[发明专利]钻针的表面镀膜方法与镀膜钻针无效
申请号: | 200810094602.2 | 申请日: | 2008-04-22 |
公开(公告)号: | CN101565821A | 公开(公告)日: | 2009-10-28 |
发明(设计)人: | 林玉雪 | 申请(专利权)人: | 林玉雪 |
主分类号: | C23C16/22 | 分类号: | C23C16/22;C23C16/455;C23C16/52 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 | 代理人: | 梁 挥;祁建国 |
地址: | 台湾省*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 表面 镀膜 方法 | ||
1.一种钻针的表面镀膜方法,其特征在于,包括以下步骤:
a,提供一钻针;
b,清洁该钻针的表面,并对该钻针加热;
c,在该钻针的表面形成一附着膜;
d,在该附着膜的表面形成一混合膜,该混合膜的成分含有一非晶质类钻石材料与该附着膜所含的成分,且在该混合膜中,越远离该钻针处,该非晶质类钻石材料的含量越高;以及
e,在该混合膜的表面形成一非晶质类钻石膜,用于制成一镀膜钻针。
2.根据权利要求1所述的钻针的表面镀膜方法,其特征在于,该步骤b还包含以下步骤:
b1,将该钻针设置于一真空环境中;
b2,提供一外加电力而在该真空环境中产生一偏压电场;
b3,将至少一气体导入该真空环境,该气体为氢气或氩气;以及
b4,利用该偏压电场将该气体解离为一电浆状物质,以清洁该钻针的表面。
3.根据权利要求2所述的钻针的表面镀膜方法,其特征在于,在该步骤b中,该真空环境的一真空压力在初始时控制在1.5~4ubar;并在20分钟后调升至4~7ubar。
4.根据权利要求2所述的钻针的表面镀膜方法,其特征在于,在进行该步骤c时,共历时1~5分钟,并将该真空压力控制在4~7ubar;在进行该步骤d时,初始时,将该真空压力控制在4~7ubar,再过1~5分钟后,将该真空压力由4~7ubar调升至13~17ubar,并且维持5分钟时;在进行该步骤e时,将该真空压力设定在13~17ubar维持2分钟以形成该非晶质类钻石膜。
5.根据权利要求2所述的钻针的表面镀膜方法,其特征在于,在该步骤b中,该外加电力由一可调式电源供应器所提供,初始时,该外加电力的功率为300瓦,该偏压电场的一偏压值为300伏特;20分钟后,该输出电力的功率调升为600瓦、该偏压值调升为500~600伏特;之后,该输出电力的功率又调升为1000瓦,并将该偏压值调整为550伏特,维持20分钟以清洁该钻针的表面,并对该钻针予以加热。
6.根据权利要求2所述的钻针的表面镀膜方法,其特征在于,在进行该步骤c时,该偏压电场的一偏压值设定为550~600伏特;在进行该步骤d时,该偏压值由550~600伏特,调降为400~550伏特;在进行该步骤e时,该偏压值设定为1000伏特。
7.根据权利要求2所述的钻针的表面镀膜方法,其特征在于,在该步骤b中,该气体包含氢气及氩气,且该气体被解离后所形成的电浆状物质是电浆状的氢离子与氩离子。
8.根据权利要求7所述的钻针的表面镀膜方法,其特征在于,在该步骤b中,初始时,该气体中氢气与氩气流入该真空环境的流率分别设定为20sccm、50sccm;20分钟后,该气体中氢气与氩气的流率分别调升为45~60sccm与200~250sccm。
9.根据权利要求2所述的钻针的表面镀膜方法,其特征在于,在进行该步骤c时,该附着膜由一氢气以及一含硅气体经解离而沉积形成,该含硅气体为四甲基硅烷,该附着膜所含的成分包括有硅、碳化硅与碳氢化合物,该氢气流入该真空环境的流率控制在45~60sccm,且该含硅气体流入该真空环境的流率控制在180~250sccm。
10.根据权利要求2所述的钻针的表面镀膜方法,其特征在于,在进行该步骤d时,该混合膜由氢气、一含硅气体以及一含碳气体所解离而沉积形成。
11.根据权利要求10所述的钻针的表面镀膜方法,其特征在于,在进行该步骤d时,初始时,该氢气、该含硅气体与该含碳气体流入该真空环境的流率分别设定为45sccm、180sccm与0sccm;经过1~5分钟后,该氢气、该含硅气体与该含碳气体流入该真空环境的流率分别调整为800sccm、50sccm与600sccm;再经过2~5分钟后,该氢气、该含硅气体与该含碳气体流入该真空环境的流率分别调整为800sccm、50sccm与0sccm,用于使该混合膜同时含有该非晶质类钻石以及该附着膜所含的成分。
12.根据权利要求10所述的钻针的表面镀膜方法,其特征在于,该含碳气体为乙炔,而该含硅气体为四甲基硅烷。
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C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
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C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的