[发明专利]放射性物质检测和X光辐射成像的集成系统和集成方法有效
| 申请号： | 200810102140.4 | 申请日： | 2008-03-18 |
| 公开（公告）号： | CN101539556A | 公开（公告）日： | 2009-09-23 |
| 发明（设计）人： | 阮明;蒲中奇;赵崑;吕君;王小兵;辛喆;苗高峰;贺宇 | 申请（专利权）人： | 同方威视技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N33/00 | 分类号： | G01N33/00;G01N23/00;G01T1/38;G01T1/203;G01T1/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 李亚非;刘 红 |
| 地址： | 100084北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 放射性 物质 检测 光辐射 成像 集成 系统 方法 | ||
1. 一种用于对被检物体进行放射性物质探测和X光辐射检测的系 统，所述系统包括：
X光检测设备，用于对被检物体进行X光辐射成像检查；
放射性物质监测设备，与所述X光检测设备相邻放置，用于检测所 述被检物体发出的放射性射线；
其特征在于，所述放射性物质监测设备在其检测能区内设置用于 区分所检测到的由所述X光检测设备发出的X光射线所处的能量区和 由所述被检物体发出的放射性射线所处的能量区的检测低限，并检测 高于所述检测低限能量区内的射线计数或能谱。
2. 如权利要求1所述的系统，其中所述放射性物质监测设备通过 单道计数器来检测高于所述检测低限的能量区内的射线计数。
3. 如权利要求1所述的系统，其中所述放射性物质监测设备通过 多道脉冲幅度分析器来检测高于所述检测低限的能量区内的射线能 谱。
4. 如权利要求3所述的系统，其中所述放射性物质监测设备通过 数字滤波处理来过滤所述X光检测设备发出的X光射线对能谱造成的 奇变效应。
5. 如权利要求4所述的系统，其中所述数字滤波处理包括利用高 通低阻滤波器来转换能谱。
6. 如权利要求1-5中任一项所述的系统，其中所述检测低限是通 过数字电路根据能量范围限制以及灵敏度要求动态设置的。
7. 一种对被检物体进行放射性物质探测和X光辐射检测的方法， 所述方法包括：
通过X光检测设备对所述被检物体进行X光辐射检测；
通过放射性物质监测设备检测所述被检物体发出的放射性射线；
将所述X光检测设备与所述放射性物质监测设备相邻放置；
其特征在于，在所述放射性物质监测设备的检测能区内设置用于 区分所检测到的由所述X光检测设备发出的X光射线所处的能量区和 由所述被检物体发出的放射性射线所处的能量区的检测低限，并检测 高于所述检测低限能量区内的射线计数或能谱。
8. 如权利要求7所述的方法，其中所述放射性物质监测设备通过 单道计数器来检测高于所述检测低限的能量区内的计数。
9. 如权利要求7所述的方法，其中所述放射性物质监测设备通过 多道脉冲幅度分析器来检测高于所述检测低限的能量区内的能谱。
10. 如权利要求9所述的方法，其中通过数字滤波处理来过滤所述 X光检测设备发出的X光射线对能谱造成的奇变效应。
11. 如权利要求10所述的方法，其中所述数字滤波处理包括利用 高通低阻滤波器来转换能谱。
12. 如权利要求7-11中任一项所述的方法，其中所述检测低限是 通过数字电路根据能量范围限制以及灵敏度要求动态设置的。
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