[发明专利]成像装置、缺陷像素校正装置、装置中的处理方法和程序无效

专利信息
申请号: 200810096914.7 申请日: 2008-05-07
公开(公告)号: CN101304484A 公开(公告)日: 2008-11-12
发明(设计)人: 大槻博树 申请(专利权)人: 索尼株式会社
主分类号: H04N5/217 分类号: H04N5/217;H04N9/04
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 代理人: 余刚;吴孟秋
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 成像 装置 缺陷 像素 校正 中的 处理 方法 程序
【权利要求书】:

1.一种成像装置,包括:

缺陷像素存储装置,用于存储包括在成像器件中的多个 像素中的缺陷像素的位置信息和表示包括多个缺陷像素的缺 陷像素组是否包括与所述位置信息相关的所述缺陷像素的像 素缺陷信息,所述位置信息与所述像素缺陷信息相关联;

位置信息计算装置,用于基于存储在所述缺陷像素存储 装置中的所述缺陷像素的所述位置信息,计算在包括所述缺陷 像素的所述缺陷像素组中的其他缺陷像素的位置信息;

图像输入装置,用于输入通过所述成像器件拍摄的图像;

缺陷像素确定装置,用于基于存储在所述缺陷像素存储 装置中的所述位置信息和所计算得到的位置信息确定所述输 入图像中的每个像素是否为缺陷像素;

像素共有缺陷确定装置,用于基于存储在所述缺陷像素 存储装置中的所述像素缺陷信息和所计算得到的位置信息确 定被确定为缺陷像素的所述像素是否包括在所述缺陷像素组 中;

连续缺陷确定装置,用于基于被确定为缺陷像素的所述 像素的所述位置信息来确定被确定为缺陷像素的所述像素的 邻近像素是否为缺陷像素;

像素类型确定装置,用于确定所述输入图像中的所述每 个像素的类型;

内插像素选择装置,用于基于所述缺陷像素的所述类型、 表示所述缺陷像素是否包括在所述缺陷像素组中的确定结果 和表示被确定为缺陷像素的所述像素的所述邻近像素是否为 缺陷像素的确定结果,选择被确定为所述缺陷像素的所述像素 的周边像素;

内插值计算装置,用于基于所选择的周边像素的值计算 被确定为缺陷像素的所述像素的内插值;以及

内插值替换装置,用于用计算得到的内插值替换被确定 为缺陷像素的所述像素的值。

2.根据权利要求1所述的成像装置,

其中,所述缺陷像素组为包括多个邻近缺陷像素的像素 组。

3.根据权利要求1所述的成像装置,

其中,所述成像器件包括具有像素共有结构的像素组, 以及

其中,所述缺陷像素组是其中包括在具有所述像素共有 结构的所述像素组中的多个像素具有缺陷的像素组。

4.根据权利要求3所述的成像装置,

其中,具有对角线像素阵列的滤色片被安装在所述成像 器件的光接收单元上,以及

其中,具有所述像素共有结构的所述像素组包括所述对 角线像素阵列中的4个邻近像素。

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