[发明专利]电源供应网的规划方法及其集成电路布局结构无效
申请号: | 200810088426.1 | 申请日: | 2008-03-26 |
公开(公告)号: | CN101546747A | 公开(公告)日: | 2009-09-30 |
发明(设计)人: | 庄佳霖 | 申请(专利权)人: | 瑞昱半导体股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/522 | 分类号: | H01L23/522;H01L23/528;H01L27/02;G06F17/50 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 魏晓刚 |
地址: | 中国台湾新*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电源 供应 规划 方法 及其 集成电路 布局 结构 | ||
技术领域
本发明关于一种电源供应网的规划方法,特别是一种巨集区块的电源供应网的规划方法。
背景技术
在集成电路的设计过程中,由于APR(automatic placement and routing)工具可以帮助电路设计者轻易地将电路元件放置于晶片的适当位置,并且亦可帮助电路设计者进行电源布线的规划,因此APR工具已经成为电路设计者一个不可或缺的工具之一。
一般来说,在APR工具中,电路元件是利用两种不同的区块进行规划,其中一种称之为标准区块(standard cell),顾名思义,标准区块为一种标准化的区块,其具有特定的大小以及固定的电源规划方式,其用来规划一些常用的标准电路元件,比如反相器、逻辑门等等,如此一来,APR工具便可将多个标准区块整齐地排列在晶片区域中;而另一种则称之为巨集区块(macroblock),巨集区块与标准区块有所不同,其不具有固定的大小,其用来规划一些电路设计者所设计的特定功能电路,比如SRAM、ADC等等电路;如业界所熟知,在实际应用中,巨集区块的尺寸通常与电路设计者所设计出来的功能电路大小相关,而APR工具亦可自动地将巨集区块置放于晶片区域的适当位置。
然而,虽然APR工具可以依循一定的布线规则,将巨集区块适当地规划于晶片区域的适当位置中,并且示出其电源供应网(power mesh)(电源供应网通常设置于电路的上层金属层中),但是由于APR工具只能制式地进行规划,细节的部分仍仰赖人工进行手动调整。因此,APR工具仍有相当大的改进空间。
在此请参阅图1,图1为传统APR工具所规划的巨集区块100的示意图。在此例中,巨集区块是由环状电源供应线110、120以及内部电路130所组成,环状电源供应线110、120均为环状结构,环绕着内部电路130,并且耦接至内部电路130(未示于图1中)中的各个电路元件;其中,电源供应线110是通过上层的电源供应网(未示于图1中),以将外部电源导入内部电路130,而电源供应线120亦用来通过上层的电源供应网(未示于图1中),以将地电源(ground voltage)导入内部电路130中。
请注意到,前述的环状电源供应线110、120仅为一例,在实际应用中,巨集区块100的电源供应线可为任何形状,而不以环绕内部电路130的环型架构为限。
请继续参阅图2,图2示出了图1的巨集区块100,以及位于巨集区块100上层的电源供应网200。如图2所示,虚线的部分为图1所示的巨集区块100(包括环状电源供应线110、120及内部电路130),而实线的部分则为传统APR工具所规划出的电源供应网200。如图所示,电源供应网200具有水平的电源供应线210以及垂直的电源供应线220,其中,垂直电源供应线220位于水平电源供应线210的上层,且电源供应线210与电源供应线220彼此垂直而形成一矩阵;此外,电源供应线210包括多条彼此交错配置的电源线211与接地线212,电源供应线220亦包括多条彼此交错配置的电源线221与接地线222。在此请注意,为了简便起见,图中仅示出三组电源供应线210、220,一般来说,电源供应线210、220的数量更多,而形成的电源供应网也较为稠密。
此外,在此请注意,图2所示的小方块230为过孔(via)及插塞(via plug),其用来连接不同层的结构。在此例中,由于电源线211、221对应相同的电性,因此电源线211、221是通过过孔及插塞230彼此互相耦接,另一方面,由于接地线212、222亦对应相同的电性,因此接地线212、222也会通过过孔及插塞230彼此耦接。
如业界所熟知,电源线211、221耦接至外部电源(未显示于图中),并且会在适当的位置通过过孔及插塞耦接至前述的环状电源供应线110,以将外部电源所提供的电压导入巨集区块100中;而电源线212、222耦接至地电压,且会在适当的位置通过过孔及插塞耦接至前述的环状电源供应线120,以将地电压导入巨集区块中100。
在此请注意,由于外部电源/地电源必须导入巨集区块100中,一般会适当地设计外部电源至巨集区块100之间的电阻值,以使整体电路得到较佳的效能;而外部电源至巨集区块100之间的电阻值与过孔的数目直接相关;如业界所熟知,过孔的数目越多,代表外部电源至巨集区块100之间的电阻值可借由电阻的并联效应而降低。
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