[发明专利]测试治具的探针无效
| 申请号： | 200810109528.7 | 申请日： | 2008-05-27 |
| 公开（公告）号： | CN101592681A | 公开（公告）日： | 2009-12-02 |
| 发明（设计）人： | 陈彬龙;陈皇志 | 申请（专利权）人： | 祐邦科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073;G01R31/28;G01R31/26 |
| 代理公司： | 上海翼胜专利商标事务所（普通合伙） | 代理人： | 翟 羽 |
| 地址： | 台湾省新竹市光*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 测试 探针 | ||
1.一种探针，是由金属材料制成，装置于一测试治具上；其特征在于：所述探针还包括一导电高分子纳米镀膜，镀于该些探针上。
2.如权利要求1所述的探针，其特征在于：所述导电高分子纳米镀膜包括具有不沾粘性质的一导电性高分子材料。
3.如权利要求2所述的探针，其特征在于：所述导电性高分子材料包括聚吡咯(Polypyrrole)、聚对苯撑乙烯(Polyparaphenylene)、聚噻吩(Polythiophene)、聚苯胺(Polyaniline)或上述群组中至少择一选择的组合物或其衍生物。
4.如权利要求1或3所述的探针，其特征在于：所述导电高分子纳米镀膜的厚度为1～20纳米(nm)。
5.如权利要求1或3所述的探针，其特征在于：所述导电高分子纳米镀膜的厚度为1～10纳米。
6.如权利要求1所述的探针，其特征在于：所述金属材料包括镍、金、铜、钨、铼、钛、铍、具导电性的金属材料或其合金或其金属镀膜。
7.如权利要求6所述的探针，其特征在于：所述合金包括铼钨或铍铜。
8.如权利要求6所述的探针，其特征在于：所述金属材料是铍铜，并且在铍铜的表面上镀金。
9.如权利要求1所述的探针，其特征在于：该些探针的结构可以是一金属微弹簧或一金属线针或金属线针或单头针或双头针。
10.如权利要求1所述的探针，其特征在于：所述导电高分子纳米镀膜是一种化学蒸镀镀膜。
11.如权利要求1所述的探针，其特征在于：所述导电高分子纳米镀膜镀在该些探针的针尖处的表面上。
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