[发明专利]一种对触摸屏进行检测的方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及电子技术领域，尤其涉及一种对触摸屏进行检测的方法及装置。

背景技术

触摸屏技术是未来人机交互的一种主要输入方式，会逐渐淘汰键盘和鼠标等输入工具，而多点触摸(Multitouch)技术又是这一领域更具有吸引力的一个亮点，但这一技术大多使用光学原理对触摸屏进行检测的技术，成本太高，是目前大多数用户所不能接受的。

传统的4线电阻式触摸屏包括X层和Y层两个导电层面板，其使用模式如图1所示，其中，R1和R3表示X导电层被分成的两部分的等效电阻，R4和R6表示Y导电层被分成的两部分的等效电阻。通过4次或3次的测量方式可以得到电阻R3、R6和Rz的值，其中，Rz表示由于触摸所产生的电阻值。

所述的4次测量方式如下：

测量一、Xp接正电压Vref+，Xn接负电压Vref-，Yp和Yn浮空，测量Yp的电压值V3，则可得R3＝V3/4096*Rxplate，其中，Rxplate是X导电层的总电阻，4096表示12bit精度的模拟数字(AD)转换器的测量等级。如果精度是10bit，则可以区分1024个等级。

测量二、与测量一同理，接Yp正电压Vref+，Yn接负电压Vref-，Xp和Xn浮空，测量Xp的电压值V1，则可得R6＝V1/4096*Ryplate，其中，Ryplate是Y导电层的总电阻。

测量三、Yp接Vref+，Xn接Vref-，Xp和Yn浮空，测量Xp的电压值V5。

测量四、Yp接Vref+，Xn接Vref-，Xp和Yn浮空，测量Yn的电压值V6。则可得Rz＝R3*(V6/V5-1)。

所述的3次测量方式如下：

测量一、Xp接Vref+，Xn接Vref-，Yp和Yn浮空，测量Yp的电压值V3，则可得R3＝V3/4096*Rxplate。

测量二、同理，Yp接Vref+，Yn接Vref-，Xp和Xn浮空，测量Xp的电压值V1，则可得R6＝V1/4096*Ryplate。

测量三、Yp接Vref+，Xn接Vref-，Xp和Yn浮空，测量Xp的电压值V5，则可得Rz＝R3*(4096/V5-1)-R4。

也就是说，传统的4线制电阻式触摸屏系统是通过在X方向(X导电层)的电极对上施加一确定的电压，而Y方向(Y导电层)电极对上不加电压时，在X平行电压场中，触点处的电压值可以在Yp电极上反映出来，通过测量Yp电极对地的电压大小，便可得知触点的X坐标值Xposition。同理，当在Y电极对上加电压，而X电极对上不加电压时，通过测量Xp电极的电压，便可得知触点的Y坐标Yposition。即由于X导电层和Y导电层的电阻是线性分布的，因此可以得到触摸点的位置。如图2所示，为现有的4线电阻式触摸屏的AD转换器的内部测试Xposition方式示意图，当测量Xposition的时候，Yp接Vref+，Xn接Vref-，测量Xn电压可得Xposition的信息；如图3所示，为现有的4线电阻式触摸屏的AD转换器的内部测试Yposition方式示意图，当测量Yposition的时候，Xp接Vref+，Xn接Vref-，测量Yn电压可得Yposition的信息。

但是，现有技术仅支持对4线制电阻式触摸屏的单点触摸的检测，无法实现对4线制电阻式触摸屏的多点触摸的检测。

发明内容

本发明实施例提供了一种对触摸屏进行检测的方法及装置，用以检测4线制电阻式触摸屏上的多个触摸点的运动趋势。

本发明实施例提供的一种对触摸屏进行检测的方法包括：

通过比较触摸屏的两个导电层不同两端的电压值，确定所述触摸屏上的各个触摸点的所处区域；并且，

根据所述触摸屏的两个导电层不同两端的电压值，确定所述触摸屏上的各个触摸点在所处区域内的运动趋势信息。

本发明实施例提供的一种对触摸屏进行检测的装置包括：

区域判定单元，用于通过比较触摸屏的两个导电层不同两端的电压值，确定所述触摸屏上的各个触摸点的所处区域；

运动趋势判定单元，用于根据所述触摸屏的两个导电层不同两端的电压值，确定所述触摸屏上的各个触摸点在所处区域内的运动趋势信息。