[发明专利]光学装置及其校正方法无效

专利信息
申请号: 200810090983.7 申请日: 2008-04-08
公开(公告)号: CN101554328A 公开(公告)日: 2009-10-14
发明(设计)人: 包又菘;李扬汉 申请(专利权)人: 硕颉科技股份有限公司
主分类号: A61B5/1455 分类号: A61B5/1455
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 周国城
地址: 台湾省*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 光学 装置 及其 校正 方法
【权利要求书】:

1.一种光学装置,其特征在于,包括:

一光源模块,输出一光,该光经由一介质传递,该光学装置基于该光受该介质的影响,调整该光学装置的组件所使用的参数。

2.如权利要求1所述的光学装置,其特征在于,该光源模块还包括:

一测量光源,输出一测量光,其中该测量光经由该介质传递至一待测物,其中,该光学装置基于该测量光经由该介质所产生的变异,调整该光学装置内部组件所使用的参数,以校正该光学装置在使用该测量光测量该待测物时的受该介质影响所产生的变异。

3.如权利要求1所述的光学装置,其特征在于,该光源模块还包括:

一测量/校正光源,分时输出一测量光以及一校正光,该测量光经由该介质传递至一待测物,其中,该光学装置基于该校正光经由该介质所产生的变异,调整光学装置内部组件所使用的参数,以校正该光学装置在使用该测量光测量该待测物时受该介质影响所产生的变异。

4.如权利要求1所述的光学装置,其特征在于,该光源模块还包括:

至少一测量光源,至少输出一测量光,该测量光经由该介质传递至一待测物;以及

至少一校正光源,输出一校正光,其中该光学装置基于该校正光经由该介质所产生的变异,调整光学装置内部组件所使用的参数,以校正该光学装置在使用该测量光测量该待测物时受该介质影响所产生的变异。

5.如权利要求4所述的光学装置,其特征在于,还包括:

一光感测模块,包括至少一光传感器,该光传感器感测该测量光以及该校正光,以分别得到一测量信号以及一校正信号。

6.如权利要求5所述的光学装置,其特征在于,还包括:

一校正模块,根据该校正信号校正该测量信号。

7.如权利要求6所述的光学装置,其特征在于,该校正模块还包括:

一滤波单元,用以对该测量信号以及该校正信号进行一滤波动作后输出;

一信号放大单元,将该滤波单元所输出的信号放大后输出;

一模拟/数字转换单元,模拟数字转换由该信号放大单元所输出的信号后输出;

一光源驱动单元,用以驱动该测量光源以及该校正光源;

一查窗体元,提供一查表数据;

一数据库,可存取一使用者信息;以及

一运算单元,根据该查表数据以及该使用者信息,对由该模拟数字转换单元所输出的信号进行运算,以调整该滤波单元、该信号放大单元、模拟/数字转换单元,以及该光源驱动单元所使用的参数。

8.如权利要求5所述的光学装置,其特征在于,该校正模块,包括:

一缓冲模块,用于承载该待测物,其中根据该测量信号以及该校正信号,决定该缓冲模块的高度、该测量光源与该光传感器的距离,以及该测量光与该校正光射出的角度。

9.如权利要求8所述的光学装置,其特征在于,该缓冲模块包括两缓冲器,该些缓冲器设置于可稳固承载该待测物的两侧。

10.如权利要求8所述的光学装置,其特征在于,该缓冲器包括胶体或弹性体。

11.如权利要求5所述的光学装置,其特征在于,该光源模块为两测量光源搭配一校正光源,该光感测模块则具有三光传感器。

12.如权利要求1所述的光学装置,其特征在于,该光的波长介于300nm~600nm之间。

13.如权利要求1所述的光学装置,其特征在于,该介质包括一空气与一皮肤组织。

14.如权利要求1所述的光学装置,其特征在于,该介质包括一光纤。

15.一种光学装置的校正方法,其特征在于,包括:

输出一光,该光经由一介质传递;以及

基于该光受该介质的影响,调整该光学装置的组件所使用的参数。

16.如权利要求15所述的光学装置的校正方法,其特征在于,输出该光,该光经由该介质传递的步骤还包括:

输出一测量光以及一校正光,该测量光经由该介质传递至一待测物。

17.如权利要求16所述的光学装置的校正方法,其特征在于,基于该光受该介质的影响,调整该光学装置的组件所使用的参数的步骤还包括:

基于该校正光经由该介质所产生的变异,调整光学装置内部组件所使用的参数,以校正该光学装置在使用该测量光测量该待测物时受该介质影响所产生的变异。

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