[发明专利]电容式触控装置的检测方法无效
申请号: | 200810092517.2 | 申请日: | 2008-04-18 |
公开(公告)号: | CN101561733A | 公开(公告)日: | 2009-10-21 |
发明(设计)人: | 洪泽伦;黄荣寿;蔡欣学 | 申请(专利权)人: | 义隆电子股份有限公司 |
主分类号: | G06F3/044 | 分类号: | G06F3/044 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 任默闻 |
地址: | 台湾省*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电容 式触控 装置 检测 方法 | ||
技术领域
本发明是有关一种电容式触控装置,特别是关于一种电容式触控装置的检测方法。
背景技术
在传统应用上,大尺寸电容式触控萤幕皆使用表面电容式(surfacecapacitive)感测技术,但表面电容式感测技术是利用流向银幕各端点的一组电流不同来判别手指的位置,因此当触碰触控面板的手指数为二指以上时,回报电流组数仍为一组,故仅能辨别一组绝对坐标位置,例如在二维矩阵时仅能回报一组X,Y参数,因而无法达到多指触控的功能。
所有触点可定位(A11 Points Addressable;APA)型阵列电容式感测技术虽然可以达到多指触控的功能,但是其需要对每个点感测器(Point Sensor)进行充放电的动作,以矩阵形状的触控面板来说,当X轴及Y轴的感应线(trace)增加时,APA型阵列电容式的像素数目将急剧增加,因而造成取像速度(frame rate)下降,故不适用于大尺寸触控面板的应用。
另一种轴交错(Axis Intersect;AI)型阵列电容式感测技术也同样能达到多指触控的功能。图1显示传统应用在小尺寸触控面板的AI型阵列电容式感测技术,其包括一小尺寸触控面板10以及一AI型阵列电容式触控IC12扫描触控面板10,以一最大可支持扫描22条感应线的AI型阵列电容式触控IC12为例来说,虽然应用在X轴及Y轴各有10条感应线TRX1~TRX10及TRY1~TRY10的小尺寸触控面板10时取像速度还不错,但是若要将AI型阵列电容式触控IC12应用于X轴及Y轴各有40条感应线TRX1~TRX40及TRY1~TRY40的大尺寸触控面板14时,如图2所示,则必须增加AI型阵列电容式触控IC12可扫描的总感应线数量,然而,触控IC12每次对电容充放电所花费的时间占整体触控面板应用上的取像速度的比例非常大,也就是说取像速度问题主要由IC12每个帧(frame)对电容充放电所决定,故以增加可扫描感应线数的方法应用于大尺寸触控面板14将会有一非常大的缺点,就是整体应用上的取像速度将会严重下降,进而影响应用端的效能。
发明内容
本发明的目的,在于提出一种电容式触控装置的检测方法。
一种电容式触控装置包括一触控面板具有多条感应线以及多个触控集成电路扫描该多条感应线,其中该多条感应线中的第N条感应线连接该多个触控集成电路中的第一触控集成电路,该多条感应线中的第N+1条感应线连接该多个触控集成电路中的第二触控集成电路。根据本发明,一种该电容式触控装置的检测方法用以判断在边界处的该第N条感应线的感应量。
在一实施例中,该检测方法包括以该第N条感应线前后几条感应线的模拟数字转换值来取得该第N条感应线的感应量。
在另一实施例中,该检测方法是先对该第N条感应线进行充放电以取得一第一模拟数字转换值,再由该第一模拟数字转换值得到一第二模拟数字转换值作为该第N条感应线的感应量,其中该第二模拟数字转换值为该第一模拟数字转换值的函数。
在又一实施例中,该检测方法包括每一该触控集成电路每次只使用一条感应线行充放电以取得一模拟数字转换值,并且利用该模拟数字转换值决定所使用的感应线的感应量。
该电容式触控装置的检测方法是用以判断在边界处的感应线的感应量,以避免边界处的感应线的感应量有不正确或是偏小的情形。
附图说明
图1显示传统应用在小尺寸触控面板的AI型阵列电容式感测技术;
图2显示传统应用在大尺寸触控面板的AI型阵列电容式感测技术;
图3显示一种使用二颗以上AI型阵列电容式触控IC扫描触控面板的电容式触控装置;
图4显示图3的局部放大图;
图5显示解决边界问题的第一实施例;
图6显示解决边界问题的第二实施例;以及
图7显示解决边界问题的第三实施例。
附图标号:
10 触控面板
12 触控IC
14 触控面板
20 电容式触控装置
22 触控面板
24 触控IC
26 触控IC
具体实施方式
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