[发明专利]MIM电容器有效
申请号: | 200810099876.0 | 申请日: | 2005-07-13 |
公开(公告)号: | CN101308726A | 公开(公告)日: | 2008-11-19 |
发明(设计)人: | 饭冈修;福冈郁人 | 申请(专利权)人: | 富士通株式会社 |
主分类号: | H01G4/005 | 分类号: | H01G4/005;H01G4/228;H01L29/94 |
代理公司: | 隆天国际知识产权代理有限公司 | 代理人: | 张龙哺 |
地址: | 日本神奈*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | mim 电容器 | ||
1.一种MIM电容器,包括:
第一和第二导体图形(11A,11B),埋置在第一层间绝缘膜(11)中而以彼此相对的关系在所述第一层间绝缘膜(11)中连续延伸;以及
第三和第四导体图形(13A,13B),埋置在第三层间绝缘膜(13)中,所述第三层间绝缘膜(13)经由第二层间绝缘膜(12)在所述第一层间绝缘膜(11)上方形成,
所述第三和第四导体图形(13A,13B)以彼此相对的关系在所述第三层间绝缘膜(13)中连续延伸,
其中,第五导体图形(12A)埋置在所述第二层间绝缘膜(12)中而与所述第一和第三导体图形(11A,13A)相对应地在所述第二层间绝缘膜(12)中连续延伸,所述第五导体图形(12A)将所述第一和第三导体图形(11A,13A)连续连接,
第六导体图形(12B)埋置在所述第二层间绝缘膜(12)中而与所述第二和第四导体图形(11B,13B)相对应地在所述第二层间绝缘膜(12)中连续延伸,所述第六导体图形(12B)将所述第二和第四导体图形(11B,13B)连续连接。
2.如权利要求1所述的MIM电容器,其中,所述第一、第三和第五导体图形(11A,13A,12A)具有相同的形状和相同的大小,并且所述第二、第四和第六导体图形(11B,13B,12B)具有相同的形状和相同的大小。
3.如权利要求1所述的MIM电容器,其中,所述第五导体图形(12A)连续于所述第三导体图形(13A)之下形成,所述第五导体图形(12A)在其底部与所述第一导体图形(11A)相接触,所述第六导体图形(12B)连续于所述第四导体图形(13B)之下形成,所述第六导体图形(12B)在其底部与所述第二导体图形(11B)相接触。
4.如权利要求3所述的MIM电容器,其中,所述第三和第四导体图形(13A,13B)被暴露在所述第三层间绝缘膜(13)的表面,所述第三和第四导体图形(13A,13B)具有与所述第三层间绝缘膜(13)表面齐平的各自的暴露表面。
5.如权利要求3所述的MIM电容器,其中,所述第三导体图形(13A)具有形成有第一阻挡金属膜的侧壁表面,所述第一阻挡金属膜还连续覆盖所述第五导体图形(12A)的侧壁表面和底表面,所述第四导体图形(13B)具有由第二阻挡金属膜覆盖的侧壁表面,所述第二阻挡金属膜连续覆盖所述第六导体图形(12B)的侧壁表面和底表面。
6.如权利要求3所述的MIM电容器,其中,在所述第一层间绝缘膜(11)和所述第二层间绝缘膜(12)之间的界面处形成作为蚀刻停止层的第一绝缘膜,在所述第二层间绝缘膜(12)和所述第三层间绝缘膜(13)之间的界面处形成第二绝缘膜。
7.如权利要求1所述的MIM电容器,其中,所述第五和第六导体图形(12A,12B)由与所述第三和第四导体图形(13A,13B)不同的材料形成。
8.如权利要求7所述的MIM电容器,其中,所述第三和第四导体图形(13A,13B)具有由高熔点金属覆盖的各自的侧壁表面和底表面。
9.如权利要求1所述的MIM电容器,其中,所述第一和第二导体图形(11A,11B)形成梳状电极图形,所述第三和第四导体图形(13A,13B)和所述第五和第六导体图形(12A,12B)形成与所述梳状电极图形相对应的各自的梳状电极图形。
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