[发明专利]软性元件挠曲特性的检测方法及其系统有效

专利信息
申请号: 200810099009.7 申请日: 2008-05-12
公开(公告)号: CN101581573A 公开(公告)日: 2009-11-18
发明(设计)人: 温博浚;陈政宪;锺宗颖;柯心怡;黄铭杰 申请(专利权)人: 财团法人工业技术研究院
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24;G01J1/00;G01J3/46;G01B11/16;G01R31/00
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 代理人: 梁 挥;祁建国
地址: 台湾省*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 软性 元件 挠曲 特性 检测 方法 及其 系统
【权利要求书】:

1.一种软性元件挠曲特性的检测方法,其特征在于,包含步骤:

(a)提供一夹持单元、一观测单元、一特性检测单元以及一计算机,该夹持单元、观测单元及特性检测单元分别通过第一移动控制器、第二移动控制器、第三移动控制器与该计算机电性连接,该计算机内输入有一预设曲率半径;

(b)夹持单元设有两个夹臂夹持一软性元件,计算机控制该夹持单元进行作动以挠曲该软性元件,该软性元件为板状;

(c)观测单元撷取该软性元件的侧面轮廓并回传至计算机,计算机再据以计算该软性元件的挠曲半径;

(d)计算机比较该软性元件的挠曲半径与预设曲率,判断该挠曲半径的误差值是否在容许误差范围内;若是,则控制该特性检测单元移动至该软性元件附近,准备进行特性检测;若否,则以回授控制方式回到步骤(b);以及

(e)计算机将软性元件的挠曲曲率与对应的元件特性进行搭配以获得一挠曲曲率-元件特性对应表。

2.如权利要求1所述的软性元件挠曲特性的检测方法,其特征在于,该观测单元为电荷耦合元件摄影机。

3.如权利要求1所述的软性元件挠曲特性的检测方法,其特征在于,该元件特性为光学性质。

4.如权利要求3所述的软性元件挠曲特性的检测方法,其特征在于,该光学性质为亮度。

5.如权利要求3所述的软性元件挠曲特性的检测方法,其特征在于,该光学性质为色度。

6.如权利要求1所述的软性元件挠曲特性的检测方法,其特征在于,该元件特性为机械性质。

7.如权利要求6所述的软性元件挠曲特性的检测方法,其特征在于,该机械性质为表面缺陷。

8.如权利要求6所述的软性元件挠曲特性的检测方法,其特征在于,该机械性质为变形量。

9.如权利要求1所述的软性元件挠曲特性的检测方法,其特征在于,该元 件特性为电性。

10.一种软性元件挠曲特性的检测系统,其特征在于,包含:

一计算机,用以计算一软性元件的挠曲半径;

一夹持单元,通过第一移动控制器与该计算机电性连接,设有两个夹臂,用于夹持该软性元件且在该计算机的控制下进行作动,以弯曲该软性元件,该软性元件为板状;

一观测单元,通过第二移动控制器与该计算机电性连接并撷取该软性元件的侧面轮廓;以及

一特性检测单元,通过第三移动控制器与该计算机电性连接并检测该软性元件的元件特性;

其中,计算机将软性元件的挠曲曲率与对应的元件特性进行搭配以获得一挠曲曲率-元件特性对应表,该计算机内输入有一预设曲率半径;

该计算机比较该软性元件的挠曲半径与预设曲率,判断该挠曲半径的误差值是否在容许误差范围内;若是,则控制该特性检测单元移动至该软性元件附近,准备进行特性检测;若否,则控制该夹持单元进行作动以弯曲该软性元件。

11.如权利要求10所述的软性元件挠曲特性的检测系统,其特征在于,该观测单元为电荷耦合元件摄影机。

12.如权利要求10所述的软性元件挠曲特性的检测系统,其特征在于,该元件特性为光学性质。

13.如权利要求12所述的软性元件挠曲特性的检测系统,其特征在于,该光学性质为亮度。

14.如权利要求12所述的软性元件挠曲特性的检测系统,其特征在于,该光学性质为色度。

15.如权利要求10所述的软性元件挠曲特性的检测系统,其特征在于,该元件特性为机械性质。

16.如权利要求15所述的软性元件挠曲特性的检测系统,其特征在于,该机械性质为表面缺陷。

17.如权利要求15所述的软性元件挠曲特性的检测系统,其特征在于,该机械性质为变形量。

18.如权利要求10所述的软性元件挠曲特性的检测系统,其特征在于, 该元件特性为电性。 

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