[发明专利]PCB测试机用密度转换方法及其装置

说明书

【技术领域】

本发明涉及一种印刷电路板(Printed Circuit Board;PCB)测试领域，尤 其是指一种PCB测试机用密度转换装置。

【背景技术】

在PCB测试行业里，有一种标准通用的测试点规范——四密度（即在1平 方英寸均匀地排列400个测试接触点），而每个测试点必须与等测试电路连接， 而现有的PCB板测试器械均是通过连线将测试电路引脚直接焊接至测试接触点 进行测试工作，然而现下电路板的集成度越来越高，焊点越来越小，密度越密， 而相比之下PCB板测试机的发展往往会有一定滞后，加之PCB板测试机的价格 很高，使用企业往往无法承担对相应测试机的更新换代，但这也意味着企业在 失掉机会，甚至导致企业在激烈竞争的市场大潮中落败。如何通过对原有测试 机做尽量小的改动下使其适应或者部分适应快速增长中更高密度焊点PCB的测 试需求已经成为业内急需解决的首要问题。

【发明内容】

本发明的目的在于克服上述缺陷，提供一种可直接应用于原有测试机上的 密度转换装置，通过该装置实现了在原有较低测试密度的测试机上对较高密度 PCB板进行测试的目的。

本发明的目的是这样实现的：一种PCB测试机用密度转换装置，其改进之 处在于：该转换装置包括两层结构，上层为转换针盘，下层为排针，上下层相 叠并通过座脚架设于测试机针床上；所述转换针盘上表面与测试夹具探针对应 设有网状通孔，通孔内设置有弹簧复位机构，弹簧复位机构主体为弹簧，其上 端用于顶触测试夹具探针，下端通过引线与排针相连；所述排针由基板及固定 其上的连接针组成，连接针两端伸出于基板上下表面之外，其上端与转换针盘 引线相连，下端用于与测试机针床探针相连；

上述结构中，所述排针连接针下端的伸出部分长度大于排针基板下表面到 测试机针床探针的距离；

上述结构中，所述转换针盘的网状通孔内设有用于卡接弹簧复位机构的卡 环；

上述结构中，所述弹簧复位机构包括一个弹簧，其上端收缩形成有对应测 试夹具探针的针托，下端与引线电气相连。

本发明的有益效果在于提供了一种PCB测试机用密度转换装置，该装置包 括上下两层，上层为转换针盘，下层为排针，通过转换针盘弹簧复位机构中的 弹簧不仅起有效消除上端针托与测试夹具探针间隙，确保其间良好电气连接的 作用，还使得上端针托通过该弹簧与下端引线电气相连，从而将密度固定不变 的的测试夹具探针转换为密度可变的引线方式，实现了密度转换。而设置于转 换针盘下的排针，其伸出基板外的连接针上端与转换针盘引线相连，下端较长 延伸于测试机针床中与其内探针相连，并竖直对探针进行顶压，使得探针下的 弹簧处于一个压紧的状态，以确保测试机针床探针与引线间良好的电气接触。 由此可见，该装置通过这两部分的配合，大大提高了密度转换后用于测试的可 靠性，使得在不改变测试机原本配置的基础上对高密度PCB板进行测试变得可 行。

【附图说明】

下面结合附图及实施例对本发明做进一步说明。

图1为本发明的整体结构示意图。

图2为图1所示a-a剖视示意图。

图3为图1中所示b-b剖视示意图。

图4为本发明第一具体实施例转换针盘的内部结构示意图。

图5为本发明第二具体实施例转换针盘的内部结构示意图。

【具体实施方式】

一种PCB测试机用密度转换装置，该转换装置设置于测试机针床1与测试 夹具3间，用于将原本探针密度较高的测试夹具3转换用于原有探针密度较低 的测试机针床1上，从而实现对高密度PCB板测试的目的。

参见图1，该转换装置包括上下两层，其下层为一个设置于测试机针床1之 上的排针基板7，测试机针床探针101成较低的四密度排列，见图2的a-a剖视 图，排针基板7的连接针702是对应测试机针床探针101设置的，连接针702 固定设置于排针基板7内，其两端均伸出于排针基板7上下表面之外，且连接 针702下端的伸出长度略长于壳体下表面到测试机针床探针101间的距离c，排 针基板7通过脚柱701架于测试机针床1上后，由其内的排针的针头下端延伸 部分插入测试机针床与其内探针相触，并给予针床探针一个垂直方向的顶压力， 使得探针下的弹簧处于一个压紧状态，从而达到消除间隙保证良好电气连接的 目的。