[发明专利]用于指纹比对的系统和方法无效
申请号: | 200810111412.7 | 申请日: | 2008-06-12 |
公开(公告)号: | CN101324921A | 公开(公告)日: | 2008-12-17 |
发明(设计)人: | 尹逸东;权东振 | 申请(专利权)人: | 韩国外国语大学校研究产学协力坛 |
主分类号: | G06K9/00 | 分类号: | G06K9/00;G06K9/62 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人: | 高少蔚;席兵 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 指纹 系统 方法 | ||
1.一种指纹比对系统,包括:
第一细部特征获取单元,适于获取第一指纹的第一细部特征信息;
第二细部特征获取单元,适于获取第二指纹的第二细部特征信息;
网格构造单元,配置成基于所述第一细部特征来构造可变形网格;
网格变换单元,配置成对所述可变形网格的状态进行变换,由此获得 扭曲补偿的第一指纹;以及
匹配确定单元,配置成基于所述扭曲补偿的第一指纹来确定所述第一 指纹是否与所述第二指纹匹配。
2.权利要求1所述的指纹比对系统,其中,所述网格变换单元进一 步配置成根据所述可变形网格的变换后的状态对所述第一细部特征进行 翘曲。
3.权利要求1所述的指纹比对系统,进一步包括:
对应确定单元,配置成确定所述第一细部特征和所述第二细部特征之 间的对应,
其中,所述网格变换单元配置成基于所述对应来对所述可变形网格的 状态进行变换。
4.权利要求1所述的指纹比对系统,其中所述网格构造单元包括:
顶点定位单元,适于确定所述可变形网格中的顶点的位置,使得所述 可变形网格覆盖所述第一细部特征。
5.权利要求4所述的指纹比对系统,其中所述网格构造单元进一步 包括:
边长获取单元,配置成获取连接所述顶点的边的长度,并且
其中,所述顶点定位单元适用于基于所获得的边长来确定所述顶点的 位置。
6.权利要求4所述的指纹比对系统,其中,所述可变形网格的状态 基于所述顶点的位置来限定。
7.权利要求1所述的指纹比对系统,其中,所述可变形网格是被划 分成三角形的二维网格,该网格具有以六角形方式连接的顶点。
8.权利要求1所述的指纹比对系统,其中,所述第一细部特征和所 述第二细部特征包括纹线末端和纹线分叉中的至少一种。
9.一种用于补偿输入指纹的表面扭曲的系统,包括:
输入细部特征获取单元,适于获取输入指纹的输入细部特征信息;
网格构造单元,配置成在所述输入细部特征上构造可变形网格;
网格变换单元,配置成对所述可变形网格的状态进行变换,由此来补 偿所述输入指纹的表面扭曲。
10.权利要求9所述的系统,进一步包括:
模板细部特征获取单元,配置成获取模板指纹的模板细部特征信息; 以及
对应确定单元,配置成确定所述输入细部特征和所述模板细部特征之 间的对应,并且
其中,所述网格变换单元进一步配置成基于所述对应来对所述可变形 网格的状态进行变换。
11.一种指纹比对方法,包括:
(a)获取第一指纹的细部特征和第二指纹的细部特征;
(b)得到所述第一指纹的细部特征和所述第二指纹的细部特征之间 的对应;
(c)在所述第一指纹的细部特征上构造可变形网格;
(d)基于所述对应来对所述可变形网格进行变换,以便获得扭曲补 偿的第一指纹;以及
(e)基于所述扭曲补偿的第一指纹来确定所述第一指纹是否与所述 第二指纹匹配。
12.权利要求11所述的指纹比对方法,其中操作(d)包括:
(d1)对所述可变形网格进行变换,以便对能量进行最小化,其中, 所述能量被定义成根据所述可变形网格的变形而增加,并且当由于所述变 换而使对应的细部特征接近时减小。
13.权利要求12所述的指纹比对方法,其中操作(d1)包括:
(d11)以解析方式来计算所述能量的一阶导数;
(d12)以解析方式来计算所述能量的二阶导数;以及
(d13)基于所述一阶导数和所述二阶导数对所述可变形网格进行变 换。
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