[发明专利]连接测试装置与方法及使用该装置的芯片

权利要求书

1.一种连接测试装置，用以测试一第一基板与一第二基板之间的一连接， 该连接测试装置包括：

一电荷源，其配置在该第一基板，用以在一测试期间提供电荷至该连接 的第一端；

一电荷吸收单元，其配置在该第二基板，用以在该测试期间自该连接的 第二端吸收电荷；以及

一比较器，其配置在该第一基板，用以在该测试期间比较该连接的第一 端的电压与一参考电压，以判断该连接是否正确。

2.如权利要求1所述的连接测试装置，还包括一开关单元，其配置在该 第一基板，用以在该测试期间电性连接该电荷源及该连接的第一端。

3.如权利要求1所述的连接测试装置，其中，当该连接正确，则该电荷 源得以通过该连接而与该第二基板上的该电荷吸收单元电性连接，使得该比 较器输出一第一值，以判断该连接为正确。

4.如权利要求1所述的连接测试装置，其中，当该连接不正确，则该电 荷源与该第二基板上的该电荷吸收单元断接，使得该比较器输出一第二值， 以判断该连接为不正确。

5.如权利要求1所述的连接测试装置，其中该第一基板为一第一芯片， 而该第二基板为一第二芯片。

6.如权利要求1所述的连接测试装置，其中该电荷源包括一电流源。

7.如权利要求1所述的连接测试装置，其中该电荷源包括一上拉电阻， 其第一端耦接一系统电压，而其第二端耦接至该连接的第一端；而该电荷吸 收单元包括一二极管，在该测试期间，该二极管的阴极耦接一接地电压，而 该二极管的阳极耦接至该连接的第二端。

8.如权利要求1所述的连接测试装置，其中该电荷源包括一下拉电阻， 其第一端耦接一接地电压，而其第二端耦接至该连接的第一端；而该电荷吸 收单元包括一二极管，在该测试期间，该二极管的阳极耦接一系统电压，而 该二极管的阴极耦接至该连接的第二端。

9.如权利要求1所述的连接测试装置，其中该电荷吸收单元包括一静电 放电元件。

10.如权利要求1所述的连接测试装置，其中该第一基板与该第二基板之 间还包括一第二连接，而该连接测试装置还包括：

一第二电荷吸收单元，其配置在该第二基板，用以在该测试期间自该第 二连接的第二端吸收电荷；以及

一第一开关单元，其配置在该第一基板，且耦接于该电荷源与该连接的 第一端之间，用以在该测试期间的第一子期间使该电荷源电性连接至该连接 的第一端；以及

一第二开关单元，其配置在该第一基板，且耦接于该电荷源与该第二连 接的第一端之间，用以在该测试期间的第二子期间使该电荷源电性连接至该 第二连接的第一端；

其中该比较器还在该测试期间的第二子期间比较该第二连接的第一端 的电压与该参考电压，以判断该第二连接是否正确。

11.如权利要求10所述的连接测试装置，其中该第一开关单元与该第二 开关单元为多工器。

12.一种连接测试方法，用以测试一第一基板与一第二基板之间的一连 接，该连接测试方法包括：

提供一电荷源于该第一基板，使该电荷源在一测试期间提供电荷至该连 接的第一端；

提供一电荷吸收单元于该第二基板，使该电荷吸收单元在该测试期间自 该连接的第二端吸收电荷；以及

在该测试期间检测该连接的第一端或第二端的电压，以判断该连接是否 正确。

13.如权利要求12所述的连接测试方法，其中，于该检测步骤中，还包 括依据一比较器的一参考电压以判断该连接是否正确。