[发明专利]氮化物半导体激光器芯片及其制造方法有效
申请号: | 200810099971.0 | 申请日: | 2008-05-29 |
公开(公告)号: | CN101316026A | 公开(公告)日: | 2008-12-03 |
发明(设计)人: | 山下文雄;伊藤茂稔;山本秀一郎;川上俊之 | 申请(专利权)人: | 夏普株式会社 |
主分类号: | H01S5/30 | 分类号: | H01S5/30;H01S5/22;H01S5/10;H01S5/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 陈瑞丰 |
地址: | 日本国大*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 氮化物 半导体激光器 芯片 及其 制造 方法 | ||
1.一种氮化物半导体激光器芯片,包括:
氮化物半导体衬底;
多个氮化物半导体层,层叠在所述氮化物半导体衬底的表面上,并包 括有源层;
形成在所述氮化物半导体层上的条带形波导;和
谐振器端面,由被解理的氮化物半导体层与所述氮化物半导体衬底共 同形成,
其中
所述氮化物半导体衬底的主平面是(1-100)面,
所述谐振器端面与所述主平面垂直,以及
在形成所述谐振器端面的解理表面中,至少在所述条带形波导的一 边,形成刻入部分,作为朝向所述氮化物半导体层的表面开口的刻入区域,
其中所述刻入部分相对于解理过程中冲击波传播的方向位于所述条 带形波导的前面,并且
其中所述刻入部分的底面达到位于比所述有源层更靠近所述氮化物 半导体衬底的氮化物半导体层。
2.根据权利要求1所述的氮化物半导体激光器芯片,
其中所述刻入部分被形成为距所述条带形波导的距离大于等于2μm 但小于等于200μm。
3.根据权利要求1所述的氮化物半导体激光器芯片,
其中在所述刻入部分的表面上形成保护膜。
4.根据权利要求1所述的氮化物半导体激光器芯片,
其中沿所述氮化物半导体激光器芯片的谐振器长度方向,仅在所述氮 化物半导体激光器芯片的、包括所述解理表面的一部分中,形成所述刻入 部分,而并未使其从一端完全延伸至另一端。
5.根据权利要求1所述的氮化物半导体激光器芯片,
其中沿所述氮化物半导体激光器芯片的谐振器长度方向,从一端到另 一端形成所述刻入部分,与所述条带形波导平行。
6.根据权利要求1所述的氮化物半导体激光器芯片,
其中作为所述条带形波导,形成多个条带形波导。
7.一种制造氮化物半导体激光器芯片的方法,包括:
将包括有源层在内的多个氮化物半导体层层叠在以(1-100)表面作为 晶体生长主表面的氮化物半导体衬底上;
在所述氮化物半导体层上形成条带形波导;
在所述氮化物半导体层中形成刻入部分,作为朝向所述氮化物半导体 层的表面开口的刻入区域;
在晶片的、形成有所述条带形波导和所述刻入部分的一部分上,形成 作为解理起始点的凹槽;和
沿所述凹槽,向所述晶片施加外力,以形成与所述主表面垂直的解理 表面,
其中在所述条带形波导的一边的解理表面切割位置处,形成所述刻入 部分,
其中所述刻入部分相对于解理过程中冲击波传播的方向位于所述条 带形波导的前面,并且
其中所述刻入部分的底面达到位于比所述有源层更靠近所述氮化物 半导体衬底的氮化物半导体层。
8.根据权利要求7所述的制造氮化物半导体激光器芯片的方法,
其中所述刻入部分被形成为距所述条带形波导的距离大于等于2μm 但小于等于200μm。
9.根据权利要求7所述的制造氮化物半导体激光器芯片的方法,
其中沿所述氮化物半导体激光器芯片的谐振器长度方向,仅在所述氮 化物半导体激光器芯片的、包括所述解理表面的一部分中,形成所述刻入 部分,而并未使其从一端完全延伸至另一端。
10.根据权利要求7所述的制造氮化物半导体激光器芯片的方法,
其中沿所述氮化物半导体激光器芯片的谐振器长度方向,从一端到另 一端形成所述刻入部分,与所述条带形波导平行。
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