[发明专利]成像装置、缺陷像素校正装置、装置中的处理方法和程序无效
申请号: | 200810096914.7 | 申请日: | 2008-05-07 |
公开(公告)号: | CN101304484A | 公开(公告)日: | 2008-11-12 |
发明(设计)人: | 大槻博树 | 申请(专利权)人: | 索尼株式会社 |
主分类号: | H04N5/217 | 分类号: | H04N5/217;H04N9/04 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 余刚;吴孟秋 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 成像 装置 缺陷 像素 校正 中的 处理 方法 程序 | ||
1.一种成像装置,包括:
缺陷像素存储装置,用于存储包括在成像器件中的多个 像素中的缺陷像素的位置信息和表示包括多个缺陷像素的缺 陷像素组是否包括与所述位置信息相关的所述缺陷像素的像 素缺陷信息,所述位置信息与所述像素缺陷信息相关联;
位置信息计算装置,用于基于存储在所述缺陷像素存储 装置中的所述缺陷像素的所述位置信息,计算在包括所述缺陷 像素的所述缺陷像素组中的其他缺陷像素的位置信息;
图像输入装置,用于输入通过所述成像器件拍摄的图像;
缺陷像素确定装置,用于基于存储在所述缺陷像素存储 装置中的所述位置信息和所计算得到的位置信息确定所述输 入图像中的每个像素是否为缺陷像素;
像素共有缺陷确定装置,用于基于存储在所述缺陷像素 存储装置中的所述像素缺陷信息和所计算得到的位置信息确 定被确定为缺陷像素的所述像素是否包括在所述缺陷像素组 中;
连续缺陷确定装置,用于基于被确定为缺陷像素的所述 像素的所述位置信息来确定被确定为缺陷像素的所述像素的 邻近像素是否为缺陷像素;
像素类型确定装置,用于确定所述输入图像中的所述每 个像素的类型;
内插像素选择装置,用于基于所述缺陷像素的所述类型、 表示所述缺陷像素是否包括在所述缺陷像素组中的确定结果 和表示被确定为缺陷像素的所述像素的所述邻近像素是否为 缺陷像素的确定结果,选择被确定为所述缺陷像素的所述像素 的周边像素;
内插值计算装置,用于基于所选择的周边像素的值计算 被确定为缺陷像素的所述像素的内插值;以及
内插值替换装置,用于用计算得到的内插值替换被确定 为缺陷像素的所述像素的值。
2.根据权利要求1所述的成像装置,
其中,所述缺陷像素组为包括多个邻近缺陷像素的像素 组。
3.根据权利要求1所述的成像装置,
其中,所述成像器件包括具有像素共有结构的像素组, 以及
其中,所述缺陷像素组是其中包括在具有所述像素共有 结构的所述像素组中的多个像素具有缺陷的像素组。
4.根据权利要求3所述的成像装置,
其中,具有对角线像素阵列的滤色片被安装在所述成像 器件的光接收单元上,以及
其中,具有所述像素共有结构的所述像素组包括所述对 角线像素阵列中的4个邻近像素。
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