[发明专利]偏振相关损耗标准器

说明书

技术领域

本发明主要涉及一种新型偏振相关损耗标准器，特别是支持偏振相关损耗测量仪现场校准用偏振相关损耗标准器。

背景技术

随着高速、大容量光通信网络的发展，偏振相关的损害成为阻碍光纤通信密集波分复用系统传输速率升级的主要因素之一。偏振相关损害主要是由光无源器件本身及连接光纤的缺陷造成的，在理想化的光无源器件中，传输光的偏振态不会发生变化。而在实际使用的光无源器件及标准光纤中，传输光的偏振态会由于传输过程中所受到温度变化，机械压力和光无源器件结构导致的随机双折射影响，使出射光是的偏振态及偏振度不断变化，且主轴同参考方向成任意角度。要保证光传输网络的正常工作，首先要对该系统各个光无源器件的PDL进行精确测量。

光器件的偏振相关损耗定义为输入光所有可能存在的偏振态下，器件的最大与最小插入损耗之差。偏振相关损耗标准测量基本可分为两大类：偏振扫描法和穆勒矩阵法。偏振扫描方法是一种基于实际的最小和最大传输测量值的偏振态不确定方法。在测试中，被测期间通过多种偏振状态输入光进行测量，这些偏振态可以是沿邦佳球的定义轨迹确定性地生成的也可以是通过伪随机法生成覆盖全部邦佳球偏振态。穆勒矩阵可以通过测量被测设备在四个定义好的偏振状态下的传输特性而获得。测试包括线性水平、线性垂直、线性+45和右循环偏振光状态，进而计算出被测器件的PDL。

在实验室条件下可以利用上述两种方法进行偏振相关损耗的测量并进行偏振相关损耗仪的校准检测，但随着光通信技术的不断发展，振相关损耗仪日益广泛应用于生产过程中，对振相关损耗仪的现场快速检测需求日益增加，因此急需一种偏振相关损耗标准器进行现场检测及量值传递。在实际检测过程中，首先通过国家计量基标准对偏振相关损耗标准器的偏振相关损耗值进行准确测量，然后将其连接到被检仪表上，读取该仪表的偏振相关损耗测量值，将该值与标准值相比较，从而计算得出该仪表的示值误差。

发明内容

本发明的目的在于提供了一种新型偏振相关损耗标准器，其具有以下优点：

1、采用波导器件结构，制备方法简单，体积小，成本低。

2、采用光纤耦合方式，能够直接与被测设备连接，测试效率高。

3、采用不同标称值的一系列偏振相关损耗标准器，能够完成在较大测量范围内的被测设备的检测校准工作。

本发明提供一种偏振相关损耗标准器，其特征在于，包括：

一输入光纤；

一脊型波导，该脊型波导的两个端面具有隔离槽，该脊型波导一端的端面与输入光纤连接；

一输出光纤，该输出光纤与脊型波导的另一端的端面连接。

其中所述的脊型波导包括：

一SiO₂绝缘层；

一脊型波导层，该脊型波导层制作在SiO₂绝缘层上，该脊型波导层靠近中间的部位形成有一隔离槽，该隔离槽的一侧为平坦状，另一侧为台阶状；

一Si衬底层，该Si衬底层制作在脊型波导的底面。

其中所述的脊型波导层上的隔离槽的底部为脊型波导的表面。

其中所述的脊型波导层上的隔离槽的底部高于脊型波导的表面。

其中所述的脊型波导包括：

一SiO₂绝缘层；

一脊型波导层，该脊型波导层制作在SiO₂绝缘层上，该脊型波导层断面的形状为山字形，中间部位的两侧形成有隔离槽，该隔离槽的底部高于脊型波导的表面；

一Si衬底层，该衬底层制作在脊型波导的底面。

其中所述的脊型波导的材料为SOI材料或GeSi材料或III-V族材料。

其中所述的输入光纤和输出光纤是采用单模标准光纤或采用多模光纤或者保偏光纤。

其中所述的输入光纤和输出光纤的尾端是采用FC/PC或FC/APC或ST接头。

附图说明

为了进一步说明本发明的特征和效果，下面结合附图和实施例对本发明做进一步的说明，其中：

图1为偏振相关损耗标准器连接结构示意图；

图2为单侧完全开槽型偏振相关损耗标准器波导结构示意图。

图3为单侧部分开槽型偏振相关损耗标准器波导结构示意图。

图4为双侧开槽型偏振相关损耗标准器波导结构示意图。

具体实施方式

首先请参阅图1，图1是描述偏振相关损耗标准器连接结构示意图。本发明一种偏振相关损耗标准器，包括：

一输入光纤10；