所述敏感层暴露于臭氧,
-让所述敏感层暴露于氧等离子体,
-让所述敏感层暴露于SO3,
-让所述敏感层暴露于氮氧化物。
5.根据权利要求3的方法,其特征在于所述氧化反应包括下列液相反 应中的任何一种或几种:
-让所述敏感层暴露于过氧化氢水溶液,
-让所述敏感层暴露于KMnO4水溶液。
6.根据权利要求4-5中任何一项的方法,其特征在于所述暴露是通过 使用在180-1200nm范围内的波长的电磁辐射辐射所述敏感层下发 生。
7.根据权利要求4的方法,其特征在于所述暴露于臭氧、氧等离子体、 SO3或氮氧化物的过程经历了在1秒至600秒范围内的一段时间。
8.根据权利要求1的方法,其特征在于,在所述敏感层内,可氧化的 化学官能团被所述氧化反应氧化。
9.根据权利要求8的方法,其特征在于仅仅一定比例的所述许多可氧 化的化学官能团被所述氧化反应氧化。
10.根据权利要求1的方法,其特征在于所述导电性或半导电性颗粒是 具有<1μm的平均直径的颗粒。
11.根据权利要求10的方法,其特征在于所述颗粒是金属颗粒或半导体 颗粒。
12.根据权利要求10的方法,其特征在于所述颗粒选自金属颗粒、半导 电性纳米粒子、从有机材料形成的导电性或半导电性纳米粒子。
13.根据权利要求12的方法,其特征在于所述金属颗粒是贵金属颗粒, 造币用金属颗粒,或这些金属在单个纳米粒子中的结合。
14.根据权利要求13的方法,其特征在于所述贵金属颗粒是Au、Pt、 Ag、或Pd颗粒,所述造币用金属颗粒是Cu、Ni、或Fe颗粒,所 述这些金属在单个纳米粒子中的结合是合金或芯/壳金属纳米粒子。
15.根据权利要求12的方法,其特征在于所述半导电性纳米粒子为II/VI 半导体粒子或III/V半导体粒子。
16.根据权利要求15的方法,其特征在于II/VI半导体粒子为CdS、CdSe、 CdTe、ZnS、ZnSe、ZnTe、HgS、HgSe、或HgTe粒子,所述III/V 半导体粒子为GaAs、或InP粒子。
17.根据权利要求12的方法,其特征在于所述从有机材料形成的导电性 或半导电性纳米粒子是导电聚合物粒子。
18.根据权利要求12的方法,其特征在于所述导电性颗粒是炭黑颗粒或 金属装饰的炭黑颗粒。
19.根据权利要求18的方法,其特征在于所述金属装饰的炭黑颗粒是 Pt/炭黑或PtRu/炭黑纳米粒子。
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