[发明专利]一种基站侧无线基带芯片测试装置及方法

权利要求书

1.一种基站侧无线基带芯片的测试装置，其特征在于，所述装置包括相互连接的待测芯片以及控制器单元；其中：

所述待测芯片，用于作为上行可靠性测试的被测对象；

所述控制器单元，用于控制所述待测芯片的上行天线数据流的产生时间点，并在正确的时间窗内为所述待测芯片配置上行工作参数及产生所述上行天线数据流，通过查询所述待测芯片的上行工作状态，以及读出所述待测芯片输出的上行处理结果，并将所述上行处理结果与上行参考结果进行比较，来判断所述待测芯片上行处理结果的正确性。

2.按照权利要求1所述的装置，其特征在于，所述控制器单元包括主控单元和仆控单元，其中：

所述仆控单元，分别与所述待测芯片以及所述主控单元连接，用于在所述主控单元的控制下，将接收的来自所述主控单元的数据保存，并在指定的时间点向所述待测芯片输出上行天线数据流；

所述主控单元，用于分别对所述仆控单元和所述待测芯片进行参数配置和状态查询，向所述仆控单元写入数字基带天线的上行天线数据，作为上行测试激励用，并读出待测芯片根据配置参数和输入的上行天线数据流进行处理的输出处理结果，以及判断所述待测芯片上行输出的正确性。

3.按照权利要求2所述的装置，其特征在于，所述仆控单元为现场可编程逻辑阵列FPGA，所述主控单元为处理器；其中，所述处理器是物理上的一个处理器，或是多个处理器，所述多个处理器为同类型或不同类型的。

4.按照权利要求3所述的装置，其特征在于，所述FPGA内含有存储单元访问控制器，所述FPGA下挂有存储单元，用于在所述存储单元访问控制器的控制下作为所述FPGA的数据存储空间；所述处理器下挂有存储单元，用于作为所述处理器的数据存储空间。

5.按照权利要求1所述的装置，其特征在于，所述待测芯片在具体物理实现上是一个芯片或是多个芯片；所述待测芯片包含上行功能和下行功能其中的一种或两种。

6.一种基站侧无线基带芯片的测试装置，其特征在于，所述装置包括相互连接的待测芯片以及控制器单元；其中：

所述待测芯片，用于作为下行可靠性测试的被测对象；

所述控制器单元，用于控制所述待测芯片的下行天线数据流的采集时间点，在正确的时间窗内为所述待测芯片配置下行工作参数及采集所述待测芯片的所述下行天线数据流，并将采集的所述下行天线数据流与下行参考结果进行比较，以及查询待测芯片的下行工作状态，来判断所述待测芯片下行处理结果的正确性。

7.按照权利要求6所述的装置，其特征在于，所述控制器单元包括主控单元和仆控单元，其中：

所述仆控单元，分别与所述待测芯片以及所述主控单元连接，用于在所述主控单元的控制下，将接收的来自所述主控单元的数据保存，在指定时间点从所述待测芯片采集下行天线数据流，读出待测芯片输出的下行处理结果，并将其与下行参考结果进行比特级比较，判断待测芯片下行输出的正确性，并将判断结果保存；

所述主控单元，用于分别对所述仆控单元和所述待测芯片进行参数配置和状态查询，向所述仆控单元写入数字基带天线的下行天线数据，作为所述下行参考结果用；获取仆控单元的所述判断结果，根据获取的判断结果和所述待测芯片的状态信息综合判断待测芯片工作的正确性。

8.按照权利要求7所述的装置，其特征在于，所述仆控单元为现场可编程逻辑阵列FPGA，所述主控单元为处理器；其中，所述处理器是物理上的一个处理器，或是多个处理器，所述多个处理器为同类型或不同类型的。

9.按照权利要求8所述的装置，其特征在于，所述FPGA内含有存储单元访问控制器，所述FPGA下挂有存储单元，用于在所述存储单元访问控制器的控制下作为所述FPGA的数据存储空间；所述处理器下挂有存储单元，用于作为所述处理器的数据存储空间。

10.按照权利要求6所述的装置，其特征在于，所述待测芯片在具体物理实现上是一个芯片或是多个芯片；所述待测芯片包含上行功能和下行功能其中的一种或两种。