[发明专利]用于测试具有一连接接口的至少一装置的系统及方法无效

专利信息
申请号: 200810092270.4 申请日: 2008-04-14
公开(公告)号: CN101320071A 公开(公告)日: 2008-12-10
发明(设计)人: 钟明坤;江长豪;黄国栋 申请(专利权)人: 慧荣科技股份有限公司
主分类号: G01R31/02 分类号: G01R31/02;G01R31/3185;G06F11/267
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 代理人: 陆嘉
地址: 台湾省新竹县*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 用于 测试 具有 连接 接口 至少 装置 系统 方法
【说明书】:

技术领域

发明是关于一种用于测试具有一连接接口的至少一装置的系统及方法;更具体而言,本发明是关于一种借助感测一过电流而测试具有一连接接口的至少一装置的系统及方法。

背景技术

使用通用串行总线(universal serial bus;USB)连接接口或IEEE 1394连接接口的装置,其容量及功用不断改良的同时,价格也日趋合理。具有前述接口的装置非常普遍,例如快闪记忆卡读卡器、USB快闪记忆体驱动器(USB flashdrives;UFDs)以及可携式硬盘。这些装置都可适用于电脑的USB连接端口。

而具有连接接口的各种装置在制造后都必须加以测试,以控制产品的品质。这些测试包含了断路测试、短路测试以及功能测试,其中功能测试更进一步包含了写入测试、读取测试、自检测(self-test)、码设定或是固件更新。

一种用于测试具有连接接口的各种装置的现有方法及测试系统是利用一也具有连接接口的主机(例如电脑),连接至欲测试的装置,进而进行所有测试。这些连接接口可为USB连接接口及/或IEEE 1394连接接口。在理想的测试条件之下,应执行断路/短路(过电流故障)测试及功能测试,以测试具有一USB或IEEE 1394连接接口的装置。然而,若需要同时执行断路/短路及功能测试,则需要一测试机器用以进行断路/短路测试,并需要利用另一测试机器来进行功能测试。而前述利用二测试机器来进行具有连接接口的装置的测试将会非常耗时。因此,在传统测试方法中,通常会省略断路/短路测试。而更由于在传统测试方法中需要同时测试所有被测装置,因此被省略的断路/短路测试(也称为过电流故障测试)将致使整个测试系统停机并停止测试其它被测装置。因而,当至少一被测试装置出现过电流故障时,将无法完成测试过程。

一种用于测试具有一连接接口的装置的现有测试系统1如图1所示。该连接接口为USB连接接口或IEEE 1394连接接口等等。主机11同时连接至多个被测装置101、102、103、...、126,以便可通过该连接接口而测试这些被测装置。由于主机11只能提供从A至Z的磁盘字母,故主机11所能同时测试的被测装置不能超过26个。此外,在测试系统1的传统测试方法中,因同时测试所有装置,故无法隔离未通过测试的测试装置。

因此,发明一种可测试具有连接接口的装置且具有成本效益、不会因装置故障而中断的测试系统甚为重要。

发明内容

本发明的一目的是提供一种用于测试具有一连接接口的至少一装置的系统,其包含一主机、一测试设备及一电源供应器。该主机发送一测试信号。该测试设备是电性连接至该主机,并于接收到该测试信号后提供一电压给至少一装置。该电源供应器是用以提供一电压至该测试设备。当流过至少一装置的一电流大于一预定值时,该测试设备停止提供该电压给至少一装置,并发送一过电流信号至该主机。

本发明的另一目的是提供一种用于测试具有一连接接口的至少一装置的方法。该方法包含:发送一测试信号;接收该测试信号后,提供一电压给该至少一装置;判断流过该至少一装置的一电流是否大于一预定值;若是,则停止提供该电压给该至少一装置;以及发送一过电流信号。

而若判断出流过该至少一装置的电流不大于该预定值,则该方法更包含下列步骤:更新该至少一装置的一固件;以及对该至少一装置进行一读/写测试。

借助上述配置,本发明能够提供一种用于测试具有连接接口的装置的系统,其具有相当地成本效益且不会因被测试装置的故障而中断整个测试流程。

在参阅图式及随后描述的实施方式后,所属技术领域具有通常知识者便可了解本发明的其他目的,以及本发明的技术手段及实施态样。

附图说明

图1是绘示一现有测试系统的方框图;

图2是绘示本发明的一第一实施例的方框图;以及

图3是绘示本发明的一第二实施例的一流程图。

主要元件符号说明:

1:测试系统                     2:系统

11:主机                        21:主机

23:测试设备                    25:电源供应器

101、102、103、...、126:待测装置

200:使能信号                   201:驱动器

202、204、206、208:测试信号

203:微处理器                   210:过电流信号

205、207、209、211:限流模组

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