[发明专利]电容式触控装置及其控制方法

说明书

技术领域

本发明是有关一种电容式触控装置，特别是关于一种使用两个以上阵列电容式(projected capacitance)触控集成电路(Integrated Circuit；IC)扫描大尺寸触控面板的电容式触控装置及其控制方法。

背景技术

在传统应用上，大尺寸电容式触控萤幕皆使用表面电容式(surfacecapacitive)感测技术，但表面电容式感测技术是利用流向银幕各端点的一组电流不同来判别手指的位置，因此当触碰触控面板的手指数为二指以上时，回报电流组数仍为一组，故仅能辨别一组绝对坐标位置，例如在二维矩阵时仅能回报一组X，Y参数，因而无法达到多指触控的功能。

所有触点可定位(All Points Addressable；APA)型阵列电容式感测技术虽然可以达到多指触控的功能，但是其需要对每个点感测器(Point Sensor)进行充放电的动作，以矩阵形状的触控面板来说，当X轴及Y轴的感应线(trace)增加时，APA型阵列电容式的像素数目将急剧增加，因而造成取像速度(frame rate)下降，故不适用于大尺寸触控面板的应用。

另一种轴交错(Axis Intersect；AI)型阵列电容式感测技术也同样能达到多指触控的功能。图1显示传统应用在小尺寸触控面板的AI型阵列电容式感测技术，其包括一小尺寸触控面板10以及一AI型阵列电容式触控IC12扫描触控面板10，以一最大可支持扫描22条感应线的AI型阵列电容式触控IC12为例来说，虽然应用在X轴及Y轴各有10条感应线TRX1～TRX10及TRY1～TRY10的小尺寸触控面板10时取像速度还不错，但是若要将AI型阵列电容式触控IC12应用于X轴及Y轴各有40条感应线TRX1～TRX40及TRY1～TRY40的大尺寸触控面板14时，如图2所示，则必须增加AI型阵列电容式触控IC12可扫描的总感应线数量，然而，触控IC12每次对电容充放电所花费的时间占整体触控面板应用上的取像速度的比例非常大，也就是说取像速度问题主要由IC12每个帧(frame)对电容充放电所决定，故以增加可扫描感应线数的方法应用于大尺寸触控面板14将会有一非常大的缺点，就是整体应用上的取像速度将会严重下降，进而影响应用端的效能。

因此，一种应用于大尺寸面板且具有多指触控功能以及良好取像速度的感测方法，乃为所冀。

发明内容

本发明的目的之一，在于提出一种使用两个以上阵列电容式触控IC扫描大尺寸触控面板的电容式触控装置及其控制方法。

本发明的目的之一，在于提出一种应用在大尺寸触控面板且具有多指触控功能及良好取像速度的电容式触控装置及其控制方法。

根据本发明，一种电容式触控装置及其控制方法包括一大尺寸的触控面板、至少一第一电容式触控集成电路以及一第二电容式触控集成电路。其中该至少一第一电容式触控集成电路主要负责扫描该触控面板，若有需要该至少一第一电容式触控集成电路也可以加入部分运算于其中。该第二电容式触控集成电路主要用于控制该电容式触控装置的整体运作、将来自该至少一第一电容式触控集成电路的扫描数据进行最后运算以及与外部沟通，此外该第二电容式触控集成电路也可以参与扫描工作。

该电容式触控装置具有多指触控功能，还可以有效的改善取像速度。

附图说明

图1显示传统应用在小尺寸触控面板的AI型阵列电容式感测技术；

图2显示传统应用在大尺寸触控面板的AI型阵列电容式感测技术；

图3显示本发明的第一实施例；

图4显示本发明的第二实施例；

图5显示本发明的第三实施例；

图6显示本发明的第四实施例；

图7显示本发明的第五实施例；

图8显示本发明的第六实施例；以及

图9显示本发明的第七实施例。

附图标号：

10    触控面板

12    触控IC

14    触控面板

20    电容式触控装置

22    触控面板

24    触控IC

26    触控IC

30    电容式触控装置

32    触控面板

34    触控IC

36    触控IC

38    触控IC

40    电容式触控装置

42    触控面板

44    触控IC

46    触控IC

48    触控IC