[发明专利]全光纤型光波粒二象性测量装置无效
| 申请号： | 200810114201.9 | 申请日： | 2008-06-02 |
| 公开（公告）号： | CN101281064A | 公开（公告）日： | 2008-10-08 |
| 发明（设计）人： | 马海强;于丽 | 申请（专利权）人： | 北京邮电大学 |
| 主分类号： | G01J11/00 | 分类号： | G01J11/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100876*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 光纤 光波 二象性 测量 装置 | ||
【权利要求书】：
1.全光纤型光波粒二象性测量装置其特征在于：包括依次连接的单光子源1、光环型器2、X型光分路/合路器3。其中单光子源1的输出端连接光环型器2的同向输入端2a；光环型器2的同向输出端2b连接X型光分路/合路器3的尾纤端口3a；光环型器2的反向输出端2c、X型光分路/合路器3的尾纤端口3b可同时悬空，也可同时分别连接单光子探测计数器A、B；X型光分路/合路器3的尾纤端口3c、3d可同时分别连接单光子探测计数器A、B，也可直接相连接。
2.如权利要求(1)的所述的全光纤型光波粒二象性测量装置其特征在于：单光子源1可以是真单光子源也可以是由衰减激光光脉冲而获得的近似单光子源。
3.如权利要求(1)的所述的全光纤型光波粒二象性测量装置其特征在于：X型光分路/合路器3分光比是50∶50。
4.如权利要求(1)的所述的全光纤型光波粒二象性测量装置其特征在于：测量光的波动性时，将X型光分路/合路器3的尾纤端口3c、3d直接相连接，光环型器2的反向输出端2c、X型光分路/合路器3的尾纤端口3b尾纤端口同时分别连接单光子探测计数器A、B；观测光的粒子性时，将X型光分路/合路器3的尾纤端口3c、3d分别连接单光子探测计数器A、B，同时将单光子探测计数器A、B的输出信号做符合观测。
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