[发明专利]一种光通道性能监测模块无效

专利信息
申请号: 200810098611.9 申请日: 2008-05-30
公开(公告)号: CN101552638A 公开(公告)日: 2009-10-07
发明(设计)人: 莫霜;潘忠灵;蒋友山 申请(专利权)人: 福州高意通讯有限公司
主分类号: H04B10/08 分类号: H04B10/08;H04J14/02
代理公司: 厦门市诚得知识产权代理事务所 代理人: 方惠春;黄国强
地址: 350000福建*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 一种 通道 性能 监测 模块
【说明书】:

【技术领域】

发明属于光电设备制造领域,涉及一种用在光传输系统如密集波分复用(DWDM,dense wavelength division multiplexing)系统中的光通道性能监测(OPM,optical performance monitoring)模块。

【背景技术】

在多通道的光网络中,通道的波长和功率稳定性十分重要。光通道的稳定性很大程度上取决于网络中光发射器的性能。随着激光器老化及其工作温度变化,激光器发射的激光波长和强度都易于发生变化。在DWDM网络中由于光通道增加,通道间隔变窄,波长漂移会引起相邻通道的串扰,使光通道波长漂移和强度抖动变得更为明显,这会导致传输数据错误或者传输失败。由此,网络的安全高效运行就越来越需要得到有效的保障和加强。光通道性能监测(OPM)模块就是为满足这些需求而出现的一种精确、轻便和低成本的测试模块。

OPM模块能够对网络传输信号流中每个通道的性能进行实时监测。其监测的三个主要指标为光通道的波长、功率和光信噪比(optical signal to noiseratio,OSNR)。现有的OPM模块从原理上主要分为两种类型,衍射型OPM模块和干涉型OPM模块。

基于衍射型的OPM原理,如图1所示,给出了利用透射式衍射光栅作为衍射元件的OPM基本原理。衍射型的OPM模块中无活动部件,能够对不同波长的光信号进行同时采样,其优点在于稳定性好、测量时间短。而缺点也较为明显:体积较大;存在衍射效应,造成光信号的通道间干扰;受到阵列探测器的单个象素尺寸和象素数量的限制,对光信号的采集有一定误差;高精度、动态范围大的阵列探测器,带来了成本的上升。

干涉型OPM的原理如图2所示,它主要由三部分组成:可调谐滤波器、探测器和信号处理与控制器。这类OPM模块优点在于体积小,光路简单,无衍射影响;采用单个光电探测器,提高了光信号的采集效率、降低了成本。干涉型OPM的缺点在于其核心器件可调谐滤波器目前还很难达到OPM所需要的带宽和速率以及其他指标。由于采用了串行扫描方式,不能对所有信号成分进行同时采样,扫描速度较慢(一般需要几百ms),对系统信号的实时监控有一定的困难。

而在本发明中,基于干涉型OPM的原理,采用了一种快速响应的电光陶瓷来取代现有干涉型OPM模块中的可调滤波器。该发明继承了现有干涉型OPM模块的所有优点:体积小,光路简单,无衍射影响,成本低。同时还改善了干涉型OPM模块的缺点,兼具衍射型OPM模块的优点。首先,该发明的OPM模块扫描时间可达到亚ms量级,远高于现有干涉型OPM模块,可与衍射型OPM模块相比甚至优于很多衍射型OPM模块。其次,该发明在驱动方式上用电控制来取代机械控制,避免了机械控制存在不稳定性的缺陷,而通过对电压控制可以很容易实现高精度定位,增强了可靠性。

【发明内容】

本发明的目的在于:提出了一种基于快速响应的电光陶瓷的光通道性能监测模块方案,这种光通道性能监测模块克服了现有衍射型和干涉型OPM的缺点,兼具有响应速度快、稳定性高、体积小、结构简单、无衍射影响、无机械控制、可靠性高的优点。

本发明所采用的技术方案是:

一种光通道性能监测模块,沿着监测输入信号光路方向依次设置有基本单元:准直器、可调谐F-P滤波器、光电探测器,并且可调谐F-P滤波器与电压驱动器连接。

所述的可调谐F-P滤波器可由一种快速响应的电光陶瓷片构成,并且,在该电光陶瓷片两面镀反射膜构成F-P滤波器,在反射膜外还镀有透明的导电膜电极,导电膜电极与电压驱动器连接,通过电压驱动器给该电光陶瓷片施加电场。

所述的可调谐F-P滤波器厚度适当,保证该F-P滤波器在整个通信带宽内只有一个透射峰。通过改变所述电光陶瓷片的电场强度,可改变其折射率,使所述F-P滤波器的透射峰移动,实现所述F-P滤波器的可调谐。

所述的电光陶瓷片具有极高的电光响应速度,可在很短的时间(亚ms量级)内扫描整个通信带宽内的光信号。

所述的电光陶瓷片具有很高的电光系数,该F-P滤波器的透射峰在该通信带宽内移动一周只需要很小的电压变化量。

所述的可调谐F-P滤波器还可由其它可变折射率或者厚度的、可以快速响应的材料来构成。

所述的可调谐F-P滤波器调谐方式不仅限于电光,还包括磁光、热光等方式。

所述的F-P滤波器后面可增加一个透光的衬底,以降低电光陶瓷片的加工难度,增强F-P滤波器的稳定性。

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