[发明专利]深空X荧光分析方法

权利要求书

1.一种深空X荧光分析方法，可在没有实际标样的条件下对深空行星的荧光数据进行定量分析；其特征为：针对太阳监视器在不同时期测量到的太阳X射线辐射能谱，运用卫星发射前角度定标数据进行角度校正，校正后的能谱作为荧光的激发谱，运用Geant4软件包对已知成分的样品进行蒙特卡洛荧光模拟，采用基于基本参数法编写的程序将模拟得到的荧光能谱作为标准样品谱，与X射线谱仪测量得到行星表面的荧光能谱进行迭代运算，得到行星表面的元素定量结果，再根据卫星轨道数据和探测器的视场设计对测量的荧光数据进行网格划分，得到行星元素成分的空间分布信息。

2.根据权利要求1所述的分析方法，其特征是：所述进行角度校正，是以一个太阳监视器监视激发能谱——太阳X射线辐射能谱，并根据发射前探测器角度定标数据对测量的太阳X射线辐射能谱进行角度修正，克服角度引起的测量误差，得到真实的太阳X射线辐射能谱，以便进行准确的模拟和定量分析。