[发明专利]一种光束平行度和瞄准误差的检测方法无效
申请号: | 200810097206.5 | 申请日: | 2008-05-06 |
公开(公告)号: | CN101261119A | 公开(公告)日: | 2008-09-10 |
发明(设计)人: | 崔岩梅;周自力;师会生;夏树林;冷杰;李涛;刘春梅;张富根 | 申请(专利权)人: | 中国航空工业第一集团公司北京长城计量测试技术研究所 |
主分类号: | G01B11/26 | 分类号: | G01B11/26;G01B11/00 |
代理公司: | 中国航空专利中心 | 代理人: | 陈宏林 |
地址: | 1000*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 光束 平行 瞄准 误差 检测 方法 | ||
技术领域
本发明是一种光束平行度和瞄准误差的检测方法,属于光学测量技术领域,涉及光束平行度和瞄准误差的检测方法。
背景技术
光轴平行性测量设备一般有一个可照亮的十字分划板,这个分划板位于光轴平行性测量设备的焦平面上,因此照亮分划板时,光轴平行性测量设备输出平行光,十字分划板相当于一个无穷远目标。检测时,被检设备位于光轴平行性测量设备平行光的输出端,瞄准光轴平行性测量设备的十字分划板,瞄准过程结束。因此,光轴平行性测量设备输出的光束平行度精度应远远高于瞄准设备的瞄准精度。但尚未有方法和装置对光束平行度和瞄准误差进行定量描述。
发明内容
该发明正是针对现有方法中存在的缺点而设计提供了一种光束平行度和瞄准误差的检测方法,其目的是为光轴平行性测量设备提供一种精度更高精度的检测方法。
本发明技术方案是通过以下措施来实现的:
该种光束平行度和瞄准误差的检测方法的步骤是:
(1)检测前,首先将光轴平行性测量设备、被测仪器、直线导轨、多齿分度台和经纬仪调水平,照亮光轴平行性测量设备的分划十字,并调整被测仪器的瞄准十字与光轴平行性检测设备的分划板十字中心重合;
(2)然后在光轴平行性测量设备和被测仪器之间的直线导轨上放置五棱镜并固定,调整五棱镜使经纬仪的瞄准线与光轴平行性测量设备的分划板十字重合,再移动直线导轨在垂直于光束光轴的界面内运动,由经纬仪读出光轴平行性测量设备的光束平行度误差;
(3)将多齿分度台旋转90度,照亮被检仪器的分划板,由经纬仪读出被检仪器分划板十字中心对应的角度,得到瞄准仪器瞄准光轴平行性测量设备的瞄准误差。
附图说明
图1是本发明技术方案中光束平行度的检测装置结构示意图
图2是本发明技术方案中瞄准误差检测装置结构示意图
具体实施方式
以下将结合附图和实施实例对本发明技术方案作进一步地详述:
参见附图1~2所示,光束平行度和瞄准误差的检测装置由、被测仪器5(瞄准精度30″)、直线导轨4(导轨直线性2″)、五棱镜2、多齿分度台3(精度为0.3″)、经纬仪6(精度为1″)构成。光束平行度的被检仪器是光轴平行性测量设备1(精度为5″~10″),瞄准误差的被检仪器是瞄准仪器5。该种光束平行度和瞄准误差的检测方法,其步骤是:
(1)检测前,首先将光轴平行性测量设备1、被测仪器5、直线导轨4、多齿分度台3和经纬仪6调水平,照亮光轴平行性测量设备1的分划十字,并调整被测仪器5的瞄准十字与光轴平行性检测设备1的分划板十字中心重合;
(2)然后在光轴平行性测量设备1和被测仪器5之间的直线导轨4上放置五棱镜2并固定,调整五棱镜2使经纬仪6的瞄准线与光轴平行性测量设备1的分划板十字重合,再移动直线导轨4在垂直于光轴的界面内运动,由经纬仪6读出光轴平行性测量设备1的光束平行度误差为3″;
(3)将多齿分度台3旋转90度,照亮被检仪器5的分划板,由经纬仪6读出被检仪器5分划板十字中心对应的角度,得到瞄准仪器5瞄准光轴平行性测量设备1的瞄准误差为30″。
在上述检测过程中,需要说明的是:
1、五棱镜2的转角偏差应首先检定得到,测量过程中将该量去除。
2、经纬仪6可以由其他测角仪器替代。
3、五棱镜2可以由其他光路转角机构替代。
4、多齿分度台3可以由其他精密测角、转角机构替代。
5、直线导轨4在光轴截面范围内移动时,导轨直线性引入的误差应远远小于待检量。
6、多齿分度台3引入的误差应远远小于待检量。
7、经纬仪6或其他测角设备(如平行光管)引入的误差应远远小于待检量。
本发明技术方案与现有技术相比,其突出优点是可以进行高精度光束平行度和瞄准误差的检测。精度可达到2″。
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