[发明专利]数据序列的检测方法及从数据序列中恢复信息的方法有效

专利信息
申请号: 200810114068.7 申请日: 2008-05-30
公开(公告)号: CN101594200A 公开(公告)日: 2009-12-02
发明(设计)人: 李明;杨立吾;刘飞 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
主分类号: H04L1/00 分类号: H04L1/00;H03M5/14
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人: 李 丽
地址: 100176北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 数据 序列 检测 方法 恢复 信息
【权利要求书】:

1.一种数据序列的检测方法,所述数据序列包括前导部分、数据主体与结 束部分,所述数据主体中,相邻码元间的状态变化符合编码规则;其特征在 于,包括:

当接收到所述数据序列时,对该数据序列的各个码元进行侦测,获取相 邻码元之间的状态变化;

根据相邻码元之间的状态变化,检测出违反所述编码规则的码元,所述 码元即为结束部分中用于表征所述数据主体结束的破坏位,所述结束部分中 包括多位破坏位,以及包括多位破坏位的字符串所组群组中的任一者。

2.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,对数据序列的各个码元 进行侦测具体包括:

对接收的数据序列的各个码元进行侦测,获取各个码元在周期内电平的 状态变化特征;

根据所述编码规则及各个码元在周期内电平的状态变化特征,判断得到 所述各个码元的逻辑位状态。

3.根据权利要求2所述的检测方法,其特征在于,检测出违反所述编码规 则的码元包括:

根据所述编码规则及各个码元的逻辑位状态,判断所述数据序列中相邻 码元之间的逻辑位状态变化是否符合所述编码规则;

当判断得到数据序列中某相邻码元之间的逻辑位状态变化违反所述编码 规则时,即确定该违反所述编码规则的码元为结束部分中用于表征所述数据 主体结束的破坏位,并将所述破坏位检测出。

4.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,所述多位破坏位为连续 设置或离散设置。

5.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,所述编码规则是双相空 号或双相标记编码,所述编码规则包括有码元状态转换中在任一码元的边界 具有电平跳变的规定。

6.根据权利要求5所述的检测方法,其特征在于,所述破坏位的逻辑位与 双相空号或双相标记编码规则中码元的逻辑位相同,其逻辑位是“0”或“1”。

7.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,所述编码规则是米勒编 码,所述编码规则规定当且仅当逻辑位为“0”的码元连续排列时在所述逻辑 位为“0”的二相邻码元的边界才具有电平跳变。

8.根据权利要求7所述的检测方法,其特征在于,所述破坏位的逻辑位与 米勒编码规则中码元的逻辑位相同,其逻辑位是“0”。

9.一种从数据序列中恢复信息的方法,所述数据序列包括前导部分、数据 主体与结束部分,所述数据主体中,相邻码元间的状态变化符合编码规则; 其特征在于,包括:

接收数据序列,并对所述数据序列进行侦测,获取相邻码元之间的状态 变化;

根据相邻码元之间的状态变化,检测出违反所述编码规则的码元,所述 码元即为结束部分中用于表征所述数据主体结束的破坏位,所述结束部分中 包括多位破坏位,以及包括多位破坏位的字符串所组群组中的任一者;

根据所述破坏位,自所述数据序列中提取出数据主体,并对所述数据主 体进行解码以恢复信息。

10.根据权利要求9所述的恢复信息的方法,其特征在于,对接收的数据序 列进行侦测并检测出所述破坏位更具体包括:

对接收的数据序列的各个码元进行侦测,获取各个码元在周期内电平的 状态变化特征;

根据所述编码规则及各个码元在周期内电平的状态变化特征,判断得到 所述各个码元的逻辑位状态;

根据所述编码规则及各个码元的逻辑位状态,判断所述数据序列中相邻 码元之间的逻辑位状态变化是否符合所述编码规则;

当判断得到数据序列中某相邻码元之间的逻辑位状态变化违反所述编码 规则时,即确定该违反所述编码规则的码元为结束部分中用于表征所述数据 主体结束的破坏位,并将所述破坏位检测出。

11.根据权利要求9所述的恢复信息的方法,其特征在于,所述多位破坏位 为连续设置或离散设置。

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