[发明专利]对多种介质的浓度进行测量的方法和装置

权利要求书

1、一种对多种介质的浓度进行测量的方法，其特征在于，确定待测量区域中的需要测量浓度的多种介质，所述方法具体包括：

获取具有不同波长的多个测量光波在所述待测量区域中的入射光强和透射光强，并且，获取所述多种介质分别在每个所述测量波长下的光强衰减系数；

根据所述获取的入射光强、透射光强和衰减系数信息，同时计算出所述多种介质分别在所述待测量区域中的浓度。

2、根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述多种介质包括：

多种具有不同粒径范围的粉尘；或，至少一种已知粒径范围的粉尘和至少一种气体；或，多种气体。

3、根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定待测量区域中的需要测量浓度的多种介质，具体包括：

确定待测量区域中的需要测量浓度的粉尘的典型粒径，根据该典型粒径将所述粉尘的粒径划分为多种粒径范围，将每种粒径范围的粉尘确定为一种介质；

确定待测量区域中的需要测量浓度的气体的种类，将每种气体确定为一种介质。

4、根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取所述多种介质分别在每个所述测量波长下的衰减系数，具体包括：

确定每种介质在每个测量光波下所发生的光学作用，根据该光学作用和每种介质的性质，获取每种介质在每个测量波长下的衰减系数。

5、根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测量光波的数量不小于所述多种介质的种类。

6、根据权利要求1至5任一项所述的方法，其特征在于，所述根据所述获取的入射光强、透射光强和衰减系数信息，同时计算出所述多种介质在所述待测量区域中的浓度，具体包括：

获取测量光波在所述待测量区域中的有效作用光程，确定测量光波在所述待测量区域中的衰减为每种介质导致该测量光波的衰减总和；

根据所述有效作用光程，以及每个测量光波对应的入射光强、透射光强和每种介质在每个测量波长下的衰减系数，通过设定的计算方法，同时计算出每种介质分别在所述待测量区域中的浓度。

7、根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述设定的计算方法，具体包括：

IOUT1=IIN1exp-(α11c1+α12c2+...+α1ncn)LIOUT2=IIN2exp-(α21c1+α22c2+...+α2ncn)L......IOUTm=IINmexp-(αm1c1+αm2c2+...+αmncn)L......IOUTn=IINnexp-(αn1c1+αn2c2+...+αnncn)L]]>

所述I_IN1，I_IN2，I_INm，I_INn分别为第1、2、m和n个测量光波进入所述待测量区域的入射强度，所述I_OUT1，I_OUT2，I_OUTm，I_OUTn分别为第1、2、m和n个测量光波射出所述待测量区域后的透射强度；

所述α₁₁，α₁₂，α_1n为第1个测量波长下第1，2，n种介质的衰减系数，所述α₂₁，α₂₂，α_2n为第2个测量波长下第1，2，n种介质的衰减系数，所述α_m1，α_m2，α_mn为第m个测量波长下第1，2，n种介质的衰减系数，所述α_n1，α_n2，α_nn为第n个测量波长下第1，2，n种介质的衰减系数；

所述L为测量光波在所述待测量区域中的有效作用光程。