[发明专利]氮化物半导体激光器芯片及其制造方法有效

专利信息
申请号: 200810099971.0 申请日: 2008-05-29
公开(公告)号: CN101316026A 公开(公告)日: 2008-12-03
发明(设计)人: 山下文雄;伊藤茂稔;山本秀一郎;川上俊之 申请(专利权)人: 夏普株式会社
主分类号: H01S5/30 分类号: H01S5/30;H01S5/22;H01S5/10;H01S5/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 陈瑞丰
地址: 日本国大*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 氮化物 半导体激光器 芯片 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种氮化物半导体激光器芯片,包括:

氮化物半导体衬底;

多个氮化物半导体层,层叠在所述氮化物半导体衬底的表面上,并包 括有源层;

形成在所述氮化物半导体层上的条带形波导;和

谐振器端面,由被解理的氮化物半导体层与所述氮化物半导体衬底共 同形成,

其中

所述氮化物半导体衬底的主平面是(1-100)面,

所述谐振器端面与所述主平面垂直,以及

在形成所述谐振器端面的解理表面中,至少在所述条带形波导的一 边,形成刻入部分,作为朝向所述氮化物半导体层的表面开口的刻入区域,

其中所述刻入部分相对于解理过程中冲击波传播的方向位于所述条 带形波导的前面,并且

其中所述刻入部分的底面达到位于比所述有源层更靠近所述氮化物 半导体衬底的氮化物半导体层。

2.根据权利要求1所述的氮化物半导体激光器芯片,

其中所述刻入部分被形成为距所述条带形波导的距离大于等于2μm 但小于等于200μm。

3.根据权利要求1所述的氮化物半导体激光器芯片,

其中在所述刻入部分的表面上形成保护膜。

4.根据权利要求1所述的氮化物半导体激光器芯片,

其中沿所述氮化物半导体激光器芯片的谐振器长度方向,仅在所述氮 化物半导体激光器芯片的、包括所述解理表面的一部分中,形成所述刻入 部分,而并未使其从一端完全延伸至另一端。

5.根据权利要求1所述的氮化物半导体激光器芯片,

其中沿所述氮化物半导体激光器芯片的谐振器长度方向,从一端到另 一端形成所述刻入部分,与所述条带形波导平行。

6.根据权利要求1所述的氮化物半导体激光器芯片,

其中作为所述条带形波导,形成多个条带形波导。

7.一种制造氮化物半导体激光器芯片的方法,包括:

将包括有源层在内的多个氮化物半导体层层叠在以(1-100)表面作为 晶体生长主表面的氮化物半导体衬底上;

在所述氮化物半导体层上形成条带形波导;

在所述氮化物半导体层中形成刻入部分,作为朝向所述氮化物半导体 层的表面开口的刻入区域;

在晶片的、形成有所述条带形波导和所述刻入部分的一部分上,形成 作为解理起始点的凹槽;和

沿所述凹槽,向所述晶片施加外力,以形成与所述主表面垂直的解理 表面,

其中在所述条带形波导的一边的解理表面切割位置处,形成所述刻入 部分,

其中所述刻入部分相对于解理过程中冲击波传播的方向位于所述条 带形波导的前面,并且

其中所述刻入部分的底面达到位于比所述有源层更靠近所述氮化物 半导体衬底的氮化物半导体层。

8.根据权利要求7所述的制造氮化物半导体激光器芯片的方法,

其中所述刻入部分被形成为距所述条带形波导的距离大于等于2μm 但小于等于200μm。

9.根据权利要求7所述的制造氮化物半导体激光器芯片的方法,

其中沿所述氮化物半导体激光器芯片的谐振器长度方向,仅在所述氮 化物半导体激光器芯片的、包括所述解理表面的一部分中,形成所述刻入 部分,而并未使其从一端完全延伸至另一端。

10.根据权利要求7所述的制造氮化物半导体激光器芯片的方法,

其中沿所述氮化物半导体激光器芯片的谐振器长度方向,从一端到另 一端形成所述刻入部分,与所述条带形波导平行。

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