[发明专利]X-射线检测器和X-射线CT设备有效

专利信息
申请号: 200810094969.4 申请日: 2008-04-30
公开(公告)号: CN101569530A 公开(公告)日: 2009-11-04
发明(设计)人: 孙云峰;董加勤;李剑颖 申请(专利权)人: GE医疗系统环球技术有限公司
主分类号: A61B6/03 分类号: A61B6/03;G01T1/161;G01T1/24;H01L31/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 张雪梅;刘宗杰
地址: 美国威*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 射线 检测器 ct 设备
【权利要求书】:

1.一种使用将X-射线的光子直接转换成电信号的半导体的X- 射线检测器,该X-射线检测器包括:

具有检测单元的阵列的单层半导体衬底,所述检测单元将X-射 线的光子直接转换成电信号;

第一数据收集装置,其以光子计数模式收集关于所述检测单元的 数据;以及

第二数据收集装置,其以电流测量模式收集关于所述检测单元的 数据,

其中,所述检测单元的阵列具有:

布置在所述半导体衬底的前面和背面的其中之一上的公共电极; 以及

布置在所述半导体衬底的前面和背面的另一个上的多个独立电 极,其中每个独立电极被配置成共享一个像素的两个电极,并且其中 所述两个电极中的一个连接到所述第一数据收集装置,而所述两个电 极中的另一个连接到所述第二数据收集装置。

2.根据权利要求1的X-射线检测器,其中:

所述检测单元的阵列在所述公共电极所位于的侧上经受X-射线 的入射。

3.根据权利要求1的X-射线检测器,其中:

所述检测单元的阵列在所述独立电极所位于的侧上经受X-射线 的入射。

4.根据权利要求1的X-射线检测器,其中:

所述检测单元的阵列在所述独立电极和所述公共电极之间的半 导体层的侧面上经受X-射线的入射。

5.一种X-射线CT设备,其通过使用X-射线扫描对象来收集 投影数据并且基于这些投影数据重建图像,该X-射线CT设备包括:

具有检测单元的阵列的单层半导体衬底,所述检测单元将X-射 线的光子直接转换成电信号;

第一数据收集装置,其以光子计数模式收集关于所述检测单元的 数据;

第二数据收集装置,其以电流测量模式收集关于所述检测单元的 数据;以及

图像重建装置,其基于所述第一数据收集装置收集的数据重建图 像,并且基于所述第二数据收集装置收集的数据重建图像,

其中,所述检测单元的阵列具有:

布置在所述半导体衬底的前面和背面的其中之一上的公共电极; 以及

布置在所述半导体衬底的前面和背面的另一个上的多个独立电 极,其中每个独立电极被配置成共享一个像素的两个电极,并且其中 所述两个电极中的一个连接到所述第一数据收集装置,而所述两个电 极中的另一个连接到所述第二数据收集装置。

6.根据权利要求5的X-射线CT设备,其中:

所述检测单元的阵列在所述公共电极所位于的侧上经受X-射线 的入射。

7.根据权利要求5的X-射线CT设备,其中:

所述检测单元的阵列在所述独立电极所位于的侧上经受X-射线 的入射。

8.根据权利要求5的X-射线CT设备,其中:

所述检测单元的阵列在所述独立电极和所述公共电极之间的半 导体层的侧面上经受X-射线的入射。

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