[发明专利]一种提高磁性多层膜结构中偏置场稳定性的方法无效
申请号: | 200810098871.6 | 申请日: | 2008-05-09 |
公开(公告)号: | CN101345286A | 公开(公告)日: | 2009-01-14 |
发明(设计)人: | 王寅岗;李子全;陈建康;周广宏 | 申请(专利权)人: | 南京航空航天大学 |
主分类号: | H01L43/12 | 分类号: | H01L43/12;H01F10/08 |
代理公司: | 南京经纬专利商标代理有限公司 | 代理人: | 魏学成 |
地址: | 210016*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 提高 磁性 多层 膜结构 偏置 稳定性 方法 | ||
1、一种提高CoFe/Cu/CoFe/IrMn自旋阀结构多层膜结构中偏置场稳定性的方法,包括以下步骤:
(1)、利用高真空磁控溅射设备在经过常规方法清洗的1mm厚的单晶硅衬底上依次沉积厚度为5nm的下部缓冲层Ta,厚度为5nm的CoFe铁磁层,厚度为2.5nm的Cu层,厚度为5nm CoFe层,厚度为12nm的IrMn和厚度为8nm的保护层Ta,上述磁性薄膜的生长条件:备底真空:5×10-7Pa,溅射用高纯度氩气气压:7×10-2Pa,溅射功率:120W,样品架旋转速率:20rpm,生长温度:室温,生长速率:0.03~0.12nm/s,在沉积时,施加100Oe平面诱导磁场,方向平行于膜面方向;
(2)、沉积好的磁性多层膜采用聚焦离子束工作站进行离子辐照改性,离子辐照的剂量为1×1013ions/cm2,离子束能量为30keV,离子束流为1nA。
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