[发明专利]钻针的表面镀膜方法与镀膜钻针无效

专利信息
申请号: 200810094602.2 申请日: 2008-04-22
公开(公告)号: CN101565821A 公开(公告)日: 2009-10-28
发明(设计)人: 林玉雪 申请(专利权)人: 林玉雪
主分类号: C23C16/22 分类号: C23C16/22;C23C16/455;C23C16/52
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 代理人: 梁 挥;祁建国
地址: 台湾省*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 表面 镀膜 方法
【权利要求书】:

1.一种钻针的表面镀膜方法,其特征在于,包括以下步骤:

a,提供一钻针;

b,清洁该钻针的表面,并对该钻针加热;

c,在该钻针的表面形成一附着膜;

d,在该附着膜的表面形成一混合膜,该混合膜的成分含有一非晶质类钻石材料与该附着膜所含的成分,且在该混合膜中,越远离该钻针处,该非晶质类钻石材料的含量越高;以及

e,在该混合膜的表面形成一非晶质类钻石膜,用于制成一镀膜钻针。

2.根据权利要求1所述的钻针的表面镀膜方法,其特征在于,该步骤b还包含以下步骤:

b1,将该钻针设置于一真空环境中;

b2,提供一外加电力而在该真空环境中产生一偏压电场;

b3,将至少一气体导入该真空环境,该气体为氢气或氩气;以及

b4,利用该偏压电场将该气体解离为一电浆状物质,以清洁该钻针的表面。

3.根据权利要求2所述的钻针的表面镀膜方法,其特征在于,在该步骤b中,该真空环境的一真空压力在初始时控制在1.5~4ubar;并在20分钟后调升至4~7ubar。

4.根据权利要求2所述的钻针的表面镀膜方法,其特征在于,在进行该步骤c时,共历时1~5分钟,并将该真空压力控制在4~7ubar;在进行该步骤d时,初始时,将该真空压力控制在4~7ubar,再过1~5分钟后,将该真空压力由4~7ubar调升至13~17ubar,并且维持5分钟时;在进行该步骤e时,将该真空压力设定在13~17ubar维持2分钟以形成该非晶质类钻石膜。

5.根据权利要求2所述的钻针的表面镀膜方法,其特征在于,在该步骤b中,该外加电力由一可调式电源供应器所提供,初始时,该外加电力的功率为300瓦,该偏压电场的一偏压值为300伏特;20分钟后,该输出电力的功率调升为600瓦、该偏压值调升为500~600伏特;之后,该输出电力的功率又调升为1000瓦,并将该偏压值调整为550伏特,维持20分钟以清洁该钻针的表面,并对该钻针予以加热。

6.根据权利要求2所述的钻针的表面镀膜方法,其特征在于,在进行该步骤c时,该偏压电场的一偏压值设定为550~600伏特;在进行该步骤d时,该偏压值由550~600伏特,调降为400~550伏特;在进行该步骤e时,该偏压值设定为1000伏特。

7.根据权利要求2所述的钻针的表面镀膜方法,其特征在于,在该步骤b中,该气体包含氢气及氩气,且该气体被解离后所形成的电浆状物质是电浆状的氢离子与氩离子。

8.根据权利要求7所述的钻针的表面镀膜方法,其特征在于,在该步骤b中,初始时,该气体中氢气与氩气流入该真空环境的流率分别设定为20sccm、50sccm;20分钟后,该气体中氢气与氩气的流率分别调升为45~60sccm与200~250sccm。

9.根据权利要求2所述的钻针的表面镀膜方法,其特征在于,在进行该步骤c时,该附着膜由一氢气以及一含硅气体经解离而沉积形成,该含硅气体为四甲基硅烷,该附着膜所含的成分包括有硅、碳化硅与碳氢化合物,该氢气流入该真空环境的流率控制在45~60sccm,且该含硅气体流入该真空环境的流率控制在180~250sccm。

10.根据权利要求2所述的钻针的表面镀膜方法,其特征在于,在进行该步骤d时,该混合膜由氢气、一含硅气体以及一含碳气体所解离而沉积形成。

11.根据权利要求10所述的钻针的表面镀膜方法,其特征在于,在进行该步骤d时,初始时,该氢气、该含硅气体与该含碳气体流入该真空环境的流率分别设定为45sccm、180sccm与0sccm;经过1~5分钟后,该氢气、该含硅气体与该含碳气体流入该真空环境的流率分别调整为800sccm、50sccm与600sccm;再经过2~5分钟后,该氢气、该含硅气体与该含碳气体流入该真空环境的流率分别调整为800sccm、50sccm与0sccm,用于使该混合膜同时含有该非晶质类钻石以及该附着膜所含的成分。

12.根据权利要求10所述的钻针的表面镀膜方法,其特征在于,该含碳气体为乙炔,而该含硅气体为四甲基硅烷。

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